CN111323626B 集成于mcu的开盖检测电路和基于mcu的开盖检测方法 （深圳市锐能微科技有限公司）

集成于MCU的开盖检测电路和基于MCU的开一种集成于MCU的开盖检测电路和电能表控制芯片，基于电表的电能存储设备独立供电工作，实时时钟模块和其他模块都可以低功耗运能存储设备供电的情况下，还能通过MCU的开盖和电路通过检测开关检测引脚的电平状态变化并以预设规则确定是否有开盖或者闭盖事件发2件的检测信号，所述预设规则指的是配置开盖检测引脚的电平状态变化后保持的最短时开盖记录模块，与所述开盖检测模块和所述实时时钟模边沿判断单元，用于在所述最短时间与所述累加时间相等时，比较所述开盖检3.如权利要求1所述的集成于MCU的开盖4.如权利要求3所述的集成于MCU的开盖检测电路，其特检测开盖检测引脚的电平状态变化并确定是否有开盖或者闭盖事接收所述检测信号，并获取所述开盖检测引脚的电平状态变化时所述检测开盖检测引脚的电平状态变化并确定是否有开盖或者闭盖事件发生的步骤，在所述最短时间与所述累加时间相等时，控制累加器停止计数述开盖检测引脚的电平状态保持在一种状态34电信息采集系统事件记录中电能表事件的1级紧急事件，其意义为包括用户有疑似窃电行[0004]本发明的目的在于提供一种集成于MCU的开盖检测电路和基于MCU的开盖检测方5述最短时间与所述累加时间相等时控制所述累[0019]检测开盖检测引脚的电平状态变化并以预设规则确定是否有开盖或者闭盖事件开盖检测引脚当前的电平状态和上一次的电平状态以确认[0028]本发明实施例的第三方面提供了一种电能表控制芯片，包括上述的集成于MCU的[0029]上述的集成于MCU的开盖检测电路和基于MCU的开盖检测方法基于电表的电能存6[0038]MCU(MicrocontrollerUnit；微控制单元)又称单片微型计算机(SingleChip表内的电池，使在只有电池供电的情况下，通过MCU芯片内部低功耗电路进行电表开盖检部存储器进行通信,发送开盖或者闭盖事件到外部存储器，比如EEPROM，使数据掉电不丢7[0046]请参阅图3，在其中一个实施例中，开盖检测模块120包括滤波单元121、累加器[0047]滤波单元121用于配置开盖检测引脚key的电平状态保持最短累加器122与开盖检测引脚key连接，用于计算开盖检测引脚key的电平状态变化后保持在累加时间相等时，比较开盖检测引脚key当前的电平状态和上一次的电平状态以确认是否过该总线接口配置开盖检测模块120内部寄存器或者读取硬件模块内部电路值，可以理解间大于1ms，从而滤除该干扰源。累加器122主要用于计算开盖检测引脚key电平稳定的时8间寄存器分别用于在接收到开盖、闭盖事件的检测信号时从实时时钟模块110获取当前时9开盖检测引脚当前的电平状态和上一次的电平状态以确认[0066]在其中一个实施例中，所述预设最短时间为预先配置的所述开盖检测引脚key的[0067]上述的集成于MCU的开盖检测电路和基于MCU的开盖检测方法基于电表的电能存[0068]本发明实施例的第三方面提供了一种电能表控制芯片，包括上述的集成于MCU的[0069]电能表控制芯片执行所述计算机程序时实现上述各个开盖检测方法实施例中的现上述各开盖检测电路的实施例中各模块/单元的功能，例如图1所示模块110至140的功[0076]所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增