《集成电路测试》课件 7-CD4511功能测试实现流程_第1页
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文档简介

项目3CD4511芯片测试添加标题项目3CD4511芯片测试二、CD4511功能测试实现流程1.功能测试实现方法

(1)使能灯

测试。使

输入高电平,LE和

输入低电平,A0~A3输入0~9中除8(1000B)以外的任意数,逐一验证Ya~Yg输出是否全为高电平,即显示数字8,测试灯控制引脚是否正常。

(2)显示“0”~“9”测试。使

和

输入高电平,LE输入低电平,A0~A3依次输入数字0(0000B)~9(1001B),逐一验证Ya~Yg输出是否与真值表相符。若符合,则芯片为良品,否则为不良品任务10CD4511的功能测试程序设计添加标题二、CD4511功能测试实现流程2.功能测试流程图

根据功能测试实现方法,CD4511功能测试流程主要包括初始化、使能灯

测试以及显示“0”~“9”测试。CD4511功能测试流程如下:(1)打开电源通道1(FORCE1)向VDD施加5V电压;(2)设置输入高电平为5V、低电平为0V,输出高电平为4V、低电平为1V;(3)设置

、

、LE、A0~A3为输入,设置Ya~Yg为输出;(4)设置为

高电平,设置LE、

、A0~A3为低电平;(5)依次读取被测引脚Ya~Yg的电压值,并保存;(6)判断Ya~Yg的电压值及引脚状态是否符合要求;(7)符合要求的打印显示“pass!”,不符合要求的打印显示“error!”(8)设置

和

为高电平、LE为低电平、A0~A3输入0000;任务10CD4511的功能测试程序设计添加标题二、CD4511功能测试实现流程2.功能测试流程图(9)依次读取被测引脚Ya~Yg的电压值,并保存;(10)判断Ya~Yg的电压值及引脚状态是否符合要求;(11)符合要求的打印显示“pass!”,不符合要求的打印显示“error!”;(12)重复(8)~(11)步骤9次,A0~A3分别输入0001~1001,完成显示1~9的测试。任务10CD4511的功能测试程序设计添加标题二、CD4511功能测试实现流程2.功能测试流程图

参考CD4511功能测试流程,功能测试的初始化及使能灯

测试流程图如图所示。任务10CD4511的功能测试程序设计添加标题二、CD4511功能测试实现流程2.功能测试流程图

显示“0”~“9”测试流程图如图所示。任务10CD4511的功能测试程序设计添加标题二、CD4511功能测试实现流程3.功能测试的测试机专用函数

在CD4511功能测试程序中,主要使用了_on_vpt()、_set_logic_level()、_sel_drv_pin()、_sel_comp_pin()、_set_drvpin()和_read_pin_voltage()等测试机的专用函数。在这里只介绍_read_pin_voltage()函数,其他函数在前面已做介绍。_read_pin_voltage()函数用于读取被测引脚的电压值(V),函数原型是:第1个参数pin是被测引脚号,取值范围是1、2、3、…、16;第2个参数channel是测量电源通道,取值范围是1、2、3、4、5、6。

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