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文档简介

1、一、薄膜干涉,11.3 分振幅干涉,干涉现象,两条光线的光程差,考虑到有半波损失,薄膜干涉分为,增透膜与增反膜,当薄膜上下表面反射回的光 的光程差 时，反射光 干涉相长，该膜即起到“增反” 的作用。,而当 时，反射光 干涉相消，该膜即起到“增透” 的作用。,在玻璃表面镀一层均匀薄膜， 为使可见光中对人眼最敏感 的光反射相消，求膜的最小 厚度。,纹暗,减反膜 增透膜,例1,解,二、等厚干涉,如两块平板玻璃的两个表面间构成很小的夹角,即构成一空气劈尖。,相干光的获得,观察劈尖干涉的装置,1.劈尖,定量讨论干涉条纹的形成：,光程差的计算,n,A,反射光2,反射光1,入射光(单色平行光垂直入射),介质

2、,B,反射光存在半波损失.,+ 半波损失？,当光程差等于波长的整数倍时，出现干涉加强的现象，形成明条纹；当光程差等于半波长的奇数倍时, 出现干涉减弱的现象，形成暗条纹。,设相邻两明（暗）纹间距为l,相邻明纹（或暗纹）所对应的薄膜厚度之差相同,条纹等间距分布,例1.在半导体元件生产中，为了测定硅片上 SiO2 薄膜的厚度，将该膜的一端腐蚀成劈尖状，用波长 =589.3nm的钠光照射后，观察到劈尖上出现9条暗纹，且第9条在劈尖斜坡上端点M 处。已知SiO2 的折射率n =1.46， Si的折射率为3.42，试求SiO2薄膜的厚度。,解：薄膜的厚度e，由暗纹条件, = 2ne,第9条暗纹对应于k =8, e = (2k+1) / 4n,所以SiO2薄膜的厚度为1.72 m。,k= 0, 1, 2,= (2k+1） / 2,根据给定的条件判断在劈尖上总共可以观察到多少条明纹、多少条暗纹,平凸透镜,平晶,一束单色平行光垂直照射到此装置上时，所呈现的等厚条纹是一组以接触点O为中心的同心圆环。,2.牛顿环,实验装置及光路,光程差,明纹中心,暗纹,半径,依据公式,测透镜球面的半径R ： 已知 , 测 m、rk+m、rk，可得R 。,测波长：

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