标准解读

《GB/T 44937.5-2025 集成电路 电磁发射测量 第5部分:传导发射测量 工作台法拉第笼法》这一标准主要针对集成电路在正常工作条件下,通过导线或其他连接方式向外部环境传播的电磁干扰进行测量。该标准特别强调了使用工作台法拉第笼作为测试手段的重要性,以确保能够准确地评估集成电路产生的传导发射水平。

标准详细规定了测试环境的要求,包括但不限于法拉第笼的设计、尺寸以及材料选择等方面,旨在提供一个屏蔽效果良好且稳定的测试空间,从而减少外界电磁场对测试结果的影响。此外,还明确了测试设备的选择与配置要求,比如频谱分析仪等关键仪器的技术参数,保证测试数据的有效性和可靠性。

对于被测集成电路样品,标准也提出了具体的准备步骤和条件设定,如电源电压等级、负载情况等,这些都是为了模拟实际应用场景下IC的工作状态,使得测试结果更加贴近真实情况。同时,标准中还包含了详细的测试流程指导,从初步设置到最终读数记录,每一步骤都有明确的操作指南,帮助测试人员顺利完成整个过程。

最后,该文件还讨论了如何处理及分析收集到的数据,包括背景噪声扣除方法、重复性验证等环节,确保最终得出的结论具有较高的可信度。通过遵循此标准规定的各项要求,可以有效提高集成电路产品在电磁兼容性方面的性能表现,为后续设计优化或质量控制提供科学依据。


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....

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  • 即将实施
  • 暂未开始实施
  • 2025-12-31 颁布
  • 2026-07-01 实施
©正版授权
GB/T 44937.5-2025集成电路电磁发射测量第5部分:传导发射测量工作台法拉第笼法_第1页
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文档简介

ICS31200

CCSL.56

中华人民共和国国家标准

GB/T449375—2025

.

集成电路电磁发射测量第5部分

:

传导发射测量工作台法拉第笼法

Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticemissions—

Part5Measurementofconductedemissions—WorkbenchFaradaCaemethod

:yg

2025-12-31发布2026-07-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T449375—2025

.

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

通则

4………………………1

测量原理

4.1……………1

布置原理

4.2……………2

工作台方法

4.3…………………………2

试验条件

5…………………2

试验设备

6…………………2

试验布置

7…………………3

通则

7.1…………………3

屏蔽和环境场强

7.2……………………3

工作台布置

7.3…………………………3

的连接

7.4PCB…………………………3

共模点

7.5………………4

发射限值

7.6……………4

工作台法拉第笼具体实现

7.7———……………………4

试验

7.8PCB……………5

试验程序

8…………………5

试验报告

9…………………5

通则

9.1…………………5

发射判据

9.2……………5

发射电平

9.3……………6

附录资料性共模阻抗

A()………………7

附录规范性工作台法拉第笼详细规范

B()(WBFC)…………………8

机械参数

B.1……………8

网络校准

B.2150Ω……………………9

附录资料性工作台的使用

C()…………12

工作台描述

C.1…………………………12

噪声源描述

C.2…………………………12

附录资料性限值推导

D()………………14

参考文献

……………………15

GB/T449375—2025

.

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

本文件是集成电路电磁发射测量的第部分已经发布了以下

GB/T44937《》5。GB/T44937

部分

:

第部分通用条件和定义

———1:;

第部分辐射发射测量小室和宽带小室法

———2:TEMTEM;

第部分辐射发射测量表面扫描法

———3:;

第部分传导发射测量直接耦合法

———4:1Ω/150Ω;

第部分传导发射测量工作台法拉第笼法

———5:;

第部分传导发射测量磁场探头法

———6:;

第部分辐射发射测量带状线法

———8:IC。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出

本文件由全国集成电路标准化技术委员会归口

(SAC/TC599)。

本文件起草单位中国电子技术标准化研究院北京智芯微电子科技有限公司中山大学天津先进

:、、、

技术研究院厦门海诺达科学仪器有限公司青岛市产品质量检验研究院北京国家新能源汽车技术创

、、、

新中心有限公司北京邮电大学北京无线电计量测试研究所江苏省计量科学研究院江苏省能源计量

、、、(

数据中心中国信息通信研究院博鼎实华北京技术有限公司中国汽车工程研究院股份有限公司

)、、()、、

中国合格评定国家认可中心长沙芯连心智慧系统有限责任公司中家院北京检测认证有限公司

、、()、

河北工业大学北京福测电子仪器有限公司苏州菲利波电磁技术有限公司

、、。

本文件主要起草人崔强李志鹏方文啸吴建飞王沛栋付君赵扬朱赛梁吉明雷黎丽石丹

:、、、、、、、、、、、

孙美秋刘星汛周雷王紫任刘宝殿谭泽强刘佳李彦鹏徐新王蒙军兰德福崔培宾

、、、、、、、、、、、。

GB/T449375—2025

.

引言

为规范集成电路电磁发射测量以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁发射测量方

,

法集成电路电磁发射测量规定了集成电路电磁发射测量的通用条件定义和不同测

,GB/T44937《》、

量方法的试验程序和试验要求拟由个部分构成

,9。

第部分通用条件和定义目的在于规定集成电路电磁发射测量的通用条件和定义

———1:。。

第部分通用条件和定义近场扫描数据交换格式目的在于规定近场扫描数据交换

———1-1:。

格式

第部分辐射发射测量小室和宽带小室法目的在于规定小室和宽带

———2:TEMTEM。TEM

小室法的试验程序和试验要求

TEM。

第部分辐射发射测量表面扫描法目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求

———3:。。

第部分传导发射测量直接耦合法目的在于规定直接耦合法的

———4:1Ω/150Ω。1Ω/150Ω

试验程序和试验要求

第部分传导发射测量直接耦合法应用指南目的在于给出直

———4-1:1Ω/150Ω。1Ω/150Ω

接耦合法应用指导

第部分传导发射测量工作台法拉第笼法目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序

———5:。

和试验要求

第部分传导发射测量磁场探头法目的在于规定磁场探头法的试验程序和试验要求

———6:。。

第部分辐射发射测量带状线法目的在于规定带状线法的试验程序和试验要求

———8:IC。IC。

GB/T449375—2025

.

集成电路电磁发射测量第5部分

:

传导发射测量工作台法拉第笼法

1范围

本文件描述了安装在标准化试验板或其最终应用的印制电路板上的集成电路的传导电

(PCB)(IC)

磁发射测量工作台法拉第笼法

本文件适用于在物理尺寸小的试验板上使用的能执行独立功能的

“”IC。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

电工术语电路理论

GB/T2900.74

电工术语电磁兼容

GB/T4365

集成电路电磁发射测量第部分通用条件和定义

GB/T44937.1—20251:

3术语和定义

和界定的以及下列术语和定义适用于本文件

GB/T2900.74、GB/T4365GB/T44937.1—2025。

4通则

41测量原理

.

工作台方法源自见图该文件中描述的方法假设电源电缆和信号电缆都

GB/T17626.6—2017,1。

与电缆尺寸的试验板相连电缆尺寸不大于λ例如时为这些连接电缆成为主要的

,/2,1GHz0.15m。

天线因此这些天线发射能产生射频发射

,“”。

连接电缆应具有供电通信和其他信号接口等功能且这些电缆通常与同一平面内的其他电缆的几

、,

何走向不同

每个端口的天线共模阻抗归一化为

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