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1、第七章 原子发射光谱分析法 Atomic Emission Spectroscopy AES,一、定义:光学分析法主要根据物质发射、吸收电磁辐射以及物质与电磁辐射的相互作用来进行分析的。,7.1光学分析法概要 (Introduction to Spectroscopy),二、电磁波谱: 射线: 5140pm; X射线 : 10310nm; 光学区: 101000m; 其中:远紫外区 10200nm; 近紫外区 200380nm; 可见区 380780nm; 近红外区 0.782.5m; 中红外区 2.550m; 远红外区 501000m ; 微波: 0.1cm1m; 无线电波: 1m;,Ele
2、ctromagnetic Spectrum,Mathematical Description of a Wave, = 2 angular velocity phase angle from some reference sine wave,A,Diffraction of Light(衍射),Diffraction of waves occurs when waves of wavelength pass through narrow opening of diameter d or pass a sharp barrier. This is a consequence of wave in
3、terference as discussed above. Diffraction becomes greater as size of opening (d) or spacing between barriers approaches wavelength of light ()., more area on screen than area of slit is Illuminated due to diffraction pathlengths from different point in slit opening to same spot on screen different,
4、Regions of constructive interference (bright),Regions of destructive interference (dark),Refraction(折射), refraction occurs as radiation transmitted from transparent medium of one n (n1) to transparent medium of another n (n2) radiation appears to “bend” or change direction upon passing through inter
5、face refraction described by Snells Law:,Dispersion refers to the apparent “spreading out” in distance or angle when light is diffracted or refracted., treat as packets of energy (photons) whose energy depends on frequency: h Plancks constant = 6.626 x 10-22 erg sec = 6.626 x 10-34 J sec description
6、 of light as particles allows absorption/emission of light by atoms and molecules to be treated,Particle Properties of Light,units:E J, eV, cm-1, erg Hz (sec-1), cm-1 , nm, m,Transmission, light will be transmitted through transparent substance rate of propagation (i.e. velocity, v) always less than
7、 c (speed of light in vacuum) light must interact with the substance in order for it to slow down radiation electric field interacts with electrons of medium degree of interaction given by refractive index, n: n is characteristic of substance at given frequency of radiation variation of n with frequ
8、ency (or ) is called its dispersion,Reflection, reflection also occurs at interface of two media with different n values fraction reflected as n ,i = r, simplest case: for light incident along surface normal (N), intensity of light reflected dependent on refractive index of surface and angle of inci
9、dence,N,(not necessarily transparent),R = reflectivity,Absorption, energy taken by chemical system from incident radiation beam goes to the excitation of transitions between energy levels species usually goes from ground state (E1) to excited state (E2); excited state can be electronic, vibrational
10、or rotational techniques based on absorption: UV-Vis absorption, IR absorption, wave absorption,Emission, electromagnetic radiation can be produced by excited molecules returning to lower E state techniques based on emission: fluorescence, phosphorescence; can be continuous (molecular) or line (atom
11、ic) many cases of emission involve radiation absorption as process populating excited state thermally-induced emission also possible: heat material to excited state; gives off h during de-excitation best known thermal source: Blackbody radiator,三、光学分析法分类(Classification of Spectroscopy) 1.光谱分析方法: 基于测
12、量辐射的波长及强度。这些光谱是由于物质的原子或分子的特定能级的跃迁所产生的, 根据其特征光谱的波长可进行定性分析; 光谱的强度与物质的含量有关,可进行定量分析。 根据辐射的本质,光谱法可分为: 分子光谱和原子光谱. 根据辐射能量传递的方式,光谱方法又可分为: 发射光谱、吸收光谱、 荧光光谱、拉曼光谱等等。,2.非光谱分析法: 不涉及光谱的测定,即不涉及能级的跃迁,而主要是利用电磁辐射与物质的相互作用。 这个相互作用引起电磁辐射在方向上的改变或物理性质的变化,而利用这些改变可以进行分析。,7.2 原子发射光谱分析的基本原理(Principle of AES),概述 产生和发展最早的光学分析方法。
13、 原子发射光谱法是根据待测元素的激发态原子所辐射的特征谱线的波长和强度,对元素进行定性和定量测定的分析方法,主要用于金属元素和部分非金属元素的定性和定量。,(1)原子光谱的产生 原子的核外电子一般处在基态运动,当获取足够的能量后,就会从基态跃迁到激发态,处于激发态不稳定(寿命小于10-8 s),迅速回到基态时,就要释放出多余的能量,若此能量以电磁辐射(光)的形式出现,既得到发射光谱。,特征辐射,激发态M*,E,基态元素M,2020/8/3,能量与光谱,E=E2- E1 = h c/E2-E1 =h c/ = c / =h E2 , E1分别为高能级、低能级的能量,h为普朗克(Planck)常数
14、;及分别为所发射电磁波的频率及波长,c为光在真空中的速度。 h 为普朗克常数(6.62610-34 J.s) c 为光速(2.9979251010cm/s),必须明确如下几个问题: 原子中外层电子(称为价电子或光电子)的能量分布是量子化的,所以E的值不是连续的,原子光谱是线光谱; 同一原子中,电子能级很多,有各种不同的能级跃迁,即可以发射出许多不同的辐射线。但跃迁要遵循“光谱选律”,不是任何能级之间都能发生跃迁;,不同元素的原子具有不同的能级构成,E不一样,各种元素都有其特征的光谱线,从识别各元素的特征光谱线可以鉴定样品中元素的存在,这就是光谱定性分析;,元素特征谱线的强度与样品中该元素的含量
15、有确定的关系,所以可通过测定谱线的强度确定元素在样品中的含量,这就是光谱定量分析。,有关术语: 激发电位(激发能): 原子中某一外层电子由基态激发到高能态所需要的能量,称该高能态为激发电位,以电子伏特(eV)表示; 电离电位(电离能): 把原子中外层电子电离所需要的能量,称为电离电位,以eV表示;,共振线: 原子中外层电子从基态被激发到激发态后,由该激发态跃迁回基线所发射出来的辐射线,称为共振线。 而由最低激发态(第一激发态)跃迁回基态所发射的辐射线,称为第一共振线,通常把第一共振线称为主共振线。 主共振线具有最小的激发电位,因此最容易被激发,一般是该元素最强的谱线;,原子线: 由原子外层电子
16、被激发到高能态后跃迁回基态或较低能态,所发射的谱线称为原子线,在谱线表图中用罗马字“”表示;,离子线: 原子在激发源中得到足够能量时,会发生电离。原子电离失去一个电子称为一次电离,一次电离的离子再失去一个电子称为二次电离,依此类推。离子也可能被激发,其外层电子跃迁也发射光谱,这种谱线称为离子线。,典型发射光谱图,原子发射光谱法的特点 1.多元素同时检出能力 可同时检测一个样品中的多种元素。一个样品一经激发,样品中各元素都各自发射出其特征谱线,可以进行分别检测而同时测定多种元素。,2.分析速度快 试样多数不需经过化学处理就可分析,且固体、液体试样均可直接分析,同时还可多元素同时测定,若用光电直读
17、光谱仪,则可在几分钟内同时作几十个元素的定量测定。,3.选择性好 由于光谱的特征性强,所以对于一些化学性质极相似的元素的分析具有特别重要的意义。如铌和钽、铣和铪、十几种稀土元素的分析用其他方法都很困难,而对AES来说是毫无困难之举。,4.检出限低。 一般可达0.11ugg1,绝对值可达108109g。用电感耦合等离子体(ICP)新光源,检出限可低至数量级。,5.用ICP光源时,准确度高,标准曲线的线性范围宽,可达46个数量级。可同时测定高、中、低含量的不同元素。因此ICPAES已广泛应用于各个领域之中。 6.样品消耗少,适于整批样品的多组分测定,尤其是定性分析更显示出独特的优势。,缺点: 1.
18、在经典分析中,影响谱线强度的因素较多,尤其是试样组分的影响较为显著,所以对标准参比的组分要求较高。 2.含量(浓度)较大时,准确度较差。 3.只能用于元素分析,不能进行结构、形态的测定。 4.大多数非金属元素难以得到灵敏的光谱线。,3.2.3 原子发射光谱分析过程 原子发射光谱分析的过程,一般有光谱的获得和光谱的分析两大过程。具体可分为: 1. 试样的处理 要根据进样方式的不同进行处理:做成粉末或溶液等,有些时间还要进行必要的分离或富集; 2. 样品的激发 在激发源上进行,激发源把样品蒸发、分解原子化和激发。,3. 光谱的获得和记录从光谱仪中获得光谱并进行记录;4. 光谱的检测用检测仪器进行光
19、谱的定性、半定量、定量分析,光谱分析的仪器设备主要由光源、分光系统(光谱仪)及观测系统三部分组成。,7.3 光谱分析仪器 (Instrumental of AES),光源 (1)概述 光源的作用: 蒸发、解离、原子化、激发、跃迁。光源是决定分析的灵敏度和准确度的重要因素。 光源的要求:比较稳定,5000K,重现性好,背景小,谱线简单,安全,前三种光源的结构原理,请同学们花10min自己看书 P204-P206,(2)常用光源 直流电弧 交流电弧 电火花 电感耦合等离子体,电路结构及工作原理: 优点:分析绝对灵敏度高 缺点:重现性差、不宜定量 应用范围,?,1.直流电弧 :基本电路如图7-1所示
20、: 利用直流电作为激发能源。,工作原理: 直流电弧工作时,阴极释放出来的电子不断轰击阳极,使其表面上出现一个炽热的斑点。这个斑点称为阳极斑。阳极斑的温度较高,有利于试样的蒸发。因此,一般均将试样置于阳极碳棒孔穴中。,在直流电弧中,弧焰温度取决于弧隙中气体的电离电位,一般约4000 - 7000K,尚难以激发电离电位高的元素。电极头的温度较弧焰的温度低,且与电流大小有关,一般阳极可达3800。,直流电弧的最大优点是: 电极头温度高(与其它光源比较),蒸发能力强; 缺点是: 放电不稳定,且弧较厚,自吸现象严重,故不适宜用于高含量定量分析,但可很好地应用于矿石等的定性、半定量及痕量元素的定量分析。,
21、2)交流电弧 高压电弧很少使用,低压交流电弧工作电压一般为110220V,典型电路如图7-2所示。 交流电弧的电流密度比在直流电弧中要大,弧温较高(略高于40007000K),所以在获得的光谱中,出现的离子线要比在直流电弧中稍多些 优点:稳定性比直流电弧高,操作简便安全,因而广泛应用于光谱定性、 定量分析, 不足:灵敏度较差些。,2.交流电弧 交流电弧又分为高压交流电弧和低压交流电弧。高压交流电弧的工作电压为20004000V,电流为36A,利用高压直接引弧,由于装置复杂,操作危险,因此实际上已很少采用。,低压交流电弧的工作电压为110220V,设备简单,操作安全,应用较多。 低压交流电弧发生
22、器由高频引弧电路()和低压电弧电路()组成。,220V的交流电通过变压器T1使电压升至3000V左右向电容器充电,将普通的220V交流电直接连接在两个电极间是不可能形成弧焰的。这是因为电极间没有导电的电子和离子,可以采用高频高压引火装置。此时,借助高频高压电流,不断地“击穿”电极间的气体,造成电离,维持导电。,在这种情况下,低频低压交流电就能不断地流过,维持电弧的燃烧。这种高频高压引火、低频低压燃弧的装置就是普通的交流电弧。,交流电弧是介于直流电弧和电火花之间的一种光源,与直流相比,交流电弧的电极头温度稍低一些,但由于有控制放电装置,故电弧较稳定。这种电源常用于金属、合金中低含量元素的定量分析
23、。,3)高压火花:线路如图7-3所示。 这种光源的特点是放电的稳定性好,电弧放电的瞬间温度可高达10000K以上,适用于定量分析及难激发元素的测定。由于激发能量大,所产生的谱线主要是离子线,又称为火花线。但电极头温度较低,因而 试样的蒸发能力 较差,较适合于 分析低熔点的试样。 缺点:灵敏度较差, 背景大,不宜作 痕量元素分析。,4)电感耦合高频等离子体焰炬(ICP) 等离子体:指电离了的但在宏观 上呈电中性的物质.对于部分电离 的气体,只要满足宏观上呈电中 性这一条件,也称为等离子体. 这是当前发射光谱分析中发展 迅速、极受重视的一种新型光源. 作为发射光谱分析激发光源 的等离子体焰炬有多种
24、,ICP是 其中最常用的一种. .,电感耦合高频等离子体 电感耦合高频等离子体(ICP)是本世纪60年代提出,70年代获得迅速发展的一种新型的激发光源。等离子体在总体上是一种呈中性的气体,由离子、电子、中心原子和分子所组成,其正负电荷密度几乎相等。通常,它是由高频发生器、等离子体炬管和雾化器等三部分组成。,在有气体的石英管外套装一个高频感应线圈,感应线圈与高频发生器连接。当高频电流通过线圈时,在管的内外形成强烈的振荡磁场。管内磁力线沿轴线方向。,管外磁力线成椭圆闭合回路。一旦管内气体开始电离(如用点火器),电子和离子则受到高频磁场所加速,产生碰撞电离,电子和离子急剧增加,此时在气体中感应产生涡
25、流。这个高频感应电流,产生大量的热能,又促进气体电离,维持气体的高温,从而形成等离子炬。,为了使所形成的等离子炬稳定,通常采用三层同轴炬管,等离子气沿着外管内壁的切线方向引入,迫使等离子体收缩(离开管壁大约一毫米),并在其中心形成低气压区。这样一来,不仅能提高等离子体的温度(电流密度增大),而且能冷却炬管内壁,从而保证等离子炬具有良好的稳定性。,用Ar做工作气体的优点: Ar为单原子惰性气体,不与试样组份形成难离解的稳定化合物,也不象分子那样因离解而消耗能量,有良好的激发性能,本身光谱简单。,特点202/2;6点. 小结203/-1 : ICPAES具有灵敏度高,检测限低(109-1011g/
26、L),精密度好(相对标准偏差一般为0.5%2%),工作曲线线性范围宽,因此同一份试液可用于从宏量至痕量元素的分析,试样中基体和共存元素的干扰小,甚至可以用一条工作曲线测定不同基体的试样中的同一元素。这就为光电直读式光谱仪了提供了一个理想的光源,ICP发射光谱仪,(3)试样引入激发光源的方法,固体试样 溶液试样 气体试样,(4)光源的选择,选择原则 从分析元素的性质考虑 从分析元素的含量考虑 从试样的性质和形状考虑 从分析要求考虑,几种光源性能比较,1. 作用:将光源发射的电磁波分解为按一定次序排 列的光谱. 2. 方法:看谱法用人眼去接收; 摄谱法用感光板接受; 光电法用光电倍增管、阵列检测
27、器接收 光谱辐射. 3. 类型 :,二、光谱仪 (摄谱仪),1)棱镜摄谱仪 组成:棱镜摄谱仪主要由照明系统、准光系统、色散系统(棱镜)及投影系统(暗箱)四部分组成,如图7-4所示。,光路, 棱镜摄谱仪的光学特性: a.色散率:是把不同波长的光分散开的能力,通常以倒数线色散率来表示:d/dl,即谱片上每一毫米的距离内相应波长数(单位为nm)。色散率越大,波长相邻的两条谱线分得越开 b.分辨率:是指摄谱仪的光学系统能够正确分辨出紧邻两条谱线的能力。 用两条可以分辨开的光谱波长的平均值与其波长差之比值来表示,即R=/。,棱镜摄谱仪的理论分辨率R0 可用下式表示: R0 = mtdn/d 7-2 式中
28、m为棱镜的数目,t为棱镜底边长,n为棱镜材料的折射率, dn/d为棱镜材料的色散率,而mt是棱镜底边的总长度. 由于R0决定于mt,因此多棱镜摄谱仪具有较高的分辨率.但是增加m会减小光的强度,因此最多只使用三个棱镜. 另,R0还与dn/ d有关,棱镜材料不同,由于色散率不同,因而分辨率就不同.对同一材料,色散率还与波长有关,波长愈短,折射率愈大,色散率也就愈大,因此短波部分的谱线一般分得比较开.,c.集光本领:是指摄谱仪光学系统传递辐射的能力,一般大型摄谱仪的集光本领较中型摄谱仪弱. 2)光栅摄谱仪: 光栅摄谱仪应用光栅作为色散元件,利用光的衍射现象进行分光。光栅摄谱仪比棱镜摄谱仪有更高的分辨
29、率,且色散率基本上与波长无关, 它更适用于一些含复杂谱线的元素如稀土元素、铀、钍等试样的分析。 三、观测设备 1.光谱投影仪(映谱仪) 在进行光谱定性分析及观察谱片时需用此设备。一般放大倍数为20倍左右。,2.测微光度计(黑度计) 用来测量感光板上所记录的谱线黑度,主要用于光谱定量分析。在光谱分析时,照射至感光板上的光线越强,照射时间越长,则感光板上的谱线越黑.常用黑度来表示谱线在感光板上变黑程度. 黑度S则定义为: S=lg1/T=lgI0/I 7-3 可见在光谱分析中的所谓黑度,实际上相当于分光光度法中的吸光度A. 测微光度计上具有三种读数标尺: a.直线标尺,即D标尺,相当于分光计的透光
30、度T; b.黑度标尺,即S标尺,相当于分光光度计的透光度A.在光谱分析中应用最多. c.W标尺.,一、概述:通过检查谱片上有无特征谱线的出现来确定该元素是否存在,称为光谱定性分析。 在分析一种元素时,一般只要检测到该元素的少数几条灵敏线或“最后线”,就可确定该元素存在。 灵敏线是指各种元素谱线中最容易激发或激发电位较低的谱线。灵敏线又可称为“最后线”。 。,7.4 光谱定性分析,由激发态直接跃迁至基态时所辐射的谱线称为共振线。 由较低能级的激发态(第一激发态)直接跃迁至基态时所辐射的谱线称为第一共振线,一般也是元素的最灵敏线。 在实际定性分析中。是根据灵敏线或最后线来检测元素的,因此这些谱线又
31、可称为分析线,自蚀线:在光源中谱线的辐射,可以想象它是从光源发光区域的中心轴辐射出来的,它将通过周围空间一段路程,然后向四周空间发射.发光层四周的蒸汽原子,一般比中心原子处于较低的能级,因而当辐射能通过这段路程时,将为其自身的原子所吸收, 而使 谱线中心强度减弱, 这种 现象称为自吸收, 固有谱线 越强,自吸愈 严重,自吸最 强的谱线称为自蚀线. 蒸汽云的半径愈大,自吸也 愈严重.直流电弧自吸最严重. 火花光源自吸最小.,1.比较法:将试样与已知的鉴定元素的化合物在相同的条件下并列摄谱,然后将所得光谱图进行比较,经确定某些元素是否存在。 2.铁光谱比较法: 用铁的光谱来进行比较。将试样和纯铁并
32、列摄谱。因为铁的光谱谱线较多,在我们常用的铁光谱的210.0660.0nm波长范围内,大约有4600条谱线,其中每条谱线的波长,都已作了精确的测定,载于谱线表内。所以用铁的光谱线作为波长的标尺是很适宜的。一般就将各个元素的分析线按波长位置标插在铁光谱图的相应位置上,预先制备了“元素标准光谱图”(fig7-13).,二、光谱定性分析的方法,在进行定性时,只要使元素标准光谱图上的铁光谱谱线与谱片上摄取的铁谱线相重合, 如果试样中未知元素的谱线与标准光谱图中已标明的某元素谱线出现的位置相重合,则该元素就有存在的可能.,3.波长测定法:准确测出该谱线的波长,再从元素的波长表上查出未知谱线相对应的元素.
33、 三、光谱定性分析的操作过程 1.试样处理:将少量粉状试样装入电极小孔中,用电弧光源使试样蒸发到弧焰中去而激发光谱,是一种应用较多的方法. 2.摄谱:多采用中型石英摄谱仪.直流电弧作光源.用哈特曼光阑截取谱线,使感光板在不同部位感光.,哈特曼光阑: 作用:为了避免摄取光谱时感光板移动时,使铁谱与试样光谱的波长位置不一致而造成定性偏差. 原理:哈特曼光阑如图7-15所示,置于狭缝前的导槽内.当此光阑在导槽间移动位置时,光阑的不同缺口(方孔)截取狭缝的不同部位,因而能使摄得的光谱落在感光板的不同位置上. 由于狭缝的位置不变,只是光阑对其以不同高度的截取,所以所得的该组光谱的谱线位置固定不变,便于相
34、互比较,定性查找.,3.检查谱线: 通常用比较法来判断试样中存在的元素,在摄取的光谱中逐条检查灵敏线是光谱定性分析的基本方法; 对于成分复杂的试样,应考虑谱线相互重叠的干扰,一般有两条以上的灵敏线出现,才能确认该元素的存在; .当分析元素灵敏线被其他元素谱线重叠干扰,又找不到其他灵敏线作判断时,则可在该线附近再找出一条干扰元素的谱线进行比较;,.为了避免干扰谱线,也可以考虑用大色散率的摄谱仪来进行摄谱,这样可使波长差别很小的相互干扰的谱线有可能分辨; 为了提高灵敏度和干扰,有时需要将被分析的杂质从分析试样的主要成分中分离出来,然后用分离所得的富集物进行光谱分析.,一、光谱定量基本公式(罗马金公
35、式) 根据被测试样光谱中欲测元素的谱线强度来确定元素浓度。 I =acb 7.4 这是光谱定量分析依据的基本公式.常数a是与试样的蒸发、激发过程和试样组成有关的参数,常数b称为自吸系数,它的数值与谱线的自吸收有关. 对式7.4取对数得: lgI=blgclga 7.5 以lgI对lgc作图,所得曲线 在一定浓度范围内为一直线, 如图7.16所示:,7.5 光谱定量分析 (Quantitative Analysis of AES),二、内标法:实际光谱分析中,常采用内标法。内标法的原理如下: 在被测元素的谱线中选一条线作为分析线; 在基体元素(或定量加入的其它元素)的谱线中选一条与分析线相近的谱
36、线作为内标线(或称比较线), 这两条谱线组成所谓分析线对。 分析线与内标线的绝对强度的比值称为相对强度。 内标法就是借测量分析线对的相对强度来进行定量分析的。,内标法的基本公式: lgR= lgI1/I2 = b1lgclgA 7.10 该式是内标法的基本公式. lgR对lgc所作的曲线就是相应的工作曲线,其形状与图7.16相同。 只要测出谱线的相对强度R,就可以从相应的工作曲线上求得试样中欲测元素的含量。,对内标元素和分析线对的选择应考虑以下几点: (1) 原来试样内应不含或仅含有极少量所加内标元素。也可以选用该基体元素作为内标元素。 (2) 要选择激发电位相同或接近的分析线对。 (3) 两
37、条谱线的波长应尽可能接近。 (4) 所选线对的强度不应相差过大。 (5) 所选用的谱线应不受其它元素谱线的干扰,也应不是自吸收严重的谱线。 (6) 内标元素与分析元素的挥发率应相近。,三、乳剂特性曲线,内标法基本关系式 乳剂特性曲线通常以黑度值S为纵坐标,曝光量的对数lgH为横坐标作图(图7-17)。 此曲线AB部分为曝光不足部分, CD部分为曝光过度部分, BC部分为曝光正常部分。 其斜率为r,则: r = tg 7.11 称为感光板的反衬度, 表示 当曝光量改变时,黑度变化的快慢。 截距为lgHi ,Hi称为乳剂的惰延量。 感光板的灵敏度取决于Hi的大小,Hi愈大,愈不灵敏。 横轴上的投影
38、(bc线段)称为乳剂的展度,表示特性曲线直线部分的曝光量对数的范围。,对于正常曝光部分,S与lgH之间的关系最简单,可用直线方程表示: S=tg(lgHlgHi)=(lgHlgHi) 7.12 lgHi为一定值并以i表示,则: S =lgHi 7.13 暴光量H等于照度E乘以暴光时间t, 因为:EI ,所以 S = lgIt i 7.14,在光谱定量分析中,分析线及内标线的黑度为: S1 =1lgI1t1 i1 7.15 S2 =2lgI2t2 i2 7.16 因为在同一感光板上,曝光时间相等, 即t1 =t2,1 =2 =, i1 = i2 =i, 则分析线对的黑度差S为: . S = S1
39、S2 =lgI1/I2= rlg R 7.17 将式7.10代入上式: S=lgR=b1lg c lg A 7.18 该式为内标法进行定量分析的基本关系式, 表明在一定条件下,分析线对的黑度差与试样中该组分的含量c的对数成线性关系。,例:设在A板上测得均称线对的黑度差 SA=0.87,在B板上测得同一均称线对的黑度差 SB=0.79,B板上某元素分析线对的黑度差 Sx.B=0.48,求将其转换成A板的黑度差 Sx.A应为多少? 解: K= SA/ SB=0.87/0.79=1.10 SX.A= SX.BK=0.481.10=0.53,四、光谱定量分析方法三标准试样法 该法是一种最基本的定量方法,也是使用较广泛的一种方法. 操作:将三个或三个以上标准试样和被分析试样于同一实验条件下摄取光谱于同一感光板上; 由各个标准试样分析线对的黑度差与标准试样中欲测成分的含量c的对数绘制工作曲线(如图);然后由被测试样光谱中 测得分析线对的黑度差, 从工作曲线中即可查得 试样中该成分的含量. 该法即所谓“持久曲线法”.,1.谱线呈现法:当分析元素含量降低时,该元素谱线也逐渐减少,因此在一定实验条件下可籍以进行半定量分析. Pb/% 谱线 /nm 0.001 283.3
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