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文档简介

2025年六西格玛绿带A阶段试卷含答案一、单项选择题(每题2分,共20分)1.在分析阶段验证两个独立样本均值是否存在显著差异时,若总体标准差未知且样本量均小于30,应优先选择的检验方法是()A.Z检验B.单样本t检验C.双样本t检验(等方差假设)D.卡方检验答案:C2.某团队使用单因素方差分析(ANOVA)比较三个供应商的原材料强度,得到F统计量为3.85,临界值F0.05(2,27)=3.35,此时结论应为()A.三个供应商强度均值全相等B.至少有两个供应商强度均值不等C.所有供应商强度均值都不等D.无法判断答案:B3.回归分析中,若残差的正态概率图呈现明显的曲线趋势,最可能的问题是()A.存在异方差B.模型遗漏关键变量C.残差服从正态分布D.自变量间存在多重共线性答案:B4.过程能力分析中,当CPK=1.2时,通常认为过程能力()A.不足(需改进)B.充足(可接受)C.过剩(需降低成本)D.无法判断答案:B5.假设检验中,P值=0.03(显著性水平α=0.05),结论是()A.拒绝原假设,差异不显著B.不拒绝原假设,差异显著C.拒绝原假设,差异显著D.不拒绝原假设,差异不显著答案:C6.非参数检验(如Mann-WhitneyU检验)适用于以下哪种场景?()A.数据服从正态分布且方差齐性B.数据为分类变量且样本量小C.数据分布未知或严重偏态D.检验两个总体的方差是否相等答案:C7.箱线图中,上下whisker的默认计算方式是()A.最大值和最小值B.四分位数范围(IQR)的1.5倍C.均值±1.96倍标准差D.中位数±2倍标准差答案:B8.相关系数r=0.85表示两个变量之间()A.弱正相关B.强正相关C.弱负相关D.强负相关答案:B9.假设检验中,I型错误(α错误)是指()A.原假设为真时拒绝原假设B.原假设为假时不拒绝原假设C.备择假设为真时拒绝备择假设D.备择假设为假时不拒绝备择假设答案:A10.分析阶段使用FMEA(失效模式与影响分析)时,关键评估指标不包括()A.严重度(S)B.频度(O)C.检测度(D)D.复杂度(C)答案:D二、简答题(每题6分,共30分)1.简述在分析阶段选择假设检验方法时需要考虑的关键因素。答案:需考虑以下因素:(1)数据类型(连续型/离散型);(2)总体分布(正态/非正态);(3)样本量大小;(4)比较的对象(单样本/双样本/多样本);(5)方差是否齐性(针对t检验/ANOVA);(6)检验目的(均值/比例/方差差异)。例如,连续型数据、正态分布、小样本、双独立样本且方差齐性时选双样本t检验;非正态分布时选Mann-WhitneyU检验。2.说明单因素方差分析(One-WayANOVA)的基本假设和检验逻辑。答案:基本假设:(1)各样本独立;(2)各总体服从正态分布;(3)各总体方差齐性(方差相等)。检验逻辑:通过比较组间变异(不同处理组均值差异)与组内变异(同一处理组内随机误差)的比值(F统计量),判断是否存在至少一个组的均值与其他组有显著差异。若F统计量大于临界值(或P<α),则拒绝原假设(所有组均值相等),认为至少有两个组均值不等。3.回归分析中,如何判断是否存在多重共线性?若存在应如何处理?答案:判断方法:(1)计算方差膨胀因子(VIF),VIF>5或>10提示存在多重共线性;(2)观察自变量间的相关系数,若|r|>0.8则可能存在;(3)回归系数符号与预期矛盾或显著水平异常。处理方法:(1)剔除高度相关的自变量;(2)合并相关变量(如主成分分析);(3)增加样本量;(4)使用岭回归等正则化方法。4.过程能力分析前需要确认哪些前提条件?简述CP与CPK的区别。答案:前提条件:(1)过程处于统计控制状态(无特殊原因波动);(2)数据服从正态分布(或已进行数据转换);(3)规格限为双侧且合理(无单边规格时需调整)。CP(过程能力指数)衡量过程潜在能力(不考虑中心偏移),公式为(USL-LSL)/(6σ);CPK(过程能力指数)衡量过程实际能力(考虑中心偏移),公式为min[(USL-μ)/(3σ),(μ-LSL)/(3σ)]。CPK≤CP,当过程均值与规格中心重合时,CPK=CP。5.分析阶段使用散点图可以获取哪些信息?举例说明其应用场景。答案:散点图可获取:(1)变量间的相关方向(正/负相关);(2)相关强度(点的分布密集度);(3)是否存在线性/非线性关系;(4)异常值或离群点。应用场景:例如,分析温度(X)与产品合格率(Y)的关系,若散点图呈现明显上升趋势,可初步判断温度升高可能提高合格率;若点分布分散且无规律,则说明温度可能不是关键因素。三、计算题(每题10分,共40分)1.某电子厂生产的电池标称平均续航时间为12小时。随机抽取25节电池测试,样本均值为11.5小时,样本标准差为0.8小时。假设续航时间服从正态分布,α=0.05,检验该厂电池实际平均续航是否低于标称值。答案:①假设:H0:μ≥12,H1:μ<12(单侧检验)②计算t统计量:t=(x̄-μ)/(s/√n)=(11.5-12)/(0.8/√25)=(-0.5)/(0.16)=-3.125③自由度df=25-1=24,单侧α=0.05的临界值t0.05(24)=-1.711(查表)④比较:t=-3.125<-1.711,P<0.05结论:拒绝H0,认为实际平均续航低于标称值。2.某车间用两种工艺生产零件,工艺A抽取10个样本,均值为20.5mm,标准差0.6mm;工艺B抽取12个样本,均值为19.8mm,标准差0.7mm。假设两总体方差齐性,α=0.05,检验两种工艺的零件均值是否有显著差异。答案:①假设:H0:μA=μB,H1:μA≠μB(双侧检验)②计算合并方差:Sp²=[(nA-1)SA²+(nB-1)SB²]/(nA+nB-2)=[(9×0.36)+(11×0.49)]/(20)=(3.24+5.39)/20=8.63/20=0.4315③标准误SE=√(Sp²/nA+Sp²/nB)=√(0.4315/10+0.4315/12)=√(0.04315+0.03596)=√0.07911≈0.281④t统计量=(20.5-19.8)/0.281≈2.49⑤自由度df=10+12-2=20,双侧α=0.05临界值t0.025(20)=2.086⑥比较:t=2.49>2.086,P<0.05结论:拒绝H0,两种工艺均值有显著差异。3.某公司收集了三个班次(早、中、晚)的产品缺陷率数据(%):早班(5,3,4,6),中班(2,1,3,2),晚班(7,5,6,8)。α=0.05,检验不同班次的缺陷率是否有显著差异(要求计算组间平方和、组内平方和、F统计量)。答案:①计算各班组均值:早班x̄1=(5+3+4+6)/4=4.5;中班x̄2=(2+1+3+2)/4=2;晚班x̄3=(7+5+6+8)/4=6.5总均值x̄=(4.5×4+2×4+6.5×4)/12=(18+8+26)/12=52/12≈4.333②组间平方和SSB=4×(4.5-4.333)²+4×(2-4.333)²+4×(6.5-4.333)²=4×(0.0279)+4×(5.444)+4×(4.694)=0.1116+21.776+18.776≈40.6636③组内平方和SSW=Σ(每个数据-班组均值)²:早班:(5-4.5)²+(3-4.5)²+(4-4.5)²+(6-4.5)²=0.25+2.25+0.25+2.25=5中班:(2-2)²+(1-2)²+(3-2)²+(2-2)²=0+1+1+0=2晚班:(7-6.5)²+(5-6.5)²+(6-6.5)²+(8-6.5)²=0.25+2.25+0.25+2.25=5SSW=5+2+5=12④均方MSB=SSB/(k-1)=40.6636/2≈20.3318;MSW=SSW/(n-k)=12/(12-3)=12/9≈1.3333⑤F=MSB/MSW≈20.3318/1.3333≈15.25⑥临界值F0.05(2,9)=4.26(查表),F=15.25>4.26,P<0.05结论:不同班次缺陷率有显著差异。4.某化工企业收集了反应温度(X,℃)与产量(Y,kg)的10组数据,计算得:ΣX=500,ΣY=800,ΣXY=41000,ΣX²=26000,ΣY²=65000。要求:(1)计算相关系数r;(2)建立简单线性回归方程Ŷ=a+bX。答案:(1)相关系数r=[nΣXY-ΣXΣY]/√[(nΣX²-(ΣX)²)(nΣY²-(ΣY)²)]n=10,代入数据:分子=10×41000-500×800=410000-400000=10000分母=√[(10×26000-500²)(10×65000-800²)]=√[(260000-250000)(650000-640000)]=√[(10000)(10000)]=10000r=10000/10000=1(完全正相关)(2)回归系数b=[nΣXY-ΣXΣY]/[nΣX²-(ΣX)²]=10000/10000=1均值x̄=500/10=50,ȳ=800/10=80截距a=ȳ-bx̄=80-1×50=30回归方程:Ŷ=30+1X四、案例分析题(20分)某汽车零件厂生产的转向节关键尺寸要求为25±0.5mm(即LSL=24.5mm,USL=25.5mm)。团队在分析阶段收集了100个样本数据,计算得样本均值=25.1mm,样本标准差=0.15mm,且数据正态性检验通过(p=0.23>0.05)。同时,团队怀疑尺寸波动与设备型号(A、B、C)有关,收集了三种设备各30个样本的均值:A=25.0mm,B=25.2mm,C=25.1mm,方差分析显示P=0.01<0.05。问题:1.计算该过程的CP和CPK,判断过程能力等级。2.针对设备型号的影响,下一步应采取什么分析措施?3.若客户要求将缺陷率降低至0.27%(即±3σ),当前过程是否满足?说明理由。答案:1.CP=(USL-LSL)/(6σ)=(25.5-24.5)/(6×0.15)=1/0.9≈1.11CPK=min[(USL-μ)/(3σ),(μ-LSL)/(3σ)]=min[(25.5-25.1)/(0.45),(25.1-24.5)/0.45]=min[0.4/0.45,0.6/0.45]=min[0.89,1.33]=0.89CPK=0.89<1.0,过程能力等级为“不足”(需改进)。2.方差分析已显示设备型号对尺寸有显著影响(P=0.0

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