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1、一、关于锡须试验，三、使用标准和推荐案、四、锡须试验经典案、锡须试验案、二、锡须试验使用的设备介绍， 苏州市电子产品检验站有限公司地址：苏州市吴中道1168号国际教育园电子大厦联络人：陈蓉电话：哥大：站： ，一、关于锡须试验，材料经过焊接后，有会儿之间的保管， 由于焊锡结晶由于内部应力的原因开始发生物理位移，产生锡须现象，对于一些精密的零配件，除了零配件本身因应力而破裂外，产生的锡须还可能引起产品，因此在生产工艺中，对锡生长的实验对元件的可靠性验证越来越重要whiskersseenrightafterplati

2、ngincubationperiodreportedinliteratures : weekscanbeasshortas 80 minverysensitivetocurrentdensitive tagewhiskergrowingdependsonthestressattheinterfaceofplating/base metal，地址：苏州市吴中大道1168号国际教育园电子楼。 电话： 大哥大：站： ，二、锡须试验使用的设备， 回流炉温度范围：常温10 280温度变动度： 0.5温度均匀度： 2作用：

3、模拟焊接中的温度应力引起的材料内部应力的激发，交替湿热箱温度范围： -60 170升降温速度： 0.75/min变动度/均匀度： 0.5/2大气湿度范围：常湿98%R.H大气湿度变动： 2 电子扫描显微镜观察物体表面形态的应用范围有晶圆、密封材料表面的微裂纹观察、截平面观察分析、键合金丝不良和芯片内部物理缺陷观察分析、锡须测定等。 光学显微镜用立体显微镜或金相显微镜观察样品，通常可放大数十几千倍，地址：苏州市吴中大道1168号国际教育园电子大厦电话： 竖中指： 网站： ，三，参考标准和推荐方案，参考标准：

4、JEDEC，地址：苏州市吴中大道1168号国际教育园电子大楼电话： 大哥大：站： ，根据ANSI标准对样品进行采样观察，消除焊点裂纹、焊点损伤或合十礼层现象，识别真正的锡须(多晶和单晶)和合十礼层的挂钩、毛刺) 大哥大：站： ，1 .某零配件公司锡须盒，Whisker seen in Cerquad package，地址：苏州市吴中大道1168号国际教育园电子大楼。 电话： 大哥大：站： ，五，锡须试验盒，2 .某半导体公司锡须盒，地址：苏州市吴中大道1168号国际教育园电子大楼电话： 大哥大：站： ，3 .某芯片公司锡须盒，地址：苏州市吴中大道1

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