统计过程控制SPC2(PPT 13页).ppt

1、统计过程控制SPCStatistical Process Control,培训讲义 Training Material,SPC-正态分布图的制作与分析,1.制作直方图 1.1.抽样编号 1.2.样品计量 1.3.计算极差 R=Xmax-Xmin 1.4.数据分组 K 1.5.确定组距 d 1.6.确定各组区间的端点 ak 1.7.计算每组中值 Yi,SPC-正态分布图的制作与分析,1.8.统计样本落在每个区间的频数 1.9.建立直方图 1.9.1.建立直角坐标 1.9.2.标出每一组的端点 1.9.3.画出长方形,SPC-正态分布图的制作与分析,2.制作正态分布图 2.1.找出每个长方形的中点

2、 2.2.用光滑曲线使中点相连 示例灯片重量,SPC-正态分布图的制作与分析,3.控制图过程控制的有力工具 3.1.控制图的构成 3.2.均值和极差图（X-R）的建立 3.2.1.收集数据 选择子组大小 原则“应使得一个子组内在该单元中的各样本之间出现变差的机会小”,SPC-正态分布图的制作与分析,选择子组频率 选择子组组数 3.2.2.建立控制图，记录原始数据 3.2.3.计算均值X和极差R X=(1/n)Xi R=Xmax-Xmin 3.2.4.确定控制图纵坐标的刻度 X图 （最大刻度值-最小刻度值）2(Xmax-Xmin) R图 最大刻度值Rmax,SPC-正态分布图的制作与分析,3.2

3、.5.描点画线 3.2.6.计算控制限 计算过程平均值X和平均极差R X=(1/n)Xj R=(1/n)Rk 计算控制限 UCLx=X+A2R LCLx=X-A2R UCLR=D4R LCLR=D3R 3.2.7.在控制图中画控制限,SPC-正态分布图的制作与分析,3.3.过程能力解释 3.3.1.极差图分析 点 线（链） 区图形的趋势 非随机图形的表现 子组内数据点总体分布准则 特殊原因的标注、对策和改善 纠正改善后重新计算极差图控制限,SPC-正态分布图的制作与分析,3.3.2.均值图分析 点 线（链） 区,SPC-正态分布图的制作与分析,3.4.如何更快地检测到大的过程变化？ 3.4.1

4、.方法 3.4.2.重新计算R，UCL/LCL 计算估计标准偏差 R/d2=R/d2 计算其它值 R新= R/d2 d2新 UCLR新=D4 R新 LCLR新=D3 R新 UCLX新=X+A2 R新 LCLX新=X-A2 R新,SPC-正态分布图的制作与分析,3.5.控制图的益处 3.5.1.判断过程稳定 3.5.2.预测 3.5.3.改进、降本 3.5.4.便于交流 3.5.5.明确职责,SPC-正态分布图的制作与分析,3.6.使用控制图的准备 3.6.1.建立适用于实施的环境 3.6.2.定义过程 3.6.3.确定控制的特性 3.6.4.确定测量系统 3.6.5.使不必要的变差最小,SPC-正态分布图的制作与分析,3.7.其它控制图的介绍 3.7.1.用于计量型数据的其它型控制图 X-S（均值-标准差图） Xi-MR（单