GB/T 44937.1-2025集成电路电磁发射测量第1部分:通用条件和定义

ICS31200

CCSL.56

中华人民共和国国家标准

GB/T449371—2025/IEC61967-12018

.:

集成电路电磁发射测量

第1部分通用条件和定义

:

Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticemissions—

Part1Generalconditionsanddefinitions

:

IEC61967-12018IDT

(:,)

2025-12-31发布2026-07-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T449371—2025/IEC61967-12018

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

试验条件

4…………………4

通则

4.1…………………4

环境条件

4.2……………5

试验设备

5…………………5

通则

5.1…………………5

屏蔽

5.2…………………5

测量仪器

5.3RF…………………………5

频率范围

5.4……………6

前置放大器或衰减器

5.5………………6

系统增益

5.6……………7

其他部件

5.7……………7

试验布置

6…………………7

通则

6.1…………………7

试验电路板

6.2…………………………7

引脚负载

6.3IC…………………………7

电源要求试验板电源

6.4———…………8

的特殊考虑

6.5IC………………………8

试验程序

7…………………8

环境噪声检查

7.1RF…………………8

运行检查

7.2……………9

具体程序

7.3……………9

试验报告

8…………………9

通则

8.1…………………9

环境噪声

8.2RF………………………9

器件的描述

8.3…………………………9

布置的描述

8.4…………………………9

软件的描述

8.5…………………………9

数据表示

8.6……………9

Ⅰ

GB/T449371—2025/IEC61967-12018

.:

发射限值

8.7RF………………………10

结果说明

8.8……………10

附录资料性试验方法比较

A()…………11

附录资料性计数器试验代码的流程图

B()……………13

附录资料性最坏情况应用软件的描述

C()……………14

附录资料性通用试验板的描述

D()……………………15

概述

D.1…………………15

板的描述机械方面

D.2———……………15

板的描述电气方面

D.3———……………17

地平面

D.4………………17

封装引脚

D.5……………17

过孔直径

D.6……………17

过孔距离

D.7……………18

附加的元器件

D.8………………………18

电源去耦

D.9……………18

负载

D.10I/O…………………………18

参考文献

……………………19

Ⅱ

GB/T449371—2025/IEC61967-12018

.:

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是集成电路电磁发射测量的第部分已经发布了以下

GB/T44937《》1。GB/T44937

部分

:

第部分通用条件和定义

———1:;

第部分辐射发射测量小室和宽带小室法

———2:TEMTEM;

第部分辐射发射测量表面扫描法

———3:;

第部分传导发射测量直接耦合法

———4:1Ω/150Ω;

第部分传导发射测量工作台法拉第笼法

———5:;

第部分传导发射测量磁场探头法

———6:;

第部分辐射发射测量带状线法

———8:IC。

本文件等同采用集成电路电磁发射测量第部分通用条件和定义

IEC61967-1:2018《1:》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出

。

本文件由全国集成电路标准化技术委员会归口

(SAC/TC599)。

本文件起草单位中国电子技术标准化研究院南京容向测试设备有限公司北京智芯微电子科技

:、、

有限公司北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司厦门海诺达科学仪器有限公司天津先进技术

、、、

研究院广州致远电子股份有限公司中山大学工业和信息化部电子第五研究所中国家用电器研究

、、、、

院中国汽车工程研究院股份有限公司中国科学院空间应用工程与技术中心中国信息通信研究院

、、、、

天津大学中国合格评定国家认可中心中家院北京检测认证有限公司长沙汽车电器检测中心有限

、、()、

责任公司重庆赛力斯新能源汽车设计院有限公司深圳市立高通科技有限公司安波福电气系统有限

、、、

公司奇瑞新能源汽车股份有限公司浙江宏禧科技有限公司广州金升阳科技有限公司广东源泉科技

、、、、

有限公司四川永贵科技有限公司苏州瑞可达连接系统股份有限公司茵诺特斯科技重庆有限公司

、、、()。

本文件主要起草人崔强付君李齐邢立文张红丽朱赛方文啸叶畅徐蛟原义栋张艳艳

:、、、、、、、、、、、

李焕然康志能陈勇志邵鄂李晓智孙莉王紫任刘佳刘璟轩黄利周沛杜永亿谢萱萱王飞

、、、、、、、、、、、、、、

郑云尹向阳冯鸣向晓东方海峰黄发刚

、、、、、。

Ⅲ

GB/T449371—2025/IEC61967-12018

.:

引言

为规范集成电路电磁发射测量以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁发射测量方法

,,

集成电路电磁发射测量规定了集成电路电磁发射测量的通用条件定义和不同测量方

GB/T44937《》、

法的试验程序和试验要求拟由个部分构成

,9。

第部分通用条件和定义目的在于规定集成电路电磁发射测量的通用条件和定义

———1:。。

第部分通用条件和定义近场扫描数据交换格式目的在于规定近场扫描数据交换

———1-1:。

格式

。

第部分辐射发射测量小室和宽带小室法目的在于规定小室和宽带

———2:TEMTEM。TEM

小室法的试验程序和试验要求

TEM。

第部分辐射发射测量表面扫描法目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求

———3:。。

第部分传导发射测量直接耦合法目的在于规定直接耦合法的

———4:1Ω/150Ω。1Ω/150Ω

试验程序和试验要求

。

第部分传导发射测量直接耦合法应用指南目的在于给出直

———4-1:1Ω/150Ω。1Ω/150Ω

接耦合法应用指导

。

第部分传导发射测量工作台法拉第笼法目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序

———5:。

和试验要求

。

第部分传导发射测量磁场探头法目的在于规定磁场探头法的试验程序和试验要求

———6:。。

第部分辐射发射测量带状线法目的在于规定带状线法的试验程序和试验要求

———8:IC。IC。

Ⅳ

GB/T449371—2025/IEC61967-12018

.:

集成电路电磁发射测量

第1部分通用条件和定义

:

1范围

本文件提供了集成电路的传导和辐射电磁发射测量的通用信息和定义同时也给出了试验条件试

,、

验设备试验布置试验程序和试验报告内容的描述附录中给出了试验方法的对照表以帮助选择

、、。A,

适当的测量方法

。

本文件的目的是描述通用条件建立一个统一的测试环境以定量测量来自集成电路的射频

,(IC)

骚扰本文件描述了影响试验结果的关键参数若与本文件的描述有所偏离需在试验报告中明

(RF)。。,

确注明测量结果能用于产品比较或其他用途

。。

通过对受控条件下产生的辐射射频骚扰或传导射频发射的电压和电流的测量获得应用过

IC,IC

程中可能产生的射频骚扰信息

。

的每个部分规定了所适用的频率范围

IEC61967。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件