CN119403676A 拉伸液晶聚合物薄膜、层叠体、电路基板和液晶聚合物薄膜的制造方法 （东洋钢钣株式会社）

2024.12.23PCT/JP2023/0236272023.06.26WO2024/004952JA2024.01.04的通过激光显微镜测定的至少单面的表面粗糙2伸液晶聚合物薄膜的通过激光显微镜测定的面粗糙度Ra(TD)中的任意较大者低于0.7μm，且所述Ra(MD)与所述Ra(T在基于X射线衍射的极点测定中，在使薄膜倾斜45o(Schulz法中的α=45o)的状态下，度与β=225o～315o的积分强度之和为长度方向面取向度＝(长度方向的积分强度一宽度方向的积分强度)/(长度方向的积分强度+宽所述第1工序包括如下步骤：在使所述支撑薄膜贴合于所述未拉伸液晶聚合物薄膜之在所述第2工序中，使拉伸时的温度下的所述支撑薄膜的拉伸应力乘以所述支撑薄膜的截面积而算出的拉伸载荷大于等于使拉伸时的温度下的所述未拉伸液晶聚合物薄膜的拉伸应力乘以所述未拉伸液晶聚合物薄膜的截面积而算出的在所述第2工序中，使拉伸时的温度下的由所述支撑聚合物形成的层的拉伸应力乘以3由所述支撑聚合物形成的层的截面积而算出的拉伸载荷大于等于使拉伸时的温度下的由所述液晶聚合物形成的层的拉伸应力乘以由所述液晶聚合物形成的层的截面积而算出的所述聚酯为选自由聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚萘二甲酸乙二醇酯、聚对4可自由弯曲的挠性印刷基板(FPC)。FPC由信号通过的铜线等导体和保持其的绝缘材料构[0006]作为减少聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜等聚合物薄膜的各向异性的方法，使用了以聚合物薄膜的玻璃化转变温度以上且低于熔点沿与分子取向垂直的方向拉伸薄膜5薄膜冷却凝固前吹送热风使其膨胀的方法(例如专利文献2)；边将多孔质的聚四氟乙烯(PTFE)薄膜加热边贴合于从T模头挤出的液晶聚合物薄膜的两面，在液晶即使不实施这样的处理表面粗糙度也小的液晶聚6膜表面的平滑性的评价不充分，将专利文献3中记载的液晶聚合物薄膜用于FPC的情况下，粗糙度Ra(MD)与宽度方向的表面粗糙度Ra(TD)中的任意较大者低于0.成的层层叠在由前述液晶聚合物形成的层的至少单面的方式挤出成膜状，得到层叠薄膜；7温度下的前述支撑薄膜的拉伸应力乘以前述支撑薄膜的截面积而算出的拉伸载荷大于等于使拉伸时的温度下的前述未拉伸液晶聚合物薄膜的拉伸应力乘以前述未拉伸液晶聚合支撑聚合物形成的层的拉伸应力乘以由前述支撑聚合物形成的层的截面积而算出的拉伸载荷大于等于使拉伸时的温度下的由前述液晶聚合物形成的层的拉伸应力乘以由前述液[0040]本发明的拉伸液晶聚合物薄膜通过通过激光显微镜测定的至少单面的表面粗糙[0042]图2的(a)为比较由接触式的表面粗糙度计和激光显微镜图2的(b)为比较由接触式的表面粗糙度计和激光显微镜测定的微小间隔的凹凸的大小的8[0043]图3为比较本发明的实施方式中的实施例1中的未拉伸液晶聚合物薄膜的拉伸载[0044]图4为比较比较例2中的未拉伸液晶聚合物薄膜的拉伸载荷和多孔质PTFE薄膜的[0050]图2的(a)为比较由接触式的表面粗糙度计和激光显微镜图2的(b)为比较由接触式的表面粗糙度计和激光显微镜测定的微小间隔的凹凸的大小的[0051]如图2的(a)所示，对于接触式的表面粗糙度测定器的触针(N)可以进入的程度的9[0053]本发明的拉伸液晶聚合物薄膜通过通过激光显微镜测定的至少单面的表面粗糙测定的表面粗糙度Ra为0.5μm以下，更优选沿长度方向测定的表面粗糙度Ra(MD方向测定的表面粗糙度Ra(TD)这两者为0.5μm以下。特别优选沿长度方向测定多次的表面粗糙度Ra(MD)的平均为0.5μm以下、且沿宽度方向测定多次而得这2张导体的传输损耗的观点出发，更优选通过激光显微镜测定的拉伸液晶聚合物薄膜的两面的表面粗糙度Ra为0.5μm以下。拉伸液晶聚合物薄膜表面的表面粗糙度RRa(MD)和宽度方向的表面粗糙度Ra(TD)中的任意较大者低于0.7(MD)和表面粗糙度Ra(TD)只要在拉伸液晶聚合物薄膜的一个面上测定至少1满足上述关系即可，优选经多次测定而得到的表面粗糙度Ra(MD)的平均和表面粗糙度Ra[0055]拉伸液晶聚合物薄膜的分子取向的各向异性优选如以下规定的面取向度为规定的范围内。首先，在基于X射线衍射的极点测定中，在使拉伸液晶聚合物薄膜倾斜45°尔比使2,6羟基萘甲酸与对羟基苯甲酸缩聚而得到的液晶聚合物中的110面的衍射强度是类、组成、目标薄膜的性能等而适宜设定。T模头的狭缝间隔没有特别限定，优选0.1~[0062]由上述方法得到的未拉伸液晶聚合物薄膜的厚度没有特别限定，从T模头熔融挤[0063]支撑聚合物薄膜是层叠在未拉伸液晶聚合物薄膜而使用的薄膜以防止拉伸未拉聚合物薄膜与支撑聚合物薄膜的层叠薄膜沿宽度方向(TD)进行拉伸时可以减少未拉伸液[0070]将层叠薄膜进行拉伸时的温度优选设为50～350℃的范围，更优选设为低于液晶设为比液晶聚合物的熔点低80～200℃的温度。通过使将层叠薄膜进行拉伸时的温度为低的2张支撑聚合物薄膜施加的拉伸载荷的总计通常成为大于等于对未拉伸液晶聚合物薄膜[0072]将层叠薄膜拉伸的期间，使得对2张支撑聚合物薄膜施加的拉伸载荷的总计成为[0073]需要说明的是，为了使得对2张支撑聚合物薄膜施加的拉伸载荷的总计成为大于的情况下，可以以对1张支撑聚合物薄膜施加的拉伸载荷成为大于等于对未拉伸液晶聚合[0075]从可以良好地调整对支撑聚合物薄膜施加的拉伸载荷与对未拉伸液晶聚合物薄合物形成的层的单面或两面层叠由支撑聚合物形成的层的方式，将各聚合物挤出为膜状[0079]作为在由液晶聚合物形成的层的单面或两面层叠由支撑机供给的熔融的液晶聚合物和支撑聚合物供给至供料头并合流后，自T模头挤出为膜状的[0080]在第1工序中，通过将液晶聚合物与支撑聚合物分别挤出为膜状从而形成层叠薄膜的情况下，优选在第2工序中以对由支撑聚合物形成的层施加的拉伸载荷成为大于等于对由液晶聚合物形成的层施加的拉伸载荷的方式进行层[0083]层叠体只要可以维持拉伸液晶聚合物薄膜的平滑性和各向异性就可以根据公知[0085]本发明的电路基板具备由上述拉伸液晶聚合物薄膜形成的绝缘体(或电介质)和[0088]上述MSAP法和SAP法等电路基板的制造方法具备如下工序：通过将层叠于薄膜上[0089]本发明的电路基板特别是出于高频信号流过时的传输损耗少的性质而可以用于本发明的电路基板可以用于天线和天线与传输线路一体化而成的液晶聚合物薄膜从0℃以10℃/分钟进行升温时观测到的吸热[0103]使用搭载有白色干涉计的激光显微镜(KEYENCECORPORATION制、型号：VK_[0105]使用接触式表面粗糙度测定器(TOSEIENGINEERING[0107]对于拉伸液晶聚合物薄膜，用试样水平型多功能X射线衍射装置(Rigaku[0110]将未拉伸液晶聚合物薄膜样品切成宽度方向(TD)为120mm、长度方向(MD)为25mm的大小的样品，将样品以卡盘间距20mm、以拉伸方向成为TD的方式安装于拉伸试验机TD的表面粗糙度Ra中的任意较大者记作[0122]接着，对于未拉伸液晶聚合物薄膜的两面和作为支撑聚合物薄膜的聚醚醚酮不对未拉伸液晶聚合物和双轴拉伸PET薄膜的表面进行等离子体处理，在第1辊温度200℃压接后的未拉伸液晶聚合物薄膜与双轴拉伸PET薄膜密合。将拉伸液晶聚合物薄膜的评价[0132]对于未拉伸液晶聚合物薄膜的单面和作为支撑聚合物薄膜的聚醚醚酮(PEEK)薄拉伸液晶聚合物薄膜的单面(表面)，制作未拉伸液[0134]以与实施例1同样的方法，制作在未拉伸液晶聚合物薄膜的两面热压接有PEEK薄速度15m/分钟(拉伸速度2500％/分钟、达到拉伸温度170℃)沿宽度方向(TD)拉伸3倍，将[0146]与实施例1同样地得到未拉伸液晶聚合物薄膜。从该薄膜切出宽度方向(TD)为晶聚合物薄膜的拉伸载荷和多孔质PTFE薄膜的拉伸载[0154]使用表面粗糙度Ra超过1.5μm的聚醚醚酮(PEEK)薄膜(Shin_EtsuPolymerCo.,物层而得到的实施例14的拉伸液晶聚合物薄膜宽度方向的表面粗糙度Ra(TD)中的较大者的值低于0.7μm、且表面粗糙度Ra[0166]使用液晶聚合物与支撑聚合物(PEEK)的共挤出薄膜也得到了拉伸聚合物薄膜(实施例14)，表面粗糙度Ra也与在同一条件下进行了拉伸的拉伸液晶聚合物薄膜与支