CN119395386A 基于辐射计的透波材料复介电常数测量方法及装置 （华中科技大学）_第1页
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基于辐射计的透波材料复介电常数测量方本发明公开了基于辐射计的透波材料复介电常数测量方法及装置，属于无源微波/毫米波遥感与探测技术领域。方法包括准备N(N≥3)块射率的计算公式拟合输出损耗指数因子Q(εr,2ppppεr=εr'_jεr”rrrr一时长内的辐射计水平极化输出电压Vobjec34.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，得到M个复6.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，步骤(3)中所述样品夹具用于使得入射波束以入射角θ入射至样品上，其中样品为N块不同Npppp4εr=εr'_jεr”rrrr述第一辐射源和第二辐射源用于切换对待测透波材料进行照射的辐5[0002]自然界中，一切物理温度高于绝对零度的物质都以电磁[0003]电磁参数(包括复相对介电常数和复相对磁导率)是描述目标材质信息的核心参pp6pp[0016]εr=εr'_jεr”rrrr录这一时长内的辐射计水平极化输出电压Vo辐射源，第二辐射源作为背景辐射源，记录辐射计T时间内的水平极化输出电压，记为7度面的辐射特性与待测透波材料正表面不一致。此时可以利用吸波材料构建一个“测量[0040]本发明另一方面提供了一种基于辐射计的复介电常数测量装置，包括样品夹具、[0042]所述辐射计用于对透射后的波束进行辐射测量，测量所有厚度的样品p极化透射pppp8[0050]εr=εr'_jεr”rrrr[0055]1、本发明提供的基于辐射计的透波材料复介电常数测量方法及装置通过利用多[0056]2、本发明提供的基于辐射计的透波材料复介电常数测量方法能适用于不同损耗[0057]3、本发明提供的基于辐射计的透波材料复介电常数测量方法的测量工具是辐射9[0069]其中T2U和T2D分别为第二层媒质的自身向上辐射和向下辐射对最终亮温的贡献，[0100]边界的反射率T1和T2为菲涅尔反射率，水平极化菲涅尔反射[0109](3)利用Levenberg_Marquardt(LM)算法根据下式输入d和γ,拟合输出损耗指数[0124]a1＝_2sin4θcosθ(1+[0130]A+A_＝n'n”rrrr[0137](21)调整可升降支架和可调角度样品夹具，使得辐射计对准待测透波材料的中面，作为背景辐射源，测量时长等于T，记录这一时长内的辐射计水平极化输出电压[0138](22)保持吸波材料静止不动，取下样品，记录辐射计t时间内的水平极化输出电[0141](25)测量过程中，若辐射计积分时间为ts，这意味着Vobject__black、Vblack、Vobject_mental和Vmental的数据长度均为T[0144]在本实施例中，待测透波材料选择低损耗材料PP和一般损耗材料soda_lime

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