CN110631992B 一种基于荧光耦合出射的光镊纵向定位反馈装置及方法 （南京理工大学）_第1页
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一种基于荧光耦合出射的光镊纵向定位反本发明公开了一种基于荧光耦合出射的光品的激光被扩束后经分光镜和物镜反射聚焦到镜聚焦于信号采集传感器后计算其不同角度区了传统光镊系统中荧光样品纵向定位准确率低2束后经分光镜(1)反射再经物镜(2)聚焦到多层载物片(7)上方并捕获浸没溶液中的荧光样述介质层为纳米量级厚度且由不同折射率的介电材8.采用如权利要求1_7任一项所述的基于荧光耦合出射的光镊纵向定位反馈装置的纵光样品的激光经前置透镜(10)扩束后经分光镜(1)反射再经物镜(2)聚焦到多层载物片(7)集中在若干个不同角度区域，取不同角度区域之间的荧光辐射最弱处对应的角度为分界步骤三：通过收集透镜(8)和信号采集传感器(9)采集分界角度区域所收集的荧光强度比值，依据所制备的多层载物片(7)的结构和偶极子辐射理论计关系，再根据所测量的荧光强度比值得到荧光样品(6)位于浸没溶液(5)之中的纵向位置，9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，步骤34[0004]本发明提出一种基于荧光耦合出射的光镊纵向定位反馈装置及方法以解决传统光镊技术中动态调控光束时样品纵向位置定位5[0013]采用上述所述的基于荧光耦合出射的光镊纵向定位反馈装置的纵向定位反馈方的激光经前置透镜扩束后经分光镜反射再经物镜聚焦到多层载物片上方并捕获浸没溶液角度区域之间的荧光辐射最弱处对应的角度为分深度偶极子在各个角度区域的荧光辐射强度，得到辐射荧光强度比值和纵向深度的关系，6置前置透镜也有利于各种复杂矢量光束在光镊[0025]图2为实施例中依多层载物片结构所计算的纵向位置与分界角外内比值的关系镜10扩束后经分光镜1反射再经物镜2聚焦到多层载物片7上方并捕获浸没溶液中的荧光样7样品的激光经前置透镜10扩束后经分光镜1反射再经物镜2聚焦到多层载物片7上方并捕获度区域所收集的荧光强度比值，依据所制备的多层载物片7的结构和偶极子辐射理论计算[0040]步骤一中所述多层载物片7的制备方法包括：在透明基底上交替沉积不同折射率述多层载物玻片7的介质层厚度可以根据待测荧光样品6的不同[0046]进一步地，所述多层载物玻片7的聚合物层为聚甲基丙烯酸甲酯层，其厚度为8[0049]进一步地，所述前置透镜10可以根据电控精密位移台所收到的信号而改变位[0058]本实施例所述的纵向定位反馈法可以在保证光镊实验中定位精度的同

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