《红外焦平面阵列参数测试方法》

2.12.1.12.1.22.22.32.42.52.62.72.8读出速率pixelrate2.92.102.112.122.132.142.14.12.14.22.152.162.16.12.16.22.172.182.192.202.20.12.20.22.212.222.22.12.22.22.232.23.1像元探测率pixeldetectivity2.23.22.23.32.23.42.242.252.262.27串音cross-talk2.282.29非线性度non-linearity2.30信噪比signal-to-noiseratio2.312.32有效位数effectivebits2.33表1ssFframeFlineτsfQPWEJPsatWVR(i,j)RdhNef NmNEPNETDi,jNETD*Dbb(i,j)*Dbb*DλpDRFPNηSNRCTGFOVMTFNLK----V---------4.1.1测试原理4.1.2测试框图4.1.3测试条件），），4.1.4测试步骤），、T条件下，分别测得的F帧两维数组为VDS[(i,j),T0，f]和VDS[(i,j),T，f]。4.1.5计算4.1.5.1像元响应电压 VDS[(i,j),T0，f]——在黑F——采样总帧数（或行数不小于50）。 VDS[(i,j),T]——在黑体温度T条件下，第i行第j列像元输出信号电压，F次测量的平均值(V)；VDS[(i,j),T，f]——在黑体温度T条件下，第i行第j列像元输出信号电压第f次的测量值（V）。4.1.5.2像元电压响应率（W/cm－2/K－4）；T）；）；）；4.1.5.3平均响应电压4.1.5.4平均响应率4.1.5.5响应率不均匀性4.2.1测试框图4.2.2测试条件4.2.3测试步骤4.2.4计算4.2.4.1像元噪声电压S），4.2.4.2平均噪声电压V4.3.1测试框图4.3.2测试条件4.3.3测试步骤4.3.4计算4.3.4.1像元黑体探测率4.3.4.2平均黑体探测率4.3.4.3平均峰值探测率Gx4.4.1测试框图4.4.2测试条件4.4.3测试步骤4.4.4计算4.4.4.1像元噪声等效温差4.4.4.2平均噪声等效温差4.5.1测试框图4.5.2测试条件4.5.3测试步骤4.5.4计算 Ri,j)……VN(i,j)_4VN>0 ），4.6.1测试框图4.6.2测试条件4.6.3测试步骤4.6.4计算FPN4.7.1测试框图4.7.2测试条件4.7.3测试步骤 4.7.4计算 4.8.1测试框图4.8.2测试条件4.8.3测试步骤4.9.1测试原理4.9.2测试框图4.9.3测试条件4.9.4测试步骤）4.9.5计算4.10.1测试原理4.10.2测试框图4.10.3测试条件4.10.4测试步骤d(m,n)——暗场第m行σsys(m,n)——第m行第n列像元4.10.5计算4.11.1测试框图4.11.2测试条件4.11.3测试步骤4.11.4计算,,4.12.1测试原理4.12.2测试框图4.12.3测试条件），4.12.4测试步骤f——F帧采集数据中的帧号，f∈(1,F)；b)调整积分时间，完成I个采样点的采样，重复采集获I——采样点个数；4.12.5计算4.13.1测试原理4.13.2测试框图4.13.3测试步骤4.13.4计算4.13.4.1像元量子效率4.13.4.2平均量子效率4.14.1测试框图驱动信号驱动信号控制模块计算机辐照源单色仪被测器件信号采集处理4.14.2测试条件4.14.3测试步骤4.14.3.1相对光谱响应4.14.3.2光谱因子4.14.3.3量子效率曲线 4.14.3.4光谱串音光谱串音可按定义计算得到。若只考虑规定λ1~λ2、λ3~λ4波段内探测器的光谱串音，分别计算λ1~在λ1~λ2波段范围内B波段探测器对A波段探测器的光谱串音由式（52）计算，在λ3~λ4波段CTBACTABCTBA——λ1~λ2波段范围内B波段探测器对A波段探测器的光谱串音；CTAB——λ3~λ4波段范围内A波段探测器对B波段探测器的光谱串音；SA——λ1~λ2波段范围内A波段探测器的相对光谱响应曲线与波长轴所围的面积；1~λ2波段范围内B波段探测器的相对光谱响应曲线与波长轴所围的面积SB——λ3~λ4波段范围内B波段探测器的相对光谱响应曲线与波长轴所围的面积；4.15.1测试框图被测器件示波器被测器件示波器计算机驱动信号控制模块4.15.2测试条件4.15.3测试步骤4.15.4计算4.15.4.2读出速率4.16.1测试框图4.16.2测试条件4.16.3测试步骤4.16.4计算i-1，ji-1，ji,j-1i，ji，j+1红外小光点4.17.1测试框图被测器件示波器被测器件示波器计算机驱动信号控制模块4.17.2测试条件4.17.3测试步骤4.17.4计算4.17.4.1数据读出速率4.17.4.2量化位数D4.18.1测试框图4.18.2测试条件4.18.4.2量化步长4.18.3测试步骤4.18.4计算4.18.4.1有效位（AD分辨率） DURE），iS(i,j)——第i行第j列像元对应于辐QS(i,j)——第i行第j列像元对应于辐照功率P的响应电荷（C）。 VTOTDC.2占空因子（fillfactor）C.4像元非线性度(pixelnon-linearity)NLΔR(i,j)——第i行第j列像元在动态范围内响应率的最大变化量(V/W)；