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文档简介

1、1,3.2结型场效应晶体管,3.3场效应晶体管的应用原理,3.1 MOS场效应晶体管,第3章场效应晶体管,2,概括而言,场效应晶体管是另一种具有正向控制作用的半导体器件。 小型、工艺简单、器件特性容易控制,是目前制造大规模集成电路的主要源器件。场效应晶体管与晶体管的主要区别:场效应晶体管的输入电阻远大于晶体管的输入电阻。 场效应晶体管是单极型器件(三极管是双极型器件)。 场效应晶体管分类:3、3、3,3.1MOS场效应晶体管、n沟道MOS晶体管和p沟道MOS晶体管的工作原理相似,不同的是它们形成电流的载流子的性质不同,所以施加在各极上的电压极性相反。 4、4、4,3.1.1增强型MOS场效应管

2、、n沟道EMOSFET结构示意图、5、n沟道EMOS管外部工作条件、VDS 0(保证漏极衬底PN结偏置)。与u连接电路的最低电位或s极连接(保证源极衬底PN结的反向偏置)。 研究VGS 0(导电沟道形成)、n沟道EMOS管的工作原理、6、n沟道EMOSFET沟道形成原理、假设VDS=0、VGS作用,VGS越大,反转层中的n越多,导电能力越强。 7、基于VDS的信道的控制(假定VGS VGS(th )不变化),在VDS小时VGD VGS。 此时w几乎不变,即Ron不变。 从图VGD=VGS - VDS,VDSID是线性的。 作为VDS的VGD附近的漏极沟道Ron增大。 此时Ron ID会变慢。

3、当VDS增加到VGD=VGS(th )时,在a点出现预夹断,当VDS继续向左移动a点时,出现夹断区域,此时VAS=VAG VGS=-VGS(th) VGS (一定)被忽略,因此,预备击穿另外,考虑到沟道长度调制效果,VDS沟道长度l沟道电阻Ron省略。 因此,VDS ID将被省略。 从上述解析可以描绘出ID随VDS而变化的关系曲线:曲线形状与三极管输出特性相似。 10、MOS管仅由一种载体(多子)导电,因此被称为单极型器件。 由于晶体管中的多子少子同时参与导电,因此被称为双极器件。 利用半导体表面的电场效应,根据栅极源极电压VGS的变化,使感应电荷的多少变化,使感应沟道的宽度变化,控制漏极电流

4、ID。 MOSFET工作原理:11,因为MOS管的栅极电流为零,所以不讨论输入特性曲线。 源组类型特性曲线:伏安特性、传输特性和输出特性反映了与场效应管相同的物理过程,并可以在它们之间相互转换。12、NEMOS管输出特性曲线、非饱和区域、特征:ID由VGS和VDS双方控制。 VGS为常数时,VDSID大致呈线性,表示电阻特性,VDS为常数时,VGS ID表示电压控制电阻的特性。通道预夹前对应的工作区。 因此,非饱和区域也被称为可变电阻区域。13、数学模型:此时,MOS管理可被视为电阻值由VGS控制的线性电阻器:当具有小VDS的MOS管理在非全区域中操作时,ID与VDS之间具有线性关系:其中,w

5、和l是沟道的宽度和长度。 COX (=/OX )是每单位面积的栅极电容。 注意:非饱和区域相当于晶体管的饱和区域。14、饱和区、特征:ID仅受VGS控制,与VDS近似无关,呈现三极管这样的正向控制作用。通道预夹紧断开后对应的工作区。 考虑沟道长度的调制效果,输出特性曲线随着VDS的增加而略微翘曲。 注意:饱和区域(也称为有源区域)对应于三极管的放大区域。15、数学模型:考虑信道长度调制效应,当工作在ID的校正方程:饱和区域中时,MOS管的前向控制作用被称为平方律关系式:其中,信道长度调制系数的值与l相关。 通常=(0. 0050.03 ) v-1,16,断路区,特点:相当于MOS管的3个电极断

6、开。 未形成通道时的工作区,条件:VGS VGS(th )、ID=0以下的工作区。 IG 0、ID 0、击穿区域、VDS增大到一定值后,漏极线PN结雪崩击穿ID急剧增加。 VDS沟道l对于l小的MOS管道贯穿破坏。17、因为MOS管COX小,带电物(或者)接近金属栅极时,感应电荷在SiO2绝缘层上产生大的电压VGS(=Q /COX ),破坏绝缘层,MOS管永久性破坏。MOS管保护对策:个别的MOS管:各极导线短路、烙铁外壳接地。 MOS集成电路:D1 D2用于在限制VGS之间的最大电压的同时旁路感应电荷。 在18、NEMOS管转移特性曲线、VGS(th)=3V、VDS=5 V、转移特性曲线反映

7、VDS为常数的情况下,VGS对ID的控制作用能够从输出特性进行转换。 在,VDS=5 V,迁移特性曲线中,ID=0时对应的VGS值,即导通电压VGS(th )。19、在衬底效应、集成电路中,许多MOS管制作在同一衬底上,衬底应该连接电路最低电位(n沟道)或最高电位(p沟道),以确保u和s、d之间的PN结的反向偏置。 如果| VUS |,耗尽层中的负离子数由于VGS不变化(g极正电荷量不变化),ID由于基板电压对ID的控制作用,也称为u极背栅。 势垒层宽度、表面层中的电子数、20、p沟道EMOS管、n沟道EMOS管与p沟道EMOS管的工作原理相似。 即,VDS 0、VGS 0的施加电压的极性相反

8、,电流ID的流动相反。 区别点:回路符号的箭头方向相反。21、3.1.2耗尽型MOS场效应管、DMOS管结构、22、NDMOS管伏安特性、VDS 0、VGS正、负、零的任意一种。 外部工作条件:DMOS管在饱和区和非饱和区的ID公式与EMOS管相同。 PDMOS和NDMOS的区别只是电压极性和电流方向相反。23,3.1.34种MOS场效应晶体管的比较、电路符号和电流的流动、转移特性、24、饱和区域(放大区域)施加电压极性和数学模型、VDS极性取决于沟道类型,n沟道: VDS 0、p沟道: VDS 0、耗尽型MOS管: VGS是任意的饱和区域数学模型与管类型无关,包括:25、临界饱和工作条件、非

9、饱和区域(可变电阻区域)工作条件、|VDS |=| VGS VGS(th) |、|VGS| |VGS(th) |, 非饱和区域(可变电阻区域)的数学模型、26、FET直流简化电路模型(与晶体管对比)、三极管的发射极结通过正偏压导通,与VBE(on )等效。 FET输出端等效于电压控制电流源,满足平方律方程:晶体管输出端等效于流控制电流源,满足IC=IB。27、3.1.4小信号电路模型、MOS管简化小信号电路模型(与三极管对照)、rds为场效应管输出电阻:因场效应管IG 0,输入电阻rgs。 由于晶体管的发射极结被正偏置,所以输入电阻rbe小。 与晶体管输出电阻式rce 1/(ICQ )相似。

10、28、MOS管的跨导,通常MOS管的跨导比三极管的跨导小一位数以上,即MOS管的放大能力比三极管弱。 校正衬底效应的MOS管简化了电路模型,考虑到衬底电压vus对漏极电流id的控制作用,需要在小信号等效电路中追加电压控制电流源gmuvus。 另外,gmu被称为背栅跨导,在工序上是常数,一般是=0.1 0.2。 30、MOS管高频小信号电路模型在受高频应用、需求纠正和管极间电容的影响时,应采用以下高频等效电路模型。 31、场效应管电路的分析方法与三极管电路的分析方法类似,可以用估计法分析电路的直流工作点,用小信号等效电路法分析电路的动态指标。 3.1.5MOS管电路分析方法、场效应管估计法的分析

11、构想与三极管相同,但由于两种管的工作原理不同,外部工作条件有明显差异。 因此,用估计法分析场效应管道电路时,必须注意自己的特征。 假定推定法、32、MOS管切断模式判定方法、MOS管动作为放大模式:放大模式、非饱和模式(需要再次运算q点)、非饱和和饱和(放大)模式判定方法、a )从直流路径写入管外电路VGS和ID的关系式c )联立求解上述方程式,选择一组合理的解。 d )判定电路动作模式:|VDS| vgs vgs (th )| VDS| vgs vgs (th ) |,b )饱和区域数学模型:33,解:假设t动作是扩大模式,代入已知的条件来求解上述方程组:VDS=VDD - ID (RD R

12、S)=6 V 验证、VDS VGSVGS(th )、34、小信号等效电路法、场效应管小信号等效电路法与三极管类似。 用微变等效电路分析交流指标。 修正将描绘交流路径的FET替换为小信号电路模型的微残奥制仪表gm、rds,注:具体的分析在第4章详细说明。35,3.2结型场效应晶体管、JFET结构示意图及电路符号、36,n沟道JFET管外部动作条件、VDS 0(保证栅极、漏极、PN结偏置)、VGS 0(保证栅极、源极、PN结偏置)、3.2.1JFET VDS小时VGD VGS 此时Ron ID变慢,基于VDS的通道的控制(假定VGS为一定),此时w几乎不变,即Ron不变,39、若VDS增加到VGD

13、=VGS(off ),则在a点出现预夹断,VDS 40、利用半导体内的电场效应,根据栅极源极电压VGS的变化来改变阻挡层的宽度窄,改变导电沟道的宽度窄,控制漏极电流ID。 JFET的工作原理:如上所述,JFET和MOSFET的工作原理相似,它们利用电场效应来控制电流,不同的只是导电沟道形成的原理不同。41、NJFET输出特性、非饱和区域(可变电阻区域)、特征:ID由VGS和VDS二者控制。3.2.2伏安特性曲线、线性电阻:42、饱和区(放大区)、特征:ID仅受VGS控制而不近似于VDS。 数学模型:饱和领域中,JFET的ID和VGS之间也满足平方律关系,但由于JFET和MOS管结构不同,方程式

14、不同。43、截断区域、特征:通道全夹断工作区、条件:VGS VGS(off )、IG 0、ID=0、击穿区域、VDS大到一定值时,近漏极PN雪崩击穿,ID急剧增加。 VGS越是负,VGD越是负的相应击穿电压V(BR)DS越小,44、JFET的转移特性曲线与MOS管同样,JFET的转移特性也可以从输出特性转换(省略)。 ID=0时对应的VGS值将电压VGS(off )夹断。VGS=0时对应的ID值饱和漏电流IDSS。 45、JFET电路模型与MOS管相同。 但是,由于两种管在饱和区域数学模型不同,因此跨导修正公式不同。JFET电路模型、利用、获得、46、各种FET管VDS、VGS极性比较、VDS极性和ID流仅依赖于通道类型,VGS极性依赖于动作方式和通道类型,FET类型多,因此难以单独存储JFET管: VGS和VDS的极性相反。47、场效应晶体管与晶体管的性能

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