CN115987862B 一种sata信号质量测试方法、装置及存储介质 (浪潮(山东)计算机科技有限公司)_第1页
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文档简介

质置及存储介质。本发明在写测试码的过程中,SATA主控芯片的发送端独立的逐步调整发送信用所述发送信号向与所述SATA主控芯片连接的SATA主控芯片的接收端记录每个电压和时间下写入和读出的所述测试码之间的误码情况形成2根据测试眼图的测试眼高和测试眼宽评估SA将所述测试点按顺序排列为测试域,其中,水平方向上任意相邻遍历所述测试域获取所述测试点,根据所述测试点中电压值和时间延迟调整发送信所述SATA主控芯片的接收端对比相同电压值和时间延迟下写入和读出的所述测试码根据发送信号电压值和时间延迟从第二映射关系匹配待对比的原对比原始的所述测试码和所述目标测试码实现对比相同电压值和时间延迟下写入和映射关系得到发送信号的电压值和时间延迟与逻辑地址之间的第三映长列包含的点的数量乘以电压值的步进电压得3算机程序被所述SATA主控芯片执行时实现如权利要求1_7中任意一项所述的SATA信号质量所述计算机程序被的SATA主控芯片执行时实现如权利要求1_7中任意一项所述的SATA信号4据通过Tx发给误码测试仪。测试过程中,误码测试仪通过自身的Tx发出测试码型给待测5述测试码得到误码情况并记录所述误码情况形成测[0012]所述SATA主控芯片的接收端对比相同电压值和时间延迟下写入和读出的所述测[0015]根据发送信号电压值和时间延迟从第二映射关系匹配待对比的原始的所述测试[0016]对比原始的所述测试码和所述目标测试码实现对比相同电压值和时间延迟下写计算机程序,所述计算机程序被的SATA主控芯片执行时实现所述的SATA信号质量测试方6[0030]图5为本发明实施例提供的独立的逐步调整发送信号的电压和时间,利用调整的发送信号向与所述SATA主控芯片连接的SATA硬[0031]图6为本发明实施例提供的对比每个电压和时间下写入和读出的所述测试码得到误码情况并记录所述误码情况形成测试眼图的[0033]图8为本发明实施例提供的根据测试眼图的测试眼高和测试眼宽评估SATA信号质[0038]相比于现有技术中通过误码仪检测误码率来测试SATA信号质量的方式,参阅图27所示,在所述的一种SATA信号质量测试方法中,将主板或者SATA背板上的SATA接口通过号的电压和时间,利用调整的发送信号向与所述SATA主控芯片连接的SATA硬盘写入测试8试码的发送信号电压值和时间延迟从所述第二映射关系中得到待对比的原始的所述测试延迟从所述第三映射关系中匹配所述逻辑地址,进而根据所述逻辑地址读取目标测试码。从而利用所述第三映射关系和所述第二映射关系得到相同电压值和时间延迟下写入和读9电压和时间下写入和读出的所述测试码得到误码情况并记录所述误码情况形成根据测试眼图的测试眼高和测试眼宽评估SA所述SATA主控芯片的发送端利用所述发送信号向与所述SATA主控芯片连接的SATA硬盘写试眼图的测试眼高和测试眼宽评估SATA[0074]以上所述仅是本发明的具体实施方式,使本领域技术人员能够理解或实现本发

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