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Si基ZnO异质结二极管的制备方法和改进分析案例目录TOC\o"1-3"\h\u7807Si基ZnO异质结二极管的制备方法和改进分析案例 图1.7所示。从XRD图谱可以看出,所有样品中只观察到[002]衍射峰,这种情况证实了所得样品都是六方纤锌矿晶体结构。当反应中的N2增加时,[002]衍射峰向角度小的方向产生了非常小距离的移动,这段微小距离的产生表明了薄膜外表的应力出现了变动。随着N2流量变大,ZnO薄膜的晶粒尺寸逐渐变小,这可能是由于ZnO晶格中Zn原子被N原子取代所致。通过电导率的变化,观察了制备样品的紫外检测性能。与其他样品相比,NZ2样品获得了高的光电流,这可能是由于其高结晶度所致。由于结晶度较高,薄膜中产生的光生电子较多。射频溅射技术适合于制备具有不同N2反应气体流量的异质结构,并可用于薄膜的紫外检测。观察得到所有样品均为纤锌矿结构,表明氮气流量对其晶体结构无影响。观察到,随着N2流量的增加(从5到8sccm),光学带隙开始减小,但随着N2流量的持续增加(从15到18sccm),光学带隙增大。光电二极管表现出快速切换紫外光响应行为。结果表明,n-ZnO/p-Si异质结是一种很好的光电传感器[13]。图STYLEREF1\s4.SEQ图\*ARABIC\s17(NZ1
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