DFT 设计工程师考试试卷及答案

DFT设计工程师考试试卷及答案DFT设计工程师考试试卷及答案一、填空题（共10题，每题1分）1.扫描设计中，普通触发器被替换为______。2.最常用的固定故障模型是______故障。3.MBIST主要用于测试______单元。4.ATPG的全称是______。5.扫描测试包含______和捕获两种模式。6.DFT的核心目的是提高电路的______。7.Transition故障测试需要______个连续的测试向量。8.LBIST的中文全称是______。9.扫描链长度增加会导致______时间延长。10.测试覆盖率是检测到的故障数与______的比值。二、单项选择题（共10题，每题2分）1.扫描触发器与普通触发器的主要区别是？（）A.增加扫描输入/输出端口B.运行速度更快C.芯片面积更小D.功耗更低2.MBIST的测试对象主要是？（）A.组合逻辑电路B.存储单元C.时钟树D.互连线路3.Stuck-at-0故障表示节点？（）A.始终输出逻辑0B.始终输出逻辑1C.无法翻转D.开路4.以下属于ATPG工具的是？（）A.TetraMAXB.PrimeTimeC.DesignCompilerD.ICCompiler5.扫描插入流程的正确顺序是？（）A.定义扫描链→插入扫描触发器→连接扫描链→生成测试向量B.插入扫描触发器→定义扫描链→连接扫描链→生成测试向量C.连接扫描链→插入扫描触发器→定义扫描链→生成测试向量D.生成测试向量→插入扫描触发器→连接扫描链→定义扫描链6.工业界芯片测试覆盖率目标通常不低于？（）A.90%B.80%C.70%D.60%7.LBIST的显著特点是？（）A.无需外部测试向量B.测试速度慢C.覆盖率最高D.面积开销最小8.DFT规则检查不包含以下哪项？（）A.扫描链完整性B.时钟域冲突C.静态时序分析D.未扫描触发器检查9.Transition故障测试的目的是检测？（）A.固定故障B.延迟故障C.开路故障D.短路故障10.扫描测试中shift模式的作用是？（）A.捕获故障响应B.加载测试向量C.复位电路D.验证功能正确性三、多项选择题（共10题，每题2分）1.DFT常用方法包括？（）A.扫描设计B.MBISTC.LBISTD.边界扫描2.常见故障模型类型有？（）A.stuck-atB.transitionC.pathdelayD.bridging3.扫描设计的优点包括？（）A.提高测试覆盖率B.简化测试向量生成C.减少测试时间D.降低芯片面积4.MBIST的组成部分有？（）A.BIST控制器B.测试向量生成器C.响应分析器D.存储单元阵列5.ATPG的输入文件包括？（）A.设计网表B.故障模型定义C.扫描链信息D.时序约束6.扫描链设计需考虑的因素有？（）A.链长度B.时钟skewC.测试功耗D.芯片面积7.边界扫描（IEEE1149.1）的功能包括？（）A.测试芯片间互连B.板级电路诊断C.在线编程D.存储单元测试8.DFT对芯片设计的影响有？（）A.增加芯片面积B.提高可测试性C.降低功能功耗D.影响时序性能9.影响测试覆盖率的因素有？（）A.故障模型选择B.扫描链设计C.ATPG工具算法D.设计复杂度10.LBIST的适用场景包括？（）A.嵌入式系统现场测试B.高速逻辑电路测试C.低功耗芯片设计D.批量生产芯片测试四、判断题（共10题，每题2分）1.扫描触发器是在普通触发器基础上增加扫描输入/输出端口。（）2.MBIST只能测试RAM，无法测试ROM。（）3.ATPG可以生成覆盖所有故障的测试向量。（）4.Transition故障测试需要两个连续的测试向量。（）5.LBIST不需要外部测试设备即可完成测试。（）6.扫描链越长，测试时间越短。（）7.边界扫描遵循IEEE1149.1标准。（）8.DFT设计会增加芯片的功能功耗。（）9.测试覆盖率达到100%在实际工程中难以实现。（）10.存储单元的测试只能通过MBIST完成。（）五、简答题（共4题，每题5分）1.简述扫描设计的基本原理。2.什么是MBIST？其主要组成部分有哪些？3.简述ATPG的工作流程。4.列举DFT设计中常见的规则检查项目。六、讨论题（共2题，每题5分）1.讨论DFT设计中面积、功耗与测试覆盖率之间的权衡关系。2.分析LBIST与ATPG在实际工程中的应用场景差异。答案：一、填空题1.扫描触发器2.stuck-at3.存储4.自动测试向量生成5.shift（移位）6.可测试性7.两（2）8.逻辑内置自测试9.测试10.总故障数二、单项选择题1.A2.B3.A4.A5.A6.A7.A8.C9.B10.B三、多项选择题1.ABCD2.ABCD3.ABC4.ABCD5.ABCD6.ABCD7.ABC8.ABD9.ABCD10.AC四、判断题1.√2.×3.×4.√5.√6.×7.√8.√9.√10.×五、简答题1.扫描设计将普通触发器替换为扫描触发器，串联成扫描链。测试时通过移位加载向量，功能时钟捕获响应，再移位移出结果对比，实现内部节点可控可观测，提升测试覆盖率。2.MBIST是内存内置自测试，针对存储单元。组成包括BIST控制器（流程控制）、测试向量生成器（如March算法）、响应分析器（结果对比）、存储阵列（被测对象），无需外部设备快速检测故障。3.ATPG流程：导入网表、故障模型及扫描信息；故障仿真识别未覆盖故障；算法生成测试向量；验证向量有效性；输出向量用于测试，核心是自动生成向量提高覆盖率。4.常见规则检查：扫描链完整性、扫描使能连接正确性、时钟域一致性、无未扫描触发器、链负载均衡、测试点合理性、覆盖率达标等，确保DFT设计合规。六、讨论题1.DFT需平衡三者：增加扫描链或测试点提升覆盖率，但增加面积和功耗；MBIST覆盖存储但增加电路开销。需根据需求调整：高覆盖率优先则加扫描逻辑，低功耗优先则优化链长。综合场景，在满足覆盖率下最小