《家用和类似用途电器用发光组件技术规范》

1家用和类似用途电器用发光组件技术规范本文件规定了家用和类似用途电器用发光组件（以下简称“发光组件”）的技术要求，描述了相应的试验方法。本文件适用于发光组件的设计、生产、质量检验及交付。本文件不适用于照明为基本功能的可独立使用的发光组件，如：风扇中的灯具、浴霸中的灯具、电动晾衣机中的灯具。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T2423.17环境试验第2部分：试验方法试验Ka：盐雾GB/T2423.55环境试验第2部分：试验方法试验Eh：锤击试验GB/T4706.1—2024家用和类似用途电器的安全第1部分：通用要求GB/T17626.2电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验GB/T17626.5电磁兼容试验和测量技术浪涌（冲击）抗扰度试验GB26572电器电子产品有害物质限限制适用要求GB/T30117.1非相干光产品的光生物安全第1部分：通用要求GB/T31897.201灯具性能第2-1部分：特殊要求LED灯具GB/T39560电子电气产品中某些物质的测定GB44703光辐射安全通用要求下列术语和定义适用于本文件。3.1应用于家用和类似用途电器产品上，由单一或多种器件组成的将电能转化为光辐射的发光单元。4.1外观目视检查发光组件外表面应平整光亮、色泽均匀、颜色应符合产品技术文件的要求，不应有明显的缩影、划痕、污点、气孔、皱褶、裂纹、变形等缺陷。24.2尺寸发光组件的尺寸应符合产品技术文件的要求。4.3安全4.3.1对触及带电部件的防护按5.4.1的方法试验后，测试手指应不可能接触到发光组件的带电部件。4.3.2绝缘电阻按5.4.2的方法试验，绝缘电阻应不小于100MΩ。4.3.3电气强度按5.4.3的方法试验，试验过程中无闪络、击穿现象。4.3.4泄漏电流按5.4.4试验，试验后泄漏电流不应大于0.25mA。4.3.5浪涌按5.4.5试验，发光组件工作应无异常。注：浪涌不适用于安全特低电压供电的发光组件。4.3.6温升按5.4.6的方法试验后，温升应不大于30K。4.3.7冲击强度用于产品外观面的发光组件按5.4.7的方法试验后，应符合4.3.1要求。4.3.8静电放电按5.4.8的方法试验后，发光组件工作应无异常。4.4性能4.4.1光通量对光通量有要求的发光组件，按5.5.1的方法试验，光通量不应低于标称值的90%。4.4.2显色指数、色温或波长对显色指数有要求的发光组件按5.5.2的方法试验，显色指数Ra≥80；色温或波长应符合产品技术文件的要求。4.4.3亮度按5.5.3的方法试验，发光组件亮度不应大于2000cd/m2，不适用于技术规格书给出具体的警告语句或提供具体的防护措施。4.4.4光通维持率按5.5.4的方法试验，测试前后的光通量衰减变化率≤10％。4.4.5高低压特性4.4.5.1按5.5.5.1的方法进行低压特性试验，发光组件应能点亮。4.4.5.2按5.5.5.2的方法进行高压特性试验，发光组件应能点亮，不应有打火现象。4.4.6功率偏差按5.5.6的方法试验，额定功率应符合产品技术文件的要求，功率偏差不应超过±10%。4.4.7开关启停按5.5.7的方法试验后，发光组件均能正常点亮，并且其光通量衰减应不大于20%。4.4.8振动按5.5.8试验后，发光组件应能正常工作，且应符合4.1、4.3.1~4.3.4的要求。4.5环境适应性4.5.1高温存储按5.6.1的方法试验后，发光组件应能正常工作，且应符合4.1、4.3.2~4.3.4的要求。4.5.2高温工作按5.6.2的方法试验后，发光组件应能正常工作，且应符合4.1、4.3.2~4.3.4的要求。4.5.3低温存储按5.6.3的方法试验后，发光组件应能正常工作，且应符合4.1、4.3.2~4.3.4的要求。4.5.4低温工作按5.6.4的方法试验后，发光组件应能正常工作，且应符合4.1、4.3.2~4.3.4的要求。4.5.5冷热冲击按5.6.5的方法试验后，发光组件应能正常工作，且应符合4.1、4.3.1~4.3.4的要求。4.5.6高温高湿按5.6.6的方法试验后，发光组件应能正常工作，且应符合4.1、4.3.2~4.3.4的要求。4.5.7盐雾按5.6.7的方法试验后，发光组件带有金属部件的部分应满足GB/T6461规定的保护等级6以4.6光辐射安全按5.7的方法试验后，发光组件的光辐射安全风险等级不应超过GB44703的低风险级。注：不适用于技术规格书给出具体的警告语句或提供具体的防护措施。44.7有害物质按5.8的方法试验后，有害物质应符合GB26572的要求。5.1一般试验条件除另有规定外，试验应在如下条件下进行：a)环境温度20±5）℃;b)环境相对湿度RH：30%～70%；c)供电电源：可调电源，额定电压或额定电流；d)测试设备和精度（见表1）。表1测试设备和精度序号设备名称设备用途精度1菲林尺测量点状或线状不良0.1mm2兆欧表测量绝缘电阻5%3积分球－光谱辐射计测量显色指数0.14积分球－光谱辐射计测量色温5积分球－光谱辐射计测量波长0.1nm6光度计测量光通量0.01lm7功率测试仪测量功率0.1W8温度检测装置测量温度9湿度检测装置测量湿度拉力计对线束施加拉力0.1N电压表测量电压0.1V电流表测量电流亮度计测量亮度一级以上5.2外观5.3尺寸使用精度不低于0.02mm的测量工具进行测量。5.4安全5.4.1对触及带电部件的防护按GB/T4706.1—2024中第8章规定的方法进行。5.4.2绝缘电阻使用直流500V兆欧表，测量发光组件载流部件与非载流外壳间的绝缘电阻值。5.4.3电气强度除试验电压按表2代替外，试验方法按GB/T4706.1—2024第16章规定的测试方法进行测试。表2绝缘类型对应试验电压部件的绝缘试验电压/V对SELV电压的基本绝缘500对非SELV电压的基本绝缘1000+2U附加绝缘1750+2U双重绝缘和加强绝缘2750+4U注：U为发光组件的额定电压。5.4.4泄漏电流按GB/T4706.1—2024中第16章规定的测试方法，试验电压取额定电压的1.06倍，在试验电压施加后立即进行测量。5.4.5浪涌按GB/T17626.5规定试验试用混合（组合）信号发生器（开路1.5/50μs，短路8/20μs），浪涌经电容耦合网络施加到受试设备供电电源端子上。受试设备和耦合/去耦网络之间的电源线不大于2m，对L-N施加浪涌信号时，信号源阻抗为2Ω,对L-PE,N-PE施加浪涌信号时，信号源阻抗为12Ω,分别在相位0°、90°、180°、270°上对电源线各施加5次正负极性浪涌信号，重复频率为1次/min，按表3进行试验。干扰方式干扰强度干扰次数相线之间1.5kV，8/20μs（Tr/Td）5次正脉冲和5次负脉冲相线与零线之间1.5kV，8/20μs（Tr/Td）5次正脉冲和5次负脉冲相线与保护地线之间2.5kV，1.2/50μs（Tr/Td）5次正脉冲和5次负脉冲中线与保护地线之间2.5kV，1.2/50μs（Tr/Td）5次正脉冲和5次负脉冲注：浪涌不适用于SELV安全特低电压供电的发光组件。5.4.6温升在25℃环境温度工况下，发光组件施加额定电压或额定电流并运行至稳定状态（温度波动不超过±1度）后，测量发光组件的发光LED芯片负极温度。5.4.7冲击强度用弹簧冲击器依据GB/T2423.55对发光组件的外壳或外罩的薄弱点上用0.5J的冲击能量冲击35.4.8静电放电按照GB/T17626.2规定方法，按表4进行试验。6放电方式放电电压/kV放电次数/次接触放电830（15次正极性，15次负极性）空气放电30（15次正极性，15次负极性）注：放电时找出最易受干扰部位进行试验。5.5性能5.5.1光通量按照GB/T26178规定的方法，使用积分球测量。将发光组件按客户规定的发光面朝向或发光面朝下，水平放进的积分球内，对发光组件施加额定电压或额定电流使其正常工作，进行光通量测试。5.5.2显色指数、色温或波长按照GB/T5702及GB/T36979规定的方法，对发光组件施加额定电压或额定电流，用光谱测试仪测量发光组件的显色指数、色温或波长。5.5.3亮度使用精度不低于一级的光电式亮度计或其他符合精度要求的亮度计测试发光组件表面亮度。5.5.4光通维持率LED灯在1.1倍额定电压下，连续工作1000h，然后按5.5.1测量光通量。5.5.5高低压特性5.5.5.1低压特性a)针对输入电源为低于42V的安全特低电压；将电源电压从额定电压以0.1V/s速度慢慢降至额定工作电压85%保持3min；b）针对输入电源为非安全特低电压；将电源电压从额定工作电压以1V/s的速度慢慢降低，达到额定工作电压80%时保持3min。5.5.5.2高压特性a)针对输入电源为低于42V的安全特低电压；将电源电压从输入电压以0.1V/s速度慢慢升至额定工作电压115%保持3min；b）针对输入电源为非安全特低电压；将电源电压从额定工作电压以1V/s的速度慢慢上升，达到额定工作电压120%时保持3min。注：如发光组件标注电压范围的，低压测试的额定电压按标称电压的下限值，高压测试的额定电压按标称电压的上限值。5.5.6功率偏差按照GB/T31897.201规定的方法进行测试。5.5.7开关启停在额定电源电压及电流条件下，发光组件控制开关以5s开，5s关为一个工作循环，共进行10万次循环。5.5.8振动将发光组件固定在振动台上，在10Hz~55Hz~10Hz频率范围内进行扫频振动，振幅1.5mm，每分钟一次倍频，分别在X、Y、Z三个方向各振动2h后，进行5.2和5.4.1~5.4.4测试。5.6环境适应性5.6.1高温存储先使试验箱和试验样品处于试验室温度条件下，然后将试验箱温度以不超过1K/min的变化速率上升到（80±2）℃,待箱内温度达到规定值并稳定72h后，取出在室温下恢复2h后，再进行5.2、5.4.2~5.4.4的试验。5.6.2高温工作先使试验箱和试验样品处于试验室温度条件下，然后将试验箱温度以不超过1K/min的变化速率上升到产品技术文件规定的最高使用环境温度或（60±2）℃（取最大值待箱内温度达到规定值并稳定2h后，按额定电压、电流供电工作48h，再进行5.2、5.4.2~5.4.4的试验。5.6.3低温存储先使试验箱和试验样品处于试验室温度条件下，然后将试验箱温度以不超过1K/min的变化速率下降到（-40±2）℃,待箱内温度达到规定值并稳定72h后，取出在室温下恢复2h后，再进行5.2、5.4.2~5.4.4的试验。5.6.4低温工作先使试验箱和试验样品处于试验室温度条件下，然后将试验箱温度以不超过1K/min的变化速率下降到产品技术文件规定的最低使用环境温度或（-20±2）℃（取最小值），待箱内温度达到规定值并稳