耳温枪温度传感器征求意见稿

ICS31.080

CCSL15

T/CASME

中国中小商业企业协会团体标准

T/CASMEXXXX—XXXX

耳温枪温度传感器

Eartemperatureguntemperaturesensor

（征求意见稿）

XXXX-XX-XX发布XXXX-XX-XX实施

中国中小商业企业协会发布

T/CASMEXXXXX—XXXX

前  言

本文件依据GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起

草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利，本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由浙江矽感锐芯科技股份有限公司提出。

本文件由中国中小商业企业协会归口。

本文件起草单位：浙江矽感锐芯科技股份有限公司

本文件主要起草人：XXXXXXXX。

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耳温枪温度传感器

1范围

本标准规定了耳温枪温度传感器（以下简称传感器）的术语和定义、分类、型号、要求、试验方法、

检验规则、标志、包装、运输和贮存。

本标准适用于耳温枪温度传感器。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文

件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温

GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温

GB/T2423.3-2016环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验

GB/T2423.7-2018环境试验第2部分:试验方法试验Ec:粗率操作造成的冲击（主要用于设备型样

品）

GB/T2423.10-2019电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fc:振动(正弦)

GB/T2423.22-2012环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化

GB/T2423.23-2013环境试验第2部分：试验方法试验Q：密封

GB/T2829-2002周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验)

GB/T4937.14-2018半导体器件机械和气候试验方法第14部分：引出端强度（引线牢固性）

GB/T6663.1-2007直热式负温度系数热敏电阻器第1部分：总规范

GB/T13584-2011红外探测器参数测试方法

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1

耳温枪温度传感器Eartemperatureguntemperaturesensor

由单元热电堆芯片与热敏电阻或其他处理电路通过封装构成的红外传感器。

4技术要求

4.1工作环境要求

传感器的工作环境要求如下：

——工作温度：-20℃~85℃；

——贮存温度：-40℃~120℃

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——相对湿度：≤85%；

——大气压力：86kPa～106kPa。

4.2标准测试条件

传感器的检测应在下列标准测试条件下进行：

——温度：15℃～30℃；

——相对湿度：10%～80%；

——大气压力：86kPa～106kPa。

如与标准条件不同，应在检测报告中注明。

4.3外观

按5.2进行检验，传感器的外观应符合如下要求：

a）传感器表面应清洁、光滑，无目视可见的瑕疵、锈蚀和损伤，标志应清晰完整、准确；

b）传感器滤光片通光区域无裂缝、破损、可移动污物，麻点或不可移动污物直径小于25um，数量

少于10粒，划痕宽度小于5um、长度小于100um，数量少于3条，滤光片贴合窗口胶水溢出不

大于30um；

c）封装外壳及引脚不可有可移动污物、镀金层脱落、变形、氧化及针孔。

4.4外形尺寸

按5.3进行检验，推荐的传感器的外形尺寸如下：

a）TO金属管壳封装：TO46、TO39、TO5、TO56、TO41、TO18，其各尺寸公差不超过±0.1mm；

b）SMD陶瓷管壳封装：3.8mm*3.8mm、4.8mm*4.8mm、5.0mm*5.0mm、5.5mm*5.5mm，其各尺寸公差

应不超过±0.1mm；

c）其他封装形式的，外形尺寸不做限定，但应符合小型化、扁平化的外观要求，其各尺寸公差应

不超过±0.1mm。

4.5性能特性

传感器的性能特性要求应符合表1的规定。

表1传感器性能特性要求

性能特性要求检验方法

输出信号（mV）0.2~25.4.1

响应率（V/W）≥505.4.2

热电堆电阻（kOhm）≤1505.4.3

噪声（nV/Hz½）≤495.4.4

噪声等效功率（nW）≤0.55.4.5

归一化探测率（cm•Hz1/2/W）≥1×1085.4.6

热响应时间（ms）≤205.4.7

视场角（°）≤905.4.8

温度检测：5.5μm～14

μm或8μm～14μm；

光谱响应范围气体检测：根据被测气5.4.9

体实际光谱确定；

火焰探测：4.3μm。

截止波长（μm）温度检测：14μm；5.4.9

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气体检测：根据被测气

体实际光谱确定；

火焰探测：4.3μm。

热敏电阻阻值（kΩ）100±3%5.4.10

热敏电阻温度系数（K）3950±1%5.4.11

贮存温度范围（℃）-40～1204.6.1、4.6.2

工作温度范围（℃）-20～854.6.3、4.6.4

4.6环境性能

4.6.1低温贮存

按GB/T2423.1-2008的规定的方法进行。试验温度（-40±5）℃，贮存时间1000h，试验后检测

传感器的性能指标需满足如下要求：

a)输出信号试验后相对于试验前的变化量不超过±2%；

b)热电堆电阻试验后相对于试验前的变化量不超过±0.5%；

c)热敏电阻阻值试验后相对于试验前的变化量不超过在±0.5%；

d)热敏电阻温度系数试验后相对于试验前的变化量不超过±0.2%。

4.6.2高温贮存

按GB/T2423.2-2008的规定的方法进行。试验温度（120±5）℃，试验时间1000h，试验后检测

传感器的性能指标需满足如下要求：

a)输出信号试验后相对于试验前的变化量不超过±2%；

b)热电堆电阻试验后相对于试验前的变化量不超过±0.5%；

c)热敏电阻阻值试验后相对于试验前的变化量不超过在±0.5%；

d)热敏电阻温度系数试验后相对于试验前的变化量不超过±0.2%。

4.6.3低温工作

按GB/T2423.1-2008的规定的方法进行。试验温度（-20±5）℃，工作时间96h。试验时检测传感

器的输出信号、热电堆电阻和热敏电阻应满足表1的要求。试验后检测传感器的性能指标需满足如下要

求：

a)输出信号试验后相对于试验前的变化量不超过±2%；

b)热电堆电阻试验后相对于试验前的变化量不超过±0.5%；

c)热敏电阻阻值试验后相对于试验前的变化量不超过在±0.5%；

d)热敏电阻温度系数试验后相对于试验前的变化量不超过±0.2%。

4.6.4高温工作

按GB/T2423.2-2008的规定的方法进行。试验温度（85±5）℃，工作时间96h。试验时检测传感器

的输出信号、热电堆电阻和热敏电阻应满足表1的要求。试验后检测传感器的性能指标需满足如下要求：

a)输出信号试验后相对于试验前的变化量不超过±2%；

b)热电堆电阻试验后相对于试验前的变化量不超过±0.5%；

c)热敏电阻阻值试验后相对于试验前的变化量不超过在±0.5%；

d)热敏电阻温度系数试验后相对于试验前的变化量不超过±0.2%。

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4.6.5温度循环

按GB/T2423.22-2012规定的方法进行。温度循环期间传感器不加电，按以下条件循环不少于10

次：

a)（-40±5）℃保持30分钟；

b)（25±5）℃保持3分钟；

c)（120±5）℃保持30分钟；

d)（25±5）℃保持3分钟。

试验后检测传感器的性能指标需满足如下要求：

a)输出信号试验后相对于试验前的变化量不超过±2%；

b)热电堆电阻试验后相对于试验前的变化量不超过±0.5%；

c)热敏电阻阻值试验后相对于试验前的变化量不超过在±0.5%；

d)热敏电阻温度系数试验后相对于试验前的变化量不超过±0.2%。

4.6.6高温高湿

按GB/T2423.3-2016规定的方法进行。试验温度（60±5）℃，试验湿度（85±5%），试验时间

1000h，试验后检测传感器的性能指标需满足如下要求：

a)输出信号试验后相对于试验前的变化量不超过±2%；

b)热电堆电阻试验后相对于试验前的变化量不超过±0.5%；

c)热敏电阻阻值试验后相对于试验前的变化量不超过在±0.5%；

d)热敏电阻温度系数试验后相对于试验前的变化量不超过±0.2%。

4.6.7振动

按GB/T2423.10-2019规定的方法进行，试验条件如下：

a）振动频率：10Hz~55Hz；

b）试验时间：每轴6小时；

c）试验方向：X、Y、Z轴方向。

试验后检测传感器的性能指标需满足如下要求：

a)输出信号试验后相对于试验前的变化量不超过±2%；

b)热电堆电阻试验后相对于试验前的变化量不超过±0.5%；

c)热敏电阻阻值试验后相对于试验前的变化量不超过在±0.5%；

d)热敏电阻温度系数试验后相对于试验前的变化量不超过±0.2%。

4.6.8自由跌落

按GB/T2423.7-2018规定的方法进行。1m高度，自由跌落3次，Z轴垂直向下，试验后检测传感

器的性能指标需满足如下要求：

a)输出信号试验后相对于试验前的变化量不超过±2%；

b)热电堆电阻试验后相对于试验前的变化量不超过±0.5%；

c)热敏电阻阻值试验后相对于试验前的变化量不超过在±0.5%；

d)热敏电阻温度系数试验后相对于试验前的变化量不超过±0.2%。

4.6.9气密性检验

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按GB/T2423.23-2013规定的方法进行。利用氦质谱检漏仪对传感器进行密封性检验，试验条件如

下：

a）加压条件：550kPa；

b）氦保压时间：2小时；

c）保压后30分钟内完成测试。

试验后检测传感器的泄漏率指标需满足如下要求：氦泄漏率小于1.0×10-9Pa.m3/s。

4.6.10滤光片耐擦

利用RCA耐磨仪对传感器进行耐摩擦检验，试验条件如下：

a）测试负荷：55g；

b）摩擦方式：间歇式；

c）测试次数：150圈；

d）测试速率：10圈/min。

试验后检测传感器的滤光片指标需满足本规范的4.3（b）的要求。

4.6.11引出端强度

按GB/T4937.14-2018规定的方法进行，试验后检测传感器的引出端需满足如下要求：

a）引出端镀金层无掉落或剥落；

b）引出端无断裂、弯折或扭曲。

4.6.12电磁兼容（规定时）

按EN60601-1-2规定的方法进行。辐射场强28V/m条件下，试验后检测传感器的性能指标需满足

如下要求：

a）输出信号试验后相对于试验前的变化量不超过±2%；

b）热电堆电阻试验后相对于试验前的变化量不超过±0.5%；

c）热敏电阻阻值试验后相对于试验前的变化量不超过在±0.5%；

d）热敏电阻温度系数试验后相对于试验前的变化量不超过±0.2%。

5检验方法

5.1气候环境条件

按GB/T13584—2011的5.2.6.4的规定。

5.2外观

用目检和50倍显微镜检测传感器的外观。

5.3外形尺寸

用卡尺、千分尺、千分表、标准规或其他标准量具仪器检测传感器的外形及关键部位的尺寸。

5.4性能特性

5.4.1输出信号

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按GB/T13584—2011图2连接测试系统，环境温度为25℃，黑体温度为37℃，发射率为1，温度平衡

状态下采用数字万用表直接测量传感器输出管脚的直流电压即为输出信号。

5.4.2响应率

按GB/T13584—2011中6.1的规定测试。

5.4.3热电堆电阻

采用数字万用表直接测量传感器输出信号管脚两端的电阻阻值。

5.4.4热电堆噪声

按GB/T13584—2011中6.2的规定测试。

5.4.5噪声等效功率

按GB/T13584—2011中6.5的规定测试。

5.4.6归一化探测率

按GB/T13584—2011中6.4.5.1的规定测试。

5.4.7热响应时间

按GB/T13584—2011中6.6的规定测试，脉冲截止点选取最大响应的63%处。

5.4.8视场角

测试系统示意图如图1所示，以传感器位置为圆心，黑体点光源到传感器的距离为半径，旋转黑体

点光源，测量在示波器上能探测到50%归一化输出信号电压的最大空间角度，即为视场角。

图1热电堆红外传感器视场角测试系统示意图

5.4.9光谱响应范围和截止波长

按GB/T13584—2011中6.3的方法2的规定测试。

5.4.10热敏电阻阻值

按GB/T6663.1-2007中4.5的规定测试，环境温度为25℃±0.05℃，在油槽中测试。

5.4.11热敏电阻温度系数

按GB/T6663.1-2007中4.6的规定测试，在25℃和50℃环境温度下计算。

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6检验规则

6.1检验分类

传感器检验分为出厂检验和型式检验。

6.2出厂检验

6.2.1检验批

一个检验批应由一个或多个生产批组成。若干个生产批组成的检验批中的产品的生产间隔时间不得

超过规定的时间。

6.2.2检验项目及抽样方案

出厂检验应按表2规定的检验顺序和检验项目进行100%检验，检验合格后方可出厂。

表2检验项目

序号检验项目要求章条号出厂检验型式检验

1外观4.2√√

2外形尺寸4.3√√

3输出信号4.4√√

4响应率4.4√√

5热电堆电阻4.4√√

6热电堆噪声4.4√√

7噪声等效功率4.4√√

8归一化探测率4.4√√

9热响应时间4.4√√

10视场角4.4√√

11热敏电阻阻值4.4√√

12热敏电阻温度系数4.4√√

13低温贮存4.6.1—√

14高温贮存4.6.2—√

15低温工作4.6.3—√

16高温工作4.6.4—√

17温度循环4.6.5—√

18高温高湿4.6.6—√

19振动4.6.7—√

20自由跌落4.6.8—√

21气密性检验4.6.9—√

22滤光片耐擦4.6.10—√

23引出端强度4.6.11—√

24电磁兼容（规定时）4.6.12—√

7.3型式检验

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7.3.1检验原则

传感器具备下列情况之一时，应进行型式检验：

a）新产品或老产品转厂生产的试验定型鉴定；

b）正式生产后，如结构、材料、工艺等有较大改变，可能影响产品性能时；

c）正常生产时，定期或积累一定产量后，应周期性的进行检验，检验周期一般应为1年；

d）产品停产1年以上，恢复生产时；

e）出厂检验结果与上次型式检验有较大差异时；

f）大批量产品的用户要求在验收中进行型式检验时；

g）国家质量监督机构提出进行型式检验的要求时。

7.3.2检验项目

检验项目及检验顺序按表3的规定进行。

7.3.3抽样及合格判定

型式检验的抽样按GB/T2829—2002中的5.8执行，以不合格品数为判断依据。样本量n=10，采用

判别水平I的一次性抽样方案，采用不合格质量水平RQL=20，判定数组Ac=1、Re=2。10只样品中有1只

不合格，判定该批产品合格；有2只以上（含2只）不合格，判定该批产品不合格。判定数组样本共10

只，由质量管理部门按随机的方式抽取，生产部门提供的样品基数应大于2倍抽样样品数量。

7.3.4不合格判定的处理和样品处置

检验结果判定为型式检验不合格时，按GB/T2829-2002中5.12.3规定的原则进行处理。

经过型式检验的样品，原则上不允许再作为合格品交付使用。

8标志、包装、运输及贮存

8.1产品标志

传感器应有以下标志：

a）产品型号和名称；

b）产品编号；

c）制造厂名或厂标；

d）制造年月；

8.2包装

传感器的包装应符合设计文件要求，包装的图示标志应符合GB/T191—2008的规定。

传感器应采用防尘、防划伤、防静电的专用包装盒进行包装，包装盒外部应采用防震、防雨、防潮

气聚集的塑料薄膜包裹，顶部、底部及产品四角应按需衬垫泡沫层；技术文件如使用说明书、合格证明

书和保修单等应进行密封防潮包装，固定在包装箱内部明显的位置。

随箱文件应包括：

a）产品合格证书；

b）装箱单；

c）其他相关文件资料。

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8.3运输

传感器的运输应严格遵照包装箱上注明的条件，允许用任何交通工具进行运输，但应避免雨雪的直

接侵袭或机械碰撞。

8.4贮存

传感器应存放在不低于-40℃~120℃、相对湿度不大于85％，且环境内空气中不应含有腐蚀性气体。

_________________________________

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目  次

前  言..............................................................................2

1范围................................................................................3

2规范性引用文件......................................................................3

3术语和定义..........................................................................3

4技术要求............................................................................3

5检验方法............................................................................7

8标志、包装、运输及贮存.............................................................10

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耳温枪温度传感器

1范围

本标准规定了耳温枪温度传感器（以下简称传感器）的术语和定义、分类、型号、要求、试验方法、

检验规则、标志、包装、运输和贮存。

本标准适用于耳温枪温度传感器。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文

件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温

GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温

GB/T2423.3-2016环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验

GB/T2423.7-2018环境试验第2部分:试验方法试验Ec:粗率操作造成的冲击（主要用于设备型样

品）

GB/T2423.10-2019电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fc:振动(正弦)

GB/T2423.22-2012环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化

GB/T2423.23-2013环境试验第2部分：试验方法试验Q：密封

GB/T2829-2002周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验)

GB/T4937.14-2018半导体器件机械和气候试验方法第14部分：引出端强度（引线牢固性）

GB/T6663.1-2007直热式负温度系数热敏电阻器第1部分：总规范

GB/T13584-2011红外探测器参数测试方法

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1

耳温枪温度传感器Eartemperatureguntemperaturesensor

由单元热电堆芯片与热敏电阻或其他处理电路通过封装构成的红外传感器。

4技术要求

4.1工作环境要求

传感器的工作环境要求如下：

——工作温度：-20℃~85℃；

——贮存温度：-40℃~120℃

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——相对湿度：≤85%；

——大气压力：86kPa～106kPa。

4.2标准测试条件

传感器的检测应在下列标准测试条件下进行：

——温度：15℃～30℃；

——相对湿度：10%～80%；

——大气压力：86kPa～106kPa。

如与标准条件不同，应在检测报告中注明。

4.3外观

按5.2进行检验，传感器的外观应符合如下要求：

a）传感器表面应清洁、光滑，无目视可见的瑕疵、锈蚀和损伤，标志应清晰完整、准确；

b）传感器滤光片通光区域无裂缝、破损、可移动污物，麻点或不可移动污物直径小于25um，数量

少于10粒，划痕宽度小于5um、长度小于100um，数量少于3条，滤光片贴合窗口胶水溢出不

大于30um；

c）封装外壳及引脚不可有可移动污物、镀金层脱落、变形、氧化及针孔。

4.4外形尺寸

按5.3进行检验，推荐的传感器的外形尺寸如下：

a）TO金属管壳封装：TO46、TO39、TO5、TO56、TO41、TO18，其各尺寸公差不超过±0.1mm；

b）SMD陶瓷管壳封装：3.8mm*3.8mm、4.8mm*4.8mm、5.0mm*5.0mm、5.5mm*5.5mm，其各尺寸公差

应不超过±0.1mm；

c）其他封装形式的，外形尺寸不做限定，但应符合小型化、扁平化的外观要求，其各尺寸公差应

不超过±0.1mm。

4.5性能特性

传感器的性能特性要求应符合表1的规定。

表1传感器性能特性要求

性能特性要求检验方法

输出信号（mV）0.2~25.4.1

响应率（V/W）≥505.4.2

热电堆电阻（kOhm）≤1505.4.3

噪声（nV/Hz½）≤495.4.4

噪声等效功率（nW）≤0.55.4.5

归一化探测率（cm•Hz1/2/W）≥1×1085.4.6

热响应时间（ms）≤205.4.7

视场角（°）≤905.4.8

温度检测：5.5μm～14

μm或8μm～14μm；

光谱响应范围气体检测：根据被测气5.4.9

体实际光谱确定；