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文档简介
/压力容器无损探伤人员理论知识考卷一、单选题(共50题,每题1分,计50分)1.压力容器无损探伤人员在进行射线检测时,应优先选择哪种透射方式?A.穿透式B.反射式C.漏射式D.激发式2.磁粉探伤适用于检测哪种缺陷类型?A.表面开口裂纹B.内部气孔C.表面下微小裂纹D.疲劳裂纹3.超声波探伤中,常用哪种探头进行检测?A.电磁探头B.电阻探头C.压电探头D.光电探头4.压力容器焊缝表面质量检测时,磁粉探伤的灵敏度通常比渗透探伤高多少?A.10%B.20%C.30%D.40%5.射线探伤中,使用Cr-Kα射线源时,其主峰能量约为多少?A.35keVB.58keVC.65keVD.80keV6.压力容器焊缝内部缺陷检测时,超声波探伤的分辨率通常比射线探伤高多少?A.1倍B.2倍C.3倍D.4倍7.磁粉探伤中,使用干式磁粉时,通常采用哪种方法施加磁粉?A.喷涂法B.滴涂法C.气雾法D.压涂法8.射线探伤中,使用Co-60射线源时,其半衰期约为多少?A.5.27年B.6.04年C.5.53年D.6.28年9.超声波探伤中,常用哪种方法测量声速?A.时基法B.相位法C.频率法D.幅值法10.磁粉探伤中,使用湿式磁粉时,通常采用哪种方法施加磁粉?A.喷涂法B.滴涂法C.气雾法D.浸涂法11.射线探伤中,使用Mo-Kα射线源时,其主峰能量约为多少?A.17.5keVB.19.6keVC.20.8keVD.22.1keV12.超声波探伤中,常用哪种方法检测表面缺陷?A.探头接触法B.探头耦合法C.探头反射法D.探头透射法13.磁粉探伤中,使用荧光磁粉时,通常采用哪种方法观察缺陷?A.白光观察B.黑光观察C.紫光观察D.红光观察14.射线探伤中,使用Am-241射线源时,其主峰能量约为多少?A.59keVB.60keVC.61keVD.62keV15.超声波探伤中,常用哪种方法检测内部缺陷?A.探头接触法B.探头耦合法C.探头反射法D.探头透射法16.磁粉探伤中,使用干式磁粉时,通常采用哪种方法施加磁粉?A.喷涂法B.滴涂法C.气雾法D.压涂法17.射线探伤中,使用Cs-137射线源时,其主峰能量约为多少?A.662keVB.660keVC.658keVD.656keV18.超声波探伤中,常用哪种方法测量缺陷深度?A.时基法B.相位法C.频率法D.幅值法19.磁粉探伤中,使用湿式磁粉时,通常采用哪种方法施加磁粉?A.喷涂法B.滴涂法C.气雾法D.浸涂法20.射线探伤中,使用Ir-192射线源时,其主峰能量约为多少?A.364keVB.366keVC.368keVD.370keV21.超声波探伤中,常用哪种方法检测材料内部缺陷?A.探头接触法B.探头耦合法C.探头反射法D.探头透射法22.磁粉探伤中,使用荧光磁粉时,通常采用哪种方法观察缺陷?A.白光观察B.黑光观察C.紫光观察D.红光观察23.射线探伤中,使用Co-60射线源时,其主峰能量约为多少?A.1.17MeVB.1.33MeVC.1.17MeVD.1.33MeV24.超声波探伤中,常用哪种方法测量声速?A.时基法B.相位法C.频率法D.幅值法25.磁粉探伤中,使用干式磁粉时,通常采用哪种方法施加磁粉?A.喷涂法B.滴涂法C.气雾法D.压涂法26.射线探伤中,使用Cs-137射线源时,其主峰能量约为多少?A.662keVB.660keVC.658keVD.656keV27.超声波探伤中,常用哪种方法检测表面缺陷?A.探头接触法B.探头耦合法C.探头反射法D.探头透射法28.磁粉探伤中,使用湿式磁粉时,通常采用哪种方法施加磁粉?A.喷涂法B.滴涂法C.气雾法D.浸涂法29.射线探伤中,使用Ir-192射线源时,其主峰能量约为多少?A.364keVB.366keVC.368keVD.370keV30.超声波探伤中,常用哪种方法检测材料内部缺陷?A.探头接触法B.探头耦合法C.探头反射法D.探头透射法31.磁粉探伤中,使用荧光磁粉时,通常采用哪种方法观察缺陷?A.白光观察B.黑光观察C.紫光观察D.红光观察32.射线探伤中,使用Co-60射线源时,其主峰能量约为多少?A.1.17MeVB.1.33MeVC.1.17MeVD.1.33MeV33.超声波探伤中,常用哪种方法测量声速?A.时基法B.相位法C.频率法D.幅值法34.磁粉探伤中,使用干式磁粉时,通常采用哪种方法施加磁粉?A.喷涂法B.滴涂法C.气雾法D.压涂法35.射线探伤中,使用Cs-137射线源时,其主峰能量约为多少?A.662keVB.660keVC.658keVD.656keV36.超声波探伤中,常用哪种方法检测表面缺陷?A.探头接触法B.探头耦合法C.探头反射法D.探头透射法37.磁粉探伤中,使用湿式磁粉时,通常采用哪种方法施加磁粉?A.喷涂法B.滴涂法C.气雾法D.浸涂法38.射线探伤中,使用Ir-192射线源时,其主峰能量约为多少?A.364keVB.366keVC.368keVD.370keV39.超声波探伤中,常用哪种方法检测材料内部缺陷?A.探头接触法B.探头耦合法C.探头反射法D.探头透射法40.磁粉探伤中,使用荧光磁粉时,通常采用哪种方法观察缺陷?A.白光观察B.黑光观察C.紫光观察D.红光观察41.射线探伤中,使用Co-60射线源时,其主峰能量约为多少?A.1.17MeVB.1.33MeVC.1.17MeVD.1.33MeV42.超声波探伤中,常用哪种方法测量声速?A.时基法B.相位法C.频率法D.幅值法43.磁粉探伤中,使用干式磁粉时,通常采用哪种方法施加磁粉?A.喷涂法B.滴涂法C.气雾法D.压涂法44.射线探伤中,使用Cs-137射线源时,其主峰能量约为多少?A.662keVB.660keVC.658keVD.656keV45.超声波探伤中,常用哪种方法检测表面缺陷?A.探头接触法B.探头耦合法C.探头反射法D.探头透射法46.磁粉探伤中,使用湿式磁粉时,通常采用哪种方法施加磁粉?A.喷涂法B.滴涂法C.气雾法D.浸涂法47.射线探伤中,使用Ir-192射线源时,其主峰能量约为多少?A.364keVB.366keVC.368keVD.370keV48.超声波探伤中,常用哪种方法检测材料内部缺陷?A.探头接触法B.探头耦合法C.探头反射法D.探头透射法49.磁粉探伤中,使用荧光磁粉时,通常采用哪种方法观察缺陷?A.白光观察B.黑光观察C.紫光观察D.红光观察50.射线探伤中,使用Co-60射线源时,其主峰能量约为多少?A.1.17MeVB.1.33MeVC.1.17MeVD.1.33MeV二、多选题(共10题,每题1分,计10分)51.压力容器无损探伤中,常用的无损检测方法有哪些?A.射线探伤B.超声波探伤C.磁粉探伤D.渗透探伤E.气相色谱分析52.射线探伤中,常用的射线源有哪些?A.Co-60B.Cs-137C.Ir-192D.Am-241E.X射线管53.超声波探伤中,常用的探头类型有哪些?A.直探头B.斜探头C.楔探头D.探测器E.频率计54.磁粉探伤中,常用的磁粉类型有哪些?A.干式磁粉B.湿式磁粉C.荧光磁粉D.磁悬液E.磁粉膏55.射线探伤中,常用的胶片类型有哪些?A.灵敏胶片B.高分辨率胶片C.特殊胶片D.普通胶片E.纸张胶片56.超声波探伤中,常用的缺陷类型有哪些?A.裂纹B.气孔C.夹杂物D.未焊透E.表面缺陷57.磁粉探伤中,常用的缺陷类型有哪些?A.裂纹B.气孔C.夹杂物D.未焊透E.表面缺陷58.射线探伤中,常用的缺陷类型有哪些?A.裂纹B.气孔C.夹杂物D.未焊透E.表面缺陷59.超声波探伤中,常用的检测方法有哪些?A.探头接触法B.探头耦合法C.探头反射法D.探头透射法E.探头反射法60.磁粉探伤中,常用的检测方法有哪些?A.喷涂法B.滴涂法C.气雾法D.浸涂法E.压涂法三、判断题(共40题,每题1分,计40分)61.射线探伤适用于检测压力容器焊缝表面的缺陷。(×)62.超声波探伤的分辨率通常比射线探伤高。(√)63.磁粉探伤适用于检测压力容器焊缝内部的缺陷。(×)64.射线探伤中使用Co-60射线源时,其主峰能量约为1.17MeV。(√)65.超声波探伤中,常用时基法测量缺陷深度。(√)66.磁粉探伤中使用干式磁粉时,通常采用喷涂法施加磁粉。(√)67.射线探伤中使用Cs-137射线源时,其主峰能量约为662keV。(√)68.超声波探伤中,常用探头接触法检测表面缺陷。(√)69.磁粉探伤中使用湿式磁粉时,通常采用浸涂法施加磁粉。(√)70.射线探伤中使用Ir-192射线源时,其主峰能量约为364keV。(√)71.超声波探伤中,常用探头耦合法检测材料内部缺陷。(√)72.磁粉探伤中使用荧光磁粉时,通常采用白光观察缺陷。(×)73.射线探伤中使用Co-60射线源时,其主峰能量约为1.33MeV。(×)74.超声波探伤中,常用相位法测量声速。(√)75.磁粉探伤中使用干式磁粉时,通常采用滴涂法施加磁粉。(×)76.射线探伤中使用Cs-137射线源时,其主峰能量约为660keV。(×)77.超声波探伤中,常用探头反射法检测表面缺陷。(×)78.磁粉探伤中使用湿式磁粉时,通常采用气雾法施加磁粉。(×)79.射线探伤中使用Ir-192射线源时,其主峰能量约为366keV。(×)80.超声波探伤中,常用探头透射法检测材料内部缺陷。(√)81.磁粉探伤中使用荧光磁粉时,通常采用黑光观察缺陷。(×)82.射线探伤中使用Co-60射线源时,其主峰能量约为1.17MeV。(√)83.超声波探伤中,常用时基法测量声速。(√)84.磁粉探伤中使用干式磁粉时,通常采用喷涂法施加磁粉。(√)85.射线探伤中使用Cs-137射线源时,其主峰能量约为662keV。(√)86.超声波探伤中,常用探头接触法检测表面缺陷。(√)87.磁粉探伤中使用湿式磁粉时,通常采用浸涂法施加磁粉。(√)88.射线探伤中使用Ir-192射线源时,其主峰能量约为364keV。(√)89.超声波探伤中,常用探头耦合法检测材料内部缺陷。(√)90.磁粉探伤中使用荧光磁粉时,通常采用紫光观察缺陷。(×)91.射线探伤中使用Co-60射线源时,其主峰能量约为1.33MeV。(×)92.超声波探伤中,常用相位法测量声速。(√)93.磁粉探伤中使用干式磁粉时,通常采用滴涂法施加磁粉。(×)94.射线探伤中使用Cs-137射线源时,其主峰能量约为660keV。(×)95.超声波探伤中,常用探头反射法检测表面缺陷。(×)96.磁粉探伤中使用湿式磁粉时,通常采用气雾法施加磁粉。(×)97.射线探伤中使用Ir-192射线源时,其主峰能量约为366keV。(×)98.超声波探伤中,常用探头透射法检测材料内部缺陷。(√)99.磁粉探伤中使用荧光磁粉时,通常采用红光观察缺陷。(×)100.射线探伤中使用Co-60射线源时,其主峰能量约为1.17MeV。(√)【标准答案及解析】一、单选题1.A2.C3.C4.C5.B6.B7.A8.A9.A10.D11.B12.A13.B14.A15.C16.A17.A18.A19.D20.A21.C22.B23.A24.A25.A26.A27.A28.D
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