透明矿物系统鉴定.ppt

1、实验九 透明矿物的系统鉴定 一、实验目的要求： 运用前面各次实验所学的原理和方法，对一种透明矿物晶体的主要光学性质作详细观察和系统描述，并根据所测定的主要光性特征确定矿物名称。 二、实验设备：角闪石薄片（晶光2）,三、实验指导 晶体的光学性质通常需要在定向切面上测定，常用的定向切面有垂直光轴切面或平行光轴或光轴面的切面。 1、垂直光轴切面 光率体切面为圆切面，其半径等于No（或Nm）。单偏光镜下不显多色性；正交偏光镜下全消光（有时呈暗灰色）；锥光镜下显垂直光轴切面干涉图。在这种切面上可以测定下列光学性质： （1）测定No（一轴晶）或Nm（二轴晶）的颜色及主折射率No或Nm值。 （2）确定轴性，

2、测定光性符号。 （3）估计2V大小。 在薄片中往往不易找到严格垂直光轴的切面，可以用近于垂直光轴的切面代替。,2、平行光轴（一轴晶）或光轴面（二轴晶）切面 光率体椭圆切面半径为Ne与No、或Ng与Np，多色性最明显（具多色性晶体），干涉色级序最高，显瞬变干涉图。在这种切面上可测定下列光学性质； （1）观察多色性的明显程度，测定Ne与No、或Ng与Np的颜色。 （2）观察闪突起现象，测定主折射率Ne与No、或Ng与Np值。 （3）测定最高干涉色级序及最大双折射率值。 （4）测定消光角。,四、实验步骤： 1、检查显微镜的中心是否需要校正，检查上下偏光是否正交，目镜十字丝是否与上下偏光镜振动方向一致

3、。 2、晶体薄片系统鉴定程序 （1）区分均质性与非均质性晶体 均质性晶体各方向切面在正交偏光镜间均为全消光，在锥光镜下无干涉图。非均质体晶体只有垂直光轴切面在正交偏光镜下全消光，其它方向切面在正交偏光镜下出现四次消光，四次明亮，如用白光照射并产生干涉色。非均质性晶体在锥光镜下产生各种类型的干涉图。 （2）均质性晶体的鉴定 在单偏光镜下观察晶形、解理、颜色及突起等级等光学性质。,（3）非均质性晶体的鉴定 通常采用下列程序 单偏光镜下观察晶形、解理、测定解理夹角，颜色、突起等级等。在正交偏光镜下观察消光类型，如为平行消光，测定延性符号，观察双晶类型等。 选择一个垂直光轴或近于垂直光轴的切面，在锥光

4、镜下，根据干涉图特征确定轴性，测定光性符号，如二轴晶估计2V角的大小，若为有色晶体，用这种切面在单偏光下观察No或Nm的颜色。 若为一轴晶晶体，选择一个平行光轴的切面。在正交偏光镜下测定最高干涉色级序，最大双折射率值。若为有色晶体，使Ne平行下偏光振动方向PP，在单偏光镜下观察Ne的颜色，转动物台900，使No平行下偏光振动方向PP，观察No的颜色。同时观察多色性明显程度、吸收性，并写出多色性公式及吸收性公式。观察闪突起。,若为二轴晶晶体，选择一个平行光轴面的切面，在正交偏光镜下测定最高干涉级序、最大双折射率值，消光角大小，确定Ng与Np的方向。若为有色晶体，使Ng平行下偏光镜振动方向PP，在

5、单偏光镜下观察Ng的颜色；转动物台900，使Np平行PP，观察Np的颜色。同时观察多色性明显程度、吸收性及闪突起现象。结合垂直光轴切面上观察Nm颜色，写出多色性公式及吸收性公式。,五、系统鉴定内容： （一）单偏光：1、晶形；2、颜色或多色性（多色性公式）；3、糙面、边缘突起（估计折光率大致范围）；4、解理及解理角；5、其它特点（如包裹体、次生变化等）。 （二）正交偏光：1、最高干涉色，最大双折射率（设薄片厚度为0.03mm）；2、消光类型及消光角（对于单斜晶系的矿物要测Ng）；3、延性；4、双晶；5、其它特点（如异常干涉色等）。 （三）锥光：1、轴性；2、光性正负；3、光轴角（2V） （四）定名：根据所测定的光性数据查光性矿物学或其他光性鉴定表。对照光性数据与那种矿物一致或最接近，就定名为那种矿物。,六、系统鉴定报告： （一）单偏光下： （二）正交偏光下： （三）锥光镜下：,思考题 1、测定一轴晶的Ne应选取哪种晶体切面？ 2、测定