无损检测人员技术考试题库及答案

无损检测人员技术考试题库及答案一、单项选择题（每题1分，共30分）1.在超声检测中，当纵波垂直入射到钢/水界面时，声压反射率约为A.0.94  B.0.50  C.0.06  D.0.02答案：A解析：钢声阻抗=46×，水反射率r=2.射线照相中，欲使几何不清晰度减半，源至工件距离需变为原来的A.1/2  B.1/4  C.2  D.4答案：C解析：=，d为焦点尺寸，b为工件—胶片距，f为源—工件距；∝13.磁粉检测中，连续法比剩磁法更易检出A.表面夹渣  B.近表面裂纹  C.表面微细裂纹  D.内部缩孔答案：C解析：连续法外场持续作用，可聚集更多磁粉于微小漏磁场。4.渗透检测时，显像剂层过厚会导致A.背景反差增大  B.渗出痕迹扩散  C.荧光亮度提高  D.水洗时间缩短答案：B解析：过厚毛细管被堵塞，缺陷内渗透剂横向扩散，痕迹变宽模糊。5.用5MHz、Φ6mm直探头测钢，近场长度N约为A.15mm  B.30mm  C.45mm  D.60mm答案：C解析：N==≈6.在TOFD检测中，两探头中心距2s=80mm，板厚t=30mm，若要求衍射信号时差Δt=8μs，则纵波声速约为A.5900m/s  B.6300m/s  C.3200m/s  D.2900m/s答案：B解析：Δt7.射线实时成像系统分辨率指标常用A.像质计灵敏度  B.对比度噪声比  C.调制传递函数MTF  D.黑度范围答案：C解析：MTF直接反映系统对不同空间频率的响应能力。8.对同一缺陷，若提高管电压，胶片黑度变化趋势为A.增大  B.减小  C.先增后减  D.基本不变答案：A解析：管电压升高，射线平均能量增大，胶片接受剂量增加，黑度上升。9.磁轭法检测时，磁极间距一般控制在A.25–50mm  B.50–150mm  C.150–300mm  D.300–500mm答案：B解析：间距过小磁场梯度大，过大则场强不足，50–150mm为最佳折中。10.下列哪项不是渗透检测中乳化剂的作用A.降低表面张力  B.使多余渗透剂可水洗  C.延长渗透时间  D.形成O/W型乳液答案：C解析：乳化剂仅起亲水洗作用，与渗透时间无关。11.超声探伤仪水平线性误差校准时，常用A.CSK-IA试块  B.阶梯试块  C.ⅡW试块  D.以上皆可答案：D解析：三种试块均带已知厚度差，可读取多次回波位置。12.当射线能量>10MeV时，主要发生A.光电效应  B.康普顿效应  C.电子对效应  D.瑞利散射答案：C解析：电子对效应截面与能量成正比，>10MeV占主导。13.在AUT全自动超声系统中，分区扫查的“分区”依据A.板厚方向声程  B.探头频率  C.焊缝宽度  D.扫查速度答案：A解析：按壁厚方向声程划分区域，分别设置增益与判废线。14.磁粉检测中，黑光辐照度应不低于A.100μW/cm²  B.500μW/cm²  C.1000μW/cm²  D.2000μW/cm²答案：C解析：GB/T5097规定距滤光片380mm处≥1000μW/cm²。15.对同一胶片，增大显影时间会导致A.对比度提高、粒度下降  B.对比度提高、粒度增大  C.对比度下降、粒度下降  D.对比度下降、粒度增大答案：B解析：显影过度，黑度梯度增大但卤化银颗粒聚集，粒度变粗。16.超声斜探头K值定义为A.\tan\theta  B.\sin\theta  C.\cos\theta  D.\theta本身答案：A解析：K=\tan\theta，θ为折射角。17.在射线照相中，设要求像质指数Z=10，则对应金属丝直径d为A.0.16mm  B.0.25mm  C.0.32mm  D.0.50mm答案：B解析：d=10^{(2-Z)/5}=10^{-8/5}=0.25mm。18.渗透检测时，干燥箱温度一般设定为A.30°C  B.50°C  C.80°C  D.120°C答案：B解析：50°C可加速挥发而不致过热影响缺陷内渗透剂。19.超声检测中，若底波降低6dB，则声压降至原来的A.1/2  B.1/4  C.1/\sqrt{2}  D.\sqrt{2}答案：A解析：ΔdB=20\log\frac{p_2}{p_1}=-6\Rightarrow\frac{p_2}{p_1}=10^{-0.3}=0.5。20.磁粉探伤中，周向磁化电流计算公式I=A.1  B.3  C.4  D.8答案：C解析：经验系数K≈4，保证工件表面切向场强≥2kA/m。21.射线实时成像的图像滞后现象主要与哪项有关A.探测器余辉  B.焦点尺寸  C.管电流  D.滤波板答案：A解析：探测器荧光层余辉造成帧间残留。22.在TOFD扫查中，若两探头对称放置，则侧向波出现时间A.早于底面回波  B.晚于底面回波  C.与底面回波同时  D.无规律答案：A解析：侧向波路径最短，最先到达。23.渗透检测中，下列哪种缺陷最难检出A.宽0.05mm开口裂纹  B.闭合锻造折叠  C.表面气孔  D.磨削裂纹答案：B解析：闭合缺陷无开口，渗透剂无法进入。24.超声探伤时，若仪器重复频率过高，会出现A.幻象波  B.底波降低  C.灵敏度提高  D.衰减增大答案：A解析：前一次回波未消失，与后一次发射叠加形成幻象。25.磁粉检测中，荧光磁粉比非荧光磁粉的优点是A.对比度高、可减小漏检  B.价格便宜  C.无需黑光  D.粒度大答案：A解析：荧光磁粉在黑光下可见度远高于白光下非荧光磁粉。26.射线照相中，设工件厚度T=40mm，余高h=3mm，则有效透照厚度Te为A.40mm  B.43mm  C.46mm  D.50mm答案：B解析：Te=T+h=43mm。27.超声检测中，若缺陷位于Ⅲ区（近场区外），其回波高度与距离关系遵循A.平方反比律  B.指数衰减律  C.线性衰减律  D.与距离无关答案：A解析：远场球面波，声压∝1/x。28.在射线能量相同条件下，铅增感屏比荧光增感屏A.清晰度更高  B.灵敏度更高  C.曝光时间更短  D.黑度更大答案：A解析：铅屏吸收散射线，减少胶片模糊。29.磁粉检测中，交流电磁化比直流电磁化更易检出A.表面缺陷  B.深层缺陷  C.内部气孔  D.夹杂答案：A解析：交流趋肤效应，磁场集中于表面。30.渗透检测中，显像时间一般不少于A.1min  B.5min  C.10min  D.30min答案：C解析：GB/T18851规定≥10min，确保缺陷渗出完整。二、判断题（每题1分，共10分）31.超声检测中，衰减系数α与频率f成正比。答案：√解析：α=βf，材料晶粒散射导致。32.射线能量越高，胶片对比度一定越高。答案：×解析：能量升高，散射增大，对比度反而下降。33.磁粉检测可检出奥氏体不锈钢的疲劳裂纹。答案：√解析：虽无磁性，但冷加工后局部产生马氏体，可磁化。34.渗透检测后，工件可立即进行喷丸处理。答案：×解析：残留渗透剂会渗入表面微坑，影响后续检测。35.TOFD技术对未熔合缺陷高度测量误差可<0.5mm。答案：√解析：利用衍射时差，精度高。36.射线实时成像的图像分辨率与像素尺寸无关。答案：×解析：像素尺寸直接决定空间分辨率。37.超声探伤中，K1探头比K2探头更适合检测厚焊缝根部。答案：×解析：K2折射角大，更易覆盖根部。38.磁粉检测中，磁悬液浓度越高，检出能力越强。答案：×解析：过高浓度产生背景过度，掩盖缺陷。39.射线照相中，双胶片技术可提高厚度宽容度。答案：√解析：两张不同感光度胶片叠加，扩大黑度范围。40.渗透检测时，环境温度低于5°C可延长渗透时间补偿。答案：√解析：低温粘度增大，延长渗透时间可弥补。三、填空题（每空2分，共20分）41.超声检测中，当声速c=5900m/s，频率f=2MHz，则波长λ=_______mm。答案：2.95解析：λ=c/f=5900/(2×10^6)=2.95×10^{-3}m=2.95mm。42.射线照相的对比度公式ΔD=______。答案：-0.434μγσΔT解析：ΔD=-0.434μγσΔT，其中μ为线衰减系数，γ为胶片对比度系数，σ为散射因子。43.磁粉检测中，圆形工件直径D=100mm，要求切向场强H=2kA/m，则磁化电流I≈______A。答案：500解析：I=HπD/K=2000×π×0.1/4≈500A。44.渗透检测中，荧光渗透剂的亮度单位是______。答案：cd/m²。45.TOFD检测中，缺陷深度误差主要受______和______影响。答案：时间分辨率；声速误差。46.射线实时成像系统动态范围常用______表示。答案：比特数bit。47.超声探伤仪垂直线性误差应≤______%。答案：5。48.磁悬液浓度测定采用______试片。答案：梨形沉淀管。49.射线照相中，黑度D=2时，透光率T=______。答案：0.01解析：D=-log₁₀T⇒T=10^{-D}=0.01。50.渗透检测时，乳化时间一般控制在______min。答案：1–3。四、计算题（每题10分，共30分）51.用5P20×1060°斜探头检测板厚t=40mm对接焊缝，发现一缺陷回波位于声程S=120mm，探头前沿L₀=12mm，求缺陷水平距离L和埋藏深度h。答案：折射角β=60°，水平距离L=Ssinβ=120×sin60°=104mm，深度h=Scosβ-L₀=120×0.5-12=48mm，因h>t，说明反射体在对面壁，需用二次波公式：实际深度h'=2t-h=80-48=32mm，水平距离不变L=104mm。解析：二次波路径反射一次，深度换算需减去板厚。52.射线照相采用Ir192源，活度20Ci，曝光量E=300mA·min，求焦距F=600mm时的曝光时间t。已知Ir192比活度Kγ=0.55(R·m²)/(h·Ci)。答案：剂量率X˙胶片需黑度D=2，设需剂量X=8mR，则t=\frac{X}{\dotX}=\frac{8\times10^{-3}}{0.51}=0.0157\,\text{min}=0.94\,\text{s}。实际工程取t≈1s。解析：计算时注意单位换算，1R=1000mR。53.磁粉检测周向磁化一轴类零件，直径D=80mm，长度l=500mm，材料为30CrMo，求所需磁化电流I。若改用线圈法，线圈匝数N=5，线圈半径R=200mm，求所需电流I'。答案：周向磁化：I=HπD/K=2000×π×0.08/4=126A。线圈法：L/D=500/80=6.25，查表得安匝数NI≈12000，I'=12000/5=2400A。解析：线圈法需高安匝数，电流远大于周向磁化。五、简答题（每题10分，共30分）54.说明超声检测中“迟到波”产生机理及识别方法。答案：迟到波由侧壁反射导致，声束在工件侧壁间多次反射后到达探头，声程大于一次底波，出现在底波之后。识别：改变探头位置，迟到波位置随侧壁距离变化；降低增益，迟到波先消失；用直探头在中心线检测可消除。55.比较射线照相与TOFD在检测裂纹类缺陷时的优缺点。答案：射线照相优点：直观、可存档、对体积型缺陷灵敏；缺点：裂纹检出率随角度降低、有辐射、成本高。TOFD优点：定量精度高、无胶片、实时；缺点：对近表面盲区、对横向裂纹不敏感、需训练有素人员。56.阐述渗透检测中“过乳化”现象的危害及预防措施。答案：过乳化使缺陷内渗透剂被乳化洗出，导致漏检。预防：严格控制乳化时间≤2min；定时做水断试验；采用低灵敏度乳化剂；加强工艺纪律检查。六、综合应用题（共30分）57.某球罐外径D=20m，壁厚t=40mm，材质16MnR，设计压力1.6MPa，要求射线检测环缝100%，请给出：（1）透照方式与布片图；（2）源种类、能量、焦距、曝光量计算；（3）像质计型号及摆放位置；（4）散射防护方案；（5）底片黑度、灵敏度验收级别。答案：（1）采用源在内中心透照，360°周向曝光，一次曝光整条环缝，布片图：胶片贴内壁，搭接标记间隔≤250mm。（2）选用Se75源，平均能量0.206MeV，活度100Ci，焦距F=10m（半径），透照厚度Te=40mm，查曝光曲线得需剂量15mR，曝光时间t=15/(100×0.42/10²)=36s。（3）像质计Fe-10，丝径0.25mm，放于源侧焊缝