常用指标测试

1、SDH通用指标测试，2、主要内容光口、电源、错误码、抖动和漂移的概念和测试原理和方法。 目标1、光口、电源测试指标概念、测试原理和方法掌握2 .误码性能测试指标概念、测试原理和方法掌握3 .抖动和漂移概念、测试原理和方法掌握设备测试原理、3、光接口类型：应用时站内、站间短光源波长(nm )、1310、131015501550、光纤类型、G.652、g.652 g.652 g.653 g.654、距离(km )2、15 40 80速度STM-1级STM-4 STM-16，I - s-1.1s-1.2l-1.1l-1.3s-4.1s-4.2l-4.2l-4.3s 2 .设备测试原理，5，1，在使用

2、波分复用的情况下，可以提供尽可能多的工作波长，从而引起系统工作波长选择的限制：模式噪声-影响传输质量光纤的衰减-低功率光纤的色散-码间干扰用于850nm:多模式传输2， 1310nm:单模传输中使用的光传输时的色散最小(0色散) 3，1550 nm :用于单模传输，光传输时的衰减最小的光纤传输的三个“窗”:设备测试原理，6，1，G.652光纤：在1310nm波长窗中色散性能最好，1310nm和1550nm两个波长区域的光信号2，G.653光纤(色散移位光纤) :在1550nm处波长窗的色散性能最好，能传输1550nm波长区域的光信号，单波长高速光信号3， 适合传输G.655光纤： 1550nm

3、下波长窗的衰减性能最好，有少量色散的1550nm波长区域的光信号和DWDM光信号，光纤的种类：设备测试原理，7，光接口参数定义：光发送侧，光接收侧， CTX，CRX，s，r，3种光参数：s点光发送参数r点光接收参数S-R间的光参数，参数指标规定的标准：在衰减，分散最差条件下再现级BER110-10，设备测试原理BER，接收光功率，a，b，110-10，a点是接收灵敏度点，b点是光功率过载点，设备测试原理，9，S-R间的光通道参数，1，衰减-光功率的降低2，色散-1dB光通道功率成本3， 反射-干涉噪声引入设备测试原理，10，光端口指标1，平均发射光功率概念：发送器耦合到光纤的伪随机数数据序列的

4、平均功率通过s基准点(光板OUT端口)测试的值。 说明：发送机发送的光功率与传送的数据信号中“1”所占的比例有关，“1”越多发送光功率越大。 当要传送的数据信号是伪随机序列时，“1”和“0”几乎各占一半，并且将这种情况下的光功率定义为平均发送光功率。 设备测试原理，11，光口指标1，平均发送光功率测试块：测试步骤：根据上图，连接电路的SDH设备的一般输入端口不需要发送信号，发送伪随机码的光功率计被设置在被测量波长上，应输出的功率稳定，光功率设备测试原理，12，光口指标2，接收器灵敏度定义：在r基准点(光板IN口)，能达到规定的比特差错率(BER=110-10 )的最低平均光功率。设备测试原理、

5、13、光口指标2、接收器灵敏度测试程序：1)上图连接电路2 )在监视错误码的通道级别，SDH分析仪发送PRBS，向2M分支输入端口(或线路输入端口)发送测试信号3 )调节光衰减器，逐渐调节衰减值虽然SDH分析仪检测出的错误尽可能接近，但在规定的BER (通常BER=10-10 )以下，观测时间为10分钟4 )关闭r点，连接光衰减器和光功率计，读出r点的受光功率即接收机灵敏度。设备测试原理，14，光口指标3，接收机过载功率定义： r基准点(光板IN口)，达到规定错误码(BER=10-10 )的最高平均光功率。 测试方法：与接收灵敏度测试方法相同。 总结：接收器正常工作的范围受到限制：光功率过大时

6、，会产生错误代码，接收光模块可能损坏的光功率弱时，会产生错误代码，或光进入。 光板接收的信号太强，太弱也不行。 如果受光功率不在一定范围内，则偏振片不稳定地动作。 设备测试原理、15、光口指标4、光输入口允许频率偏移定义：光输入口接收信号正常时，输入光信号可允许的最大频率偏移范围。 指标要求：再生器内部振荡器在自由运行方式下的长期频率稳定度不可低于2010-(ppm )。 如果在下游SDH设备的输入端口上接收到这种信号，则可以正常工作。 测试配置：设备测试原理，16，光端口指标4，光输入端口允许频率偏移测试顺序：如图所示连接电路(进行错误码监视的旁路信道环回，同步源设定跟踪线路时钟)。 用被测

7、接口速度等级SDH分析仪(发送)发送适当的测试信号(不施加频率偏移、抖动)。 在被测定机器的输出口用SDH分析仪(接收)接收测试信号，检测错误代码。 仪表应该没有警告错误。 SDH分析器(传输信号)加上正或负频率偏移量(范围20ppm )，在整个过程中不能在被测量设备中发生错误代码。 设备测试原理，17，抖动和漂移的定义：抖动和漂移与系统的时序特性有关。 定时抖动是指数字信号的特定时刻(例如最佳采样时刻)从其理想的时间位置在短时间内偏离。 所谓短时间偏差是指变化频率高于10Hz的相位变化。 此外，漂移是指数字信号的特定时刻从理想的时间位置的长时间的偏差，长时间是指变化频率低于10Hz的相位变化

8、。 设备测试原理，18，抖动性能规范：1)输入抖动允许值：输入抖动允许值分为PDH输入端口的(分支点)和STM-N输入端口(线路端口)两种输入抖动允许值。 a.pdh的输入端口是在设备没有错误代码时，该输入端口可接受的最大输入抖动值。 b、线路口(STM-N )输入抖动可允许值被定义为使光设备产生1dB的光功率成本的正弦波峰值-峰值抖动值。 该参数用于规范当SDH网络元件相互连接来传输STM-N信号时，该类网络元件的输入抖动允许量可以包括由上层网络元件发生的输出抖动。 设备测试原理，19，抖动和漂移性能2 )输出抖动与输入抖动可接受容量相似，还可分为PDH旁路端口和STM-N线端口。 定义在设

9、备输入中没有抖动时，从端口输出的最大抖动。 SDH装置PDH旁路端口的输出抖动在SDH网络下执行PDH业务时，必须确保输出抖动能够经受住接收该PDH信号的装置。 STM-N线路端口的输出抖动必须确保接收此STM-N信号的SDH网络是可接受的。 设备测试原理，20，电源指标1，输入口允许频率偏移的定义：如果电源输入口接收信号正常，则表示可以输入电信号的最大频率偏移范围指标的要求：|50| ppm (详细为G.703 6.1条、8.1条、9.1条测试配置：设备测试原理，21，电源指标测试步骤： a )按照上图连接电路b )将符合G.703标准的衰减电缆连接到pdh/SDH分析器的源端(或模式发生器

10、)，并对pdh/SDH分析器的输出信号进行频率偏移、设备测试原理，22，电源指标2，PDH输入口抖动容许量：传输设备应容许信号传输中可能发生的最大抖动方法： PDH/SDH分析仪的源端(或图形发生器) G.703标准，以确保电信设备正常工作设备测试原理，23，电源指标3，PDH输出抖动：传输设备输出信号的抖动值不能超过接收设备的最大抖动允许值，以保证电信设备正常工作。 方法：将符合G.703标准的衰减电缆连接到PDH/SDH分析仪的始发者(或图形发生器)，调整PDH/SDH分析仪，以使输出信号不抖动，并检查输出抖动值。 设备测试原理，24，错误码是指接收、判断、再生后，在数字码流中的位发生错误

11、，损伤了传输信息的质量。 错误码性能度量(G.821 )测量数字参考电路的错误码性能，所述数字参考电路具有27500km的端到端连接的64kb/s通道(G.821 )基于位错误状况。 随着传输网的传输率越来越高，以位为单位测量系统的错误码性能是有限的。 在ITU-T G.826和M.2100建议中定义的当前高比特率(2M和大于2M的电路)信道的错误编码性能是在块基础上测量的(由B1、B2、B3监视的所有错误编码块) 这些参数的含义是、设备测试原理，25，错误代码性能指示符错误块，在块中的比特发生传输错误时，将该块称为错误块。 块秒(ES )和块秒比(ESR )在一秒钟内发现一个或多个错误代码块

12、时，该秒称为块秒。 在指定的测量时间内发生的块秒数和可用时间之和称为块秒数比。 此外，在设备测试原理中，如果26个严重块秒(SES )和严重块秒比(SSRS )的给定秒内包括30%以上的块，或者至少发生一个严重扰动周期(SDP )，那么该秒被认为是严重块秒。 此处，严重扰动意味着在测量时，在等于最小连续4个块时间或1ms (取两个块中较长的时间)的时段内发生连续块的位错误率10-2或信号损失。 在测量时段中产生的SES的总数与总可用时间的比被称为严重的块秒比(SSR )。 因为重大的块秒通常是由脉冲干扰引起的突发块，所以SESR通常反映了设备的抗干扰能力。 另外，设备测试原理27，错误码性能指标背景块(BBE )和背景块比(BBER )将在SES期间发生的块称为背景块(BBE )。 BBE数与测定时间内不能使用的时间减去SES期间内的全部块数后的总块数的比称为背景块比(BBER )。 如果这个测量时间长，BBER往往反映设备内部发生的错误代码，与设备采用的性能稳定性有关。 电源错误码测试配置：设备测试原理，28，测试步骤1 )根据上图连接电路2 )模式产生器在被测试系统接口的速率等级下选择适当的PRBS，向被测试系统输入端口发送测试信号。 3) 24小时后，从测试表中读出(打印)测试结果。 电口误码测试配置：设备测试原理、29、保护交换测试保护交换标准是以下情况之一：