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1、首页,首页,BGA虚焊分析报告,制作:XXX 审核:XXX 批准:XXX 日期: M/D/Y,概述,工位 PCB检验 现象 PCB D/C过期,且部分PCB未真空包装, 问题描述 因PCB放置时间过长,造成PCB D/C过期,影响焊接性能,带来潜在的质量风险,需要进行相关实验验证PCB可焊性。,实验 为确认PCB的可焊性,进行了相关的实验,实验过程如下所示: 1、针对未真空包装PCB,随机抽取三片PCB,用肉眼观察PCB外观,未发现异常;用10倍放大镜观察PCB表面,发现PCB 焊盘表面颜色发暗,疑是氧化现象,如下图所示,实验,图中红色部分疑是氧化现象,2、将已拆包装之PCB印刷锡膏,过回流焊
2、,观察焊接效果,锡膏不能均匀分布于PCB焊盘,如下图所示,锡膏未均匀分布于PCB焊盘上,锡膏未均匀分布于BGA焊盘上,实验,实验 3、随机抽取未拆封之真空包装PCB四片,分别为F-SHS、P-ASI、P-DFC、R-GE,真空包完好无损,但真空包装内无温湿度指示卡,用肉眼观察PCB外观,未发现异常;用10倍放大镜观察PCB表面,PCB 焊盘表面无明显变化,如下图所示,CHIP,SOP,F-SHS-BGA-D10,P-DFC-QFP-D19,CHIP,SOP,P-ASI-BGA-D81,P-DFC-SOP-D15,实验,实验 4、将PCB印刷焊料(锡膏)后,观察印刷效果,锡膏可均匀分布在PCB焊
3、盘上,无明显印不上锡膏现象,如下图所示,BGA:锡膏均匀分布于PCB焊盘上,没有明显印不上锡膏现象,CHIP:锡膏均匀分布于PCB焊盘上,没有明显印不上锡膏现象,SOP/QFP:锡膏均匀分布于PCB焊盘上,没有明显印不上锡膏现象,实验,实验 5、将印刷好锡膏之PCB过回流焊进行焊接,观察焊接效果,锡膏均匀分布于PCB焊盘,如下图所示,锡膏均匀分布于PCB焊盘上,焊接效果良好,且PCB无分层、起泡现象,结论,结论 通过上述实验,结论如下: 1、针对真空包装PCB,可焊性良好,且未发现分层,起泡等不良现象,建议投入使用; 2、非真空包装PCB,建议报废处理,非真空包装PCB库存数据如下所示 A、STMRMP1 1PCS B、GEFP 1PCS C、SHSFHD 1PCS D、PAASI 1PCS E、DDFDFC 1PCS 所有板卡PCB库存如附件所示,建议,建议 根据相关实验数据,提出以下建议 1、针对未真空包装PCB,做
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