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文档简介

L,一 薄膜干涉,Ch12.2 薄膜等厚干涉,反射光的光程差,加 强,减 弱,当光线垂直入射时,当 时,(1) 薄膜厚度均匀(d一定)，随入射角 i 变化,若、n1、n2一定，与d、i有关,(2) 入射角i一定(平行光入射)，随薄膜厚度d变化,增透膜和增反膜,利用薄膜干涉可以提高光学器件的透光率 .,取,（增强）,氟化镁为增透膜,则,二 劈尖干涉,明纹,暗纹,LD,暗纹,明纹,各级明暗纹 对应的厚度,相邻明(暗)纹对应薄膜厚度差：,条纹宽度(两相邻暗纹间距),干涉条纹特点:,棱边处 d = 0,形态：平行于棱边，明、暗相间条纹,条纹变密,白光入射出现彩条,空气劈尖充水条纹变密,变化： 静态,动态：思考 (A) 劈尖上表面平行上移，条纹如何变化？,(B) 轻压劈尖上表面，条纹如何变化？,(C) 劈尖底面有一凹槽，条纹形状如何？,1）检验光学元件表面的平整度,2）测细丝的直径,劈尖干涉的应用,三 牛顿环,由一块平板玻璃和一平凸透镜组成,牛顿环实验装置,光程差,暗纹,条纹特点：,条纹为以接触点为中心的明暗相间的同心圆环,条纹的形状取决于膜等厚线的形状：,等价于由角度逐渐增

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