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文档简介
项目7NE555芯片测试【项目实施】添加标题任务22NE555的直流参数测试程序设计一、任务描述
根据NE555的引脚功能(表7-1)以及测试电路,完成NE555的直流参数测试程序设计。NE555直流参数测试程序设计任务工单如表7-6所示。【项目实施】添加标题任务22NE555的直流参数测试程序设计二、NE555直流参数测试实现流程NE555的直流参数测试主要包括控制比较器阈值电压、放电管饱和电压、放电管关断漏电流、触发引脚电流、复位引脚电流、低电平输出电压、高电平输出电压等测试。1.控制比较器阈值电压测试控制比较器阈值电压测试方法,就是通过测试机给芯片电源端分别提供5V和15V电压,然后分别测量控制引脚CONT电压,并判断控制比较器阈值电压是否正常。控制比较器阈值电压测试流程如下:(1)打开操作继电器11,将VCC与DB1_+15V连接,为VCC提供15V电压,如图7-9所示;(2)读取控制引脚CONT电压,若控制引脚CONT测得电压值在9~11V,则芯片为良品,否则为非良品;(3)打开用户继电器4,将VCC与DB1_VCC连接,为VCC提供5V电压,如图7-9所示;(4)读取控制引脚CONT电压,若控制引脚CONT测得电压值在2.6~4V,则芯片为良品,否则为非良品;【项目实施】添加标题任务22NE555的直流参数测试程序设计参考NE555控制比较器阈值电压测试流程,测试流程图如图7-12所示。图7-12
控制比较器阈值电压测试流程图【项目实施】添加标题任务22NE555的直流参数测试程序设计2.放电管饱和电压测试
放电管饱和电压测试,也称为放电开关DISCH导通状态电压测试。其测试方法就是通过测试机给芯片电源端电压,然后向放电引脚DISCH提供4.5mA电流,测量放电引脚电压,并判断放电管饱和电压是否正常。放电管饱和电压测试流程如下:(1)打开用户继电器4,将VCC与DB1_VCC连接,为VCC提供5V电压;(2)为复位引脚RESET提供0V电压,并向放电引脚DISCH提供4.5mA电流,测量该引脚电压;(3)放电管饱和电压若不大于200mV,则芯片为良品,否则为非良品。【项目实施】添加标题任务22NE555的直流参数测试程序设计2.放电管饱和电压测试
放电管饱和电压测试,也称为放电开关DISCH导通状态电压测试。其测试方法就是通过测试机给芯片电源端电压,然后向放电引脚DISCH提供4.5mA电流,测量放电引脚电压,并判断放电管饱和电压是否正常。放电管饱和电压测试流程如下:(1)打开用户继电器4,将VCC与DB1_VCC连接,为VCC提供5V电压;(2)为复位引脚RESET提供0V电压,并向放电引脚DISCH提供4.5mA电流,测量该引脚电压;(3)放电管饱和电压若不大于200mV,则芯片为良品,否则为非良品。【项目实施】添加标题任务22NE555的直流参数测试程序设计2.放电管饱和电压测试
放电管饱和电压测试,也称为放电开关DISCH导通状态电压测试。其测试方法就是通过测试机给芯片电源端电压,然后向放电引脚DISCH提供4.5mA电流,测量放电引脚电压,并判断放电管饱和电压是否正常。放电管饱和电压测试流程如下:(1)打开用户继电器4,将VCC与DB1_VCC连接,为VCC提供5V电压;(2)为复位引脚RESET提供0V电压,并向放电引脚DISCH提供4.5mA电流,测量该引脚电压;(3)放电管饱和电压若不大于200mV,则芯片为良品,否则为非良品。【项目实施】添加标题任务22NE555的直流参数测试程序设计2.放电管饱和电压测试
参考NE555放电管饱和电压测试流程,测试流程图如图7-13所示。图7-13放电管饱和电压测试流程图【项目实施】添加标题任务22NE555的直流参数测试程序设计3.放电管关断漏电流测试
放电管关断漏电流测试,也称为放电开关DISCH截止状态电流测试。其测试方法就是通过测试机给芯片电源端电压,然后向放电引脚DISCH提供10V电压,测量放电引脚电流,并判断放电管关断漏电流是否正常。
放电管关断漏电流测试步骤如下:图7-14放电管关断漏电流测试流程图(1)打开用户继电器3和用户继电器4,将复位引脚RESET和VCC与DB1_VCC连接,为RESET和VCC提供5V电压,如图7-9所示;(2)向触发引脚TRIG提供1V高电平;(3)向放电引脚DISCH提供10V电压,测量放电引脚电流,即测量放电管关断漏电流;(4)放电管关断漏电流若不大于0.1mA(100nA),则芯片为良品,否则为非良品。参考NE555放电管关断漏电流测试流程,测试流程图如图7-14所示。【项目实施】添加标题任务22NE555的直流参数测试程序设计4.触发引脚电流测试
触发引脚TRIG电流测试方法,就是通过测试机给芯片电源端电压,测量触发引脚端电流,并判断触发引脚TRIG电流是否正常。
触发引脚TRIG电流测试流程如下:(1)打开SW11继电器,将VCC与DB1_+15V连接,为VCC提供15V电压,如图7-9所示;(2)向触发引脚TRIG提供0V电压,测量该引脚电流;(3)触发引脚TRIG电流若不大于2mA,则芯片为良品,否则为非良品。参考NE555触发引脚TRIG电流测试流程,测试流程图如图7-15所示。图7-15
触发引脚TRIG电流测试流程图【项目实施】添加标题任务22NE555的直流参数测试程序设计5.复位引脚电流测试
复位引脚RESET电流测试方法,就是通过测试机给芯片电源端电压,然后分别向复位端提供5V电压和0V电压,测量复位引脚端电流,并判断复位引脚RESET电流是否正常。
复位引脚RESET电流测试流程如下:(1)打开用户继电器4,为VCC提供5V电压;(2)向复位引脚RESET提供5V电压,测量该引脚电流,电流若小于400mA,则芯片为良品,否则为非良品;(3)向复位引脚RESET提供0V电压,测量该引脚电流,电流若大于−1500mA,则芯片为良品,否则为非良品。参考NE555复位引脚RESET电流测试流程,测试流程图如图7-16所示。图7-16
复位引脚RESET电流测试流程图【项目实施】添加标题任务22NE555的直流参数测试程序设计6.低电平输出电压测试
低电平输出电压测试方法,就是通过测试机给芯片电源端分别提供5V和15V电压,然后分别测量输出引脚电压,并判断输出引脚电压是否正常。
低电平输出电压测试流程如下:(1)打开用户继电器4,将VCC与DB1_VCC连接,为VCC提供5V电压;(2)为复位引脚RESET提供0V低电平,并向输出引脚提供5mA电流,测量该引脚电压,电压若不大于0.35V,则芯片为良品,否则为非良品;(3)打开操作继电器11,将VCC与DB1_+15V连接,为VCC提供15V电压;(4)为复位引脚RESET提供0V低电平,并向输出引脚提供50mA电流,测量该引脚电压,电压若不大于0.75V,则芯片为良品,否则为非良品。
参考NE555低电平输出电压测试流程,测试流程图如图7-17所示。【项目实施】添加标题任务22NE555的直流参数测试程序设计6.低电平输出电压测试
参考NE555低电平输出电压测试流程,测试流程图如图7-17所示。图7-17
低电平输出电压测试流程图【项目实施】添加标题任务22NE555的直流参数测试程序设计7.高电平输出电压测试
高电平输出电压测试方法,就是通过测试机给芯片电源端分别提供5V和15V电压,然后分别测量输出引脚电压,并判断输出引脚电压是否正常。(1)打开用户继电器3和用户继电器4,将复位引脚RESET和VCC与DB1_VCC连接,为RESET和VCC提供5V电压;(2)向触发引脚TRIG提供1V高电平,并向输出引脚提供−100mA电流,测量该引脚电压,电压若不小于2.75V,则芯片为良品,否则为非良品;(3)打开用户继电器3,向复位引脚RESET提供5V电压,打开操作继电器11,向VCC提供15V电压;(4)向触发引脚TRIG提供1V高电平,并向输出引脚提供−100mA电流,测量该引脚电压,电压若不小于12.75V,则芯片为良品,否则为非良品。【项目实施】添加标题任务22NE555的直流参数测试程序设计7
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