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文档简介

1、统计过程控制SPCStatistical Process Control,培训讲义 Training Material,SPC-正态分布图的制作与分析,3.4.过程能力和过程性能 3.4.1.基本概念 过程固有变差 过程总变差 过程能力 理论能力指数Cp(即1/Cr) Cp=(USL-LSL)/6 R/d2 Cr=6sd/(USL-LSL) 相当于sd (标准差),SPC-正态分布图的制作与分析,3.4.1.基本概念 理论性能指数Pp Pp=(USL-LSL)/6s 实际能力指数Cpk(考虑中心偏移) Cpk=Min(USL-X)/3R/d2, (X-LSL)/3R/d2 TgtZ =(Mea

2、n-Target)/sd 实际性能指数Ppk(考虑中心偏移) Ppk=Min(USL-X)/3s, (X-LSL)/3s,SPC-正态分布图的制作与分析,3.4.2.过程能力解释 前提 重要概念 过程能力评估 过程标准偏差的估算 =R/d2=R/d2,SPC-正态分布图的制作与分析,过程能力计算 单边容差 Z=(USL-X)/ R/d2 或 Z=(X-LSL)/ R/d2 双边容差 Z=(USL-X)/ R/d2 和 Z=(X-LSL)/ R/d2 输出超出规范值比例估计 单边容差 Z=1.56Pz=0.0594 约6% Z=3.00Pz=0.00135 约0.135% Z=4.00Pz=0.

3、003% 双边容差 ZUSL=ZLSL=3.00, P=0.00135+0.00135=0.27%,SPC-正态分布图的制作与分析,SPC-正态分布图的制作与分析,3.4.3.过程能力的评价 Cpk1.00 (Cr1.00),能力勉强满足顾客要求 Cpk1.33 (Cr0.75),保持特性、资源一致性的最小性能水平 Cpk2.00 (Cr0.50),能力过剩,适用于军工产品 附加条件,严格来讲, Cr对应于Cp,因此,h还要求 TgtZ 0.5 如何提高过程能力 调整均值接近目标值 减少普通变差,SPC-其他统计工具介绍,4.其他工具介绍 4.1.矩阵图 4.2.趋势图 4.3.因果图(鱼刺图) 4.4.排列图 4.5.网络图(箭条图) 4

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