华北理工无机材料岩相分析课件第6章 透明矿物薄片的系统鉴定及粒度测定

第五章偏光显微镜下晶体的光学性质

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透明矿物薄片的系统鉴定■系统鉴定内容1.单偏光镜下观察：晶形、颜色及多色性、解理及夹角、相对折射率（突起、糙面及贝克线移动规律）。2.正交偏光镜下观察：干涉色级序、消光类型及消光角测定、延性符号及双晶等。3.锥光下的观察：轴性、光性正负、2V大小、确定切片方向。第五章偏光显微镜下晶体的光学性质

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透明矿物薄片的系统鉴定4.定向切片的选择：●垂直光轴切片：

★

特点：单偏光下不显多色性，正交镜下全消光，锥光下显一轴晶或二轴晶垂直光轴的干涉图。

★可测定的光学性质：

＊观察No（一轴晶）或Nm（二轴晶）的颜色，测定No或Nm折射率；

＊判断轴性，测定光性符号；

＊估计2V大小（二轴晶）。第五章偏光显微镜下晶体的光学性质

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透明矿物薄片的系统鉴定●平行光轴或光轴面的切片：★

特点：多色性显著，干涉色最高，锥光下为瞬变干涉图。★

可测定的光学性质：

＊观察Ne、No（一轴晶）或Ng、Np（二轴晶）的颜色，多色性明显程度；

＊测定主折射率Ne、No或Ng、Np，观察闪突起；

＊测定最高干涉色级序和最大双折率值；

＊测定单斜晶系最大消光角。第五章偏光显微镜下晶体的光学性质

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透明矿物薄片的系统鉴定■系统鉴定程序1.区分均质体和非均质体均质体:无干涉图；全消光非均质体⊥OA切片：有干涉图四次消光：非均质体除垂直光轴的任意切片2.均质体矿物的鉴定单偏光下观察晶形、解理及夹角测定、相对折射率等。第五章偏光显微镜下晶体的光学性质

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透明矿物薄片的系统鉴定3.非均质矿物的鉴定①单偏光：晶形、解理及夹角、突起（相对折射率）。②正交偏光：消光类型、双晶，测定延性符号等。③选择⊥OA的切片，锥光下据干涉图特点确定轴性、光性正负。若为二轴晶，估计2V大小。单偏镜下，若为有色矿物，观察No或Nm的颜色。④选择∥OA（或AP）的切片，正交镜下测定干涉色级序、双折率大小。若为有色矿物，使Ne(或Ng)∥PP，单偏镜下观察Ne(或Ng)颜色；转物台90°使No（或Np）∥PP,观察No或Np的颜色。同时观察多色性明显程度、吸收性及闪突起等。

第六章矿物颗粒大小和含量的测定一、

矿物颗粒大小的测定

☆粒状矿物测其平均直径，板状、柱状或长条状矿物需测定其最长径和最短径。

☆用目镜测微尺来测定。

☆目镜测微尺上每一小格所代表的实际长度因显微镜的放大倍数不同而异。测定前需用物台测微尺对目镜测微尺的刻度值进行标定。☆物台测微尺镶于玻璃片或金属片上的圆圈中，尺长2mm分成200小格或1mm分成100小格，每一小格为0.01mm。（P128）★标定方法：⒈把物台测微尺放在载物台上对准焦距。⒉移动物台测微尺，使之和目镜测微尺零点对齐，仔细观察两个测微尺的分格线再次重合的部位。＊如目镜测微尺50小格与物台测微尺48小格相当，则目镜测微尺每小格代表的实际长度为：

48/50×0.01mm=0.0096mm▲通式：格值=（物台测微尺格数/目镜测微尺格数）×0.01mm

第六章矿物颗粒大小和含量的测定二、矿物百分含量的测定

※矿物的百分含量指矿物在岩石（制品）中所占体积百分比，在矿片中用面积百分比来表示。测定方法很多，如面测法、线测法、目估法、自动测定（图象分析仪）等。

※要求精度不高时，用目估比较法。一般用