CN119479769A 一种存储芯片的测试方法及测试装置 （合肥康芯威存储技术有限公司）_第1页
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区宿松路3963号智能装备科技园D3栋本发明提供一种存储芯片的测试方法及测通过本发明提供的存储芯片的测试方法及测试2判断所述时间间隔是否小于预设时间阈值，若所述时间间隔小于所述预设时间阈值，依据所述时间间隔大于或等于所述预设时间阈值时，执行的所述读取命令的顺序号，一次执行的所述读取命令的顺序号小于所述读缓存器的容量与每条读取命令中的数据量其中，Y为所述读缓存器填满需要的所述读取命令的条数，且Y或大于预设时间阈值时，执行的所述读取命令的顺序号，M为每条所述读取命令中的数据减小每条所述读取命令中的数据量的值，并重复循环执行向其中，Y为上一个循环过程之后，获取的所述读缓存器填满需要的所述读取命令的条3处理器，运行所述程序指令实现如权利要求1至权利要求9任意一项所4567或等于将读取命令中的数据从存储器203复制到读缓存器2021中，直至读缓存器2021填满骤S101中主机100一次性向存储芯片200发送的读取命令条数乘以每条读取命令中的数据从存储器203复制到读缓存器2021的时间作为等待的200发送多条读取命令时，读取命令位于主机100向存储芯片200发送的顺序。在本实施例8100将执行读取命令发送给存储芯片200的时刻，反馈回传数据的时刻是存储芯片200开始将读取命令中的数据传递给主机100的时刻。当执行指令中的数据存储在存储器203中时，为将闪存块2031中的数据读取出来需要的最小时间。即当存储芯片200接收到一个读取命命令的顺序号等于读缓存器2021填满需要的读取命令的[0047]请参阅图1和图2所示，在本发明一实施例中，当需要获取更加准确的读缓存器9M为上一个循环过程中每条读取命令中的数据量；M1为本次循环过程中每条读取命令中的于预设时间阈值，Y例如为50。则读缓存器2021容量范围为(50_1)×32KB~50×32KB，即也包括外部存储设备。存储器不仅可以用于存储安装于电子设备的应用软件及各类数据，还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出个封装的集成电路所组成，也可以是由多个相同功能或不同功能封装的集成电路所组成，完成特定功能的一系列程序指令段，该指令段用于描述所述程序在所述主机中的执行过

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