CN116073152B 板卡转接设备及测试方法、系统、装置、设备及存储介质 （长鑫存储技术有限公司）

本公开实施例提供一种板卡转接设备及测与目标存储模组的供电电源匹配的电源输出信2所述第一转接结构具有与目标存储模组的板卡匹配所述信号传输结构包括第一传输模块和第二传输模块；所述第一2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于所述电源接口，用于连接外部电源，并将外接电源的电源输入信号传输所述电源转换单元，连接所述电源接口和所述连接器的电源信号线，8.根据权利要求1至4中任一项所述的设备，其在如权利要求1至8中任一项所述的板卡转接设备的金手指连接数据配置板卡的存储在所述存储模组上的动态随机存取存储器芯片进入测试模板卡转接设备从连接所述数据配置板卡的存储模组连接器带电切换至连接目标测试平台3在所述板卡转接设备的连接器连接所述存储模组，且所述板将所述板卡转接设备的第二传输结构与提供预设电压值的直将所述板卡转接设备的连接器与所述存储模组连接，并将所述板在所述存储模组上的动态随机存取存储器芯片进入测试模式的利用所述目标测试平台，基于所述动态随机存取存储器芯片的测试逻辑和测试信号，所述数据配置板卡，用于：在所述板卡转接设备的金手指连接数据配置所述板卡转接设备控制所述存储模组上的动态随机存取存储器芯片进所述目标测试平台，用于：在所述存储模组上的动态随机存取存储器芯上电模块，用于在如权利要求1至8中任一项所述的板卡转接4控制模块，用于利用所述数据配置板卡，通过所述板卡转接设备测试模块，用于在所述存储模组上的动态随机存取存储所述存储模组的板卡转接设备从连接所述数据配置板卡的存储模组连接器带电切换至连上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现权利要求9至16任一项所述方法中处理器执行时实现权利要求9至16任一项所述方法5[0001]本公开涉及但不限于半导体测试领域，尤其涉及一种板卡转接设备及测试方法、[0002]相关技术中，对存储模组进行测试的手段较少，通常利用集成电路自动测试机[0009]在一些实施例中，所述金手指的电源信号线悬空和/或所述金手指的复位信号线6[0017]在上述任一实施例中所述的板卡转接设备的金手指连接数据配置板卡的存储模组的板卡转接设备从连接所述数据配置板卡的存储模组连接器带电切换至连接目标测试转接设备的第二传输结构与提供预设电压值的直置板卡的存储模组连接器带电切换至连接目标测试平台通过所述板卡转接设备控制所述存储模组上的动态随机存取存储器芯片进连接所述存储模组的板卡转接设备从连接所述数据配置板卡的存储模组连接器带电切换7程序被处理器执行时实现上述方法中的部分[0046]图7B为本公开实施例提供的一种对线块状类型的扫描图像进行缺陷检测的实现8[0054]相关技术中，存储模组中通常包括至少一个动态随机存取存储器(DynamicRandomAccessMemory，DRAM)芯片。DRAM芯片可以通过可测性设计(DesignForTest，DFT)在芯片设计过程中引入测试逻辑，并利用这部分测试逻辑完成测试向量的自动生产，改DFT集训前中DFT信号的值，可以更改DRAM芯片内部的部分[0055]进入DRAM芯片的测试模式的方式可以包括通过ATE机台进入和通过CPU主板进[0062]所述信号传输结构130包括第一传输模块131和第二传输模块132；所述第一传输9号线SL4与所述连接器121中相应的连接线对应连接；所述第二传输模块132用于在接入电组(DualInlineMemoryModule，DIMM)、单边接触内存模组(Singlein_linememory也可以是无缓存DIMM(UnbufferedDIMM，UDIMM)，还可以是带寄存器的DIMM(Registered[0064]第一转接结构110中的金手指111与目标存储模组的板卡匹配，指的是该金手指111的信号线与目标存储模组的板卡上金手指端的信号线一一对应且数量相同。通过金手标存储模组的板卡以对插或直连等方式连接。在实施时，连接器111可以是插槽式的连接[0066]信号传输结构130可以包括第一传输模块131和第二传输模块132。第一传输模块二传输模块132将输入的电源输入信号V1转换为与目标存储模组的供电电源匹配的电源输10编程电压信号VPP的电压可以是2.5±10端接电压信号VTT的电压可以是0.6V±领域技术人员可以根据实际情况采用合适的电源转换方式将输入的电源输入信号V1转换连接器121的电源信号线，用于将所述电源输入信号V1转换为与所述目标存储模组的供电电源匹配的电源输出信号V2，并将所述电源输出信号V2传输至所述连接器121的电源信号单元可以简单快速地将外部电源的电源输入信号转换为与目标存储模组的供电电源匹配以简单快速地得到与目标存储模组的供电电源匹配信号对与第二转换结构中的连接器的上电复位信号同板卡或系统平台上切换连接时不掉电，从而可以使得DIMM的配置在切换连接时不丢失，进而可以提高DIMM测试的灵活性和准确性，便于在各种类型的系统平台上对DIMM进行测[0079]数据配置板卡可以是任意合适的能通过存储模组连接器对存储模组的物理层的逻辑门阵列(FieldProgrammableGateArray，FPGA)板卡或复杂可编程逻辑器件[0080]板卡转接设备的金手指与数据配置板卡的存储模组连接器之间的连接可以是用[0082]这里，在一些实施方式中，可以预先在数据配置板卡中导入编写好的用于控制所述存储模组的板卡转接设备从连接所述数据配置板卡的存储模组连接器带电切换至连的系统平台的情况下，可以将安插有该DIMM的板卡转接设备从FPGA/CPLD板卡的DIMM插槽也便于在各种类型的系统平台上对存储模组[0092]步骤S301，在上述任一实施例中所述的板卡转接设备的连接器连接所述存储模所述存储模组的板卡转接设备从连接所述数据配置板卡的存储模组连接器带电切换至连[0097]这里，上述步骤S302至步骤S304分别对应前述实施例中的步骤S在实施时可以参照步骤S201至步骤S20[0098]在一些实施例中，上述步骤S301中所述的向所述板卡转接设备输入电源输入信所述存储模组的板卡转接设备从连接所述数据配置板卡的存储模组连接器带电切换至连[0106]这里，上述步骤S402至步骤S404分别对应前述实施例中的步骤S在实施时可以参照步骤S201至步骤S20[0111]这里，上述步骤S501至步骤S502分别对应前述实施例中的步骤S在实施时可以参照步骤S201至步骤S20[0112]步骤S503，在所述存储模组上的动态随机存取存储器芯片进入测试模式的情况从连接数据配置板卡的存储模组连接器带电切换至连接目标测试平台的存储模组连接器，所述存储模组的板卡转接设备从连接所述数据配置板卡的存储模组连接器带电切换至连[0120]这里，上述步骤S601至步骤S602分别对应前述实施例中的步骤S在实施时可以参照步骤S201至步骤S20[0122]这里，数据配置板卡可以通过板卡转接设备对存储模组的DRAM芯片内的DFT寄存的测试逻辑和测试信号的配置程序，并基于该配置程序对存储模组的DRAM芯片内的DFT寄所述存储模组的板卡转接设备从连接所述数据配置板卡的存储模组连接器带电切换至连731外接5V直流电源Vin，并通过电源转换单元732将5V直流电源Vin转换为与DIMM匹配的[0136]步骤S701，将DIMM转接板插在FPGA/CPLD板卡的DIMM插槽上，待测试的DIMM插在[0137]步骤S702，给FPGA/CPLD板卡上电，并使用编写好的控制程序控制DIMM模组上的[0142]本公开实施例提供一种测试系统，图8为本公开实施例提供的一种测试系统的组置板卡830上电的情况下，通过所述板卡转接设备820控制所述存储模组810上的动态随机811进入测试模式，且连接所述存储模组810的板卡转接设备820从连接所述数据配置板卡830的存储模组连接器831带电切换至连接目标测试平台840的存储模组连接器841的情况[0151]上电模块910，用于在上述任一实施例中所述的板卡转接设备的金手指连接数据且连接所述存储模组的板卡转接设备从连接所述数据配置板卡的存储模组连接器带电切随机存取存储器芯片进入测试模式的情况下，将连接所述存储模组的所述板卡转接设备，从连接所述数据配置板卡的存储模组连接器带电切换至连接目标测试平台的存储模组连通过所述板卡转接设备对所述存储模组上的动态随机存取存储器芯片的测试逻辑和测试全部或部分。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘了计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质，所述计算机程序被计算机读取并执行时，一个可选实施例中，计算机程序产品具体体现为软件产品，例如软件开发包(Software算机程序产品和设备实施例中未披露的技术细节，请参照本公开方法实施例的描述而理音通信数据和视频通信数据)，可以通过闪存(FLASH)或随机访问存储器(RandomAccess构或特性可以任意适合的方式结合在一个或多个实施例中。应理解，在本公开的各种实施例中，上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先