活度试题参考答案

一、填空题（将正确答案填入括号内）1. 电离辐射可分为（带电）粒子和（不带电）粒子两种类型。2. 元素的同位素是原子核中（质子数）相同而（中子数）不同的核素。3. 发射 射线的放射性核素，在发生衰变后，其子体核的质量数（保持不变），原子序数（增加 1） 。4. 衰变常量是指处于（特定能态）的放射性核素在单位时间内发生（自发核跃迁）的几率。5. 原子核是由（质子）和（中子）组成的。6. 60Co射线的平均能量为（1.25）MeV，半衰期为（5.271）年。7. 用于测量-衰变核素活度的绝对测量方法通常采用（4- 符合）测量装置，是活度量值的一种基准装置；4电离室主要用于测量具有 放射性核素的活度，其测量方法是一种（相对测量）方法。8. 原子核衰变可分为衰变、 -、 +或 EC（轨道电子俘获）衰变等方式。对于 衰变类型，其子体核素的质量数比母体核素的质量数（ 减少 4 ） ，而对于 EC 衰变，其子体核素的原子序数则较母体核素的原子序数（ 减少 1） 。9. 用 2多丝正比计数器测量大面积、平面源的 2发射率时，需要进行包括（死时间） 、 （小能量损失）和本底等三种主要校正。10. 对于一些衰变后其子体激发态存在亚稳态的核素，也可通过效率示踪方法测量其活度，在选择示踪核素时，要求示踪核素的最大能量应与待测核素的 最大能量相近，谱形应（相似） ，且待测核素的射线峰应不至于造成对示踪核素射线峰的（ 干扰） 。11. 在放射性气体活度绝对测量方法中，为了消除内充气正比计数管端效应的影响，通常采用（长度补偿）的测量方法，其特点是用长度不同而其它结构完全相同的两只正比计数管，这样的两只计数管具有完全相同的端效应。则两只计数管的计数率之差等于两只计数管体积之差内的计数率，在相减的过程中， （端效应）的影响就被消除了。12. 作为放射性标准溶液，必须满足：溶液中放射性核素有较高的核纯度，其放射性杂质含量应不大于（0.1% ） ，且溶液稳定，不被容器器壁吸附，溶液蒸发至近干时放射性物质不损失，溶液的活度值有较高的（准确度） 。13. 常用的标准源主要用于 谱仪的效率和能量校准。通常可用如 241Am ， 57Co， 203Hg， 51Cr， 113Sn， 54Mn， 137Cs， 22Na， 60Co， 85Sr 等核素制成的系列标准源，有时也用如 152Eu， 133Ba， 166mHo 等多射线源，其中 60Co的能量分别为（1173.2）keV 和（1332.5 ）keV。14. 射线与物质相互作用的主要物理效应是光电效应， （康普顿效应）和（电子对效应） 。15. 活度的国际单位是（Bq） ，物理量纲是（T -1） 。16. 电离室有两种类型，一种是用于重带电粒子如粒子、裂变碎片的能谱分析的电离室如屏栅电离室、裂变电离室等，属于（脉冲电离室） ；另一种则是用于大量辐射粒子的平均效应的电离室如在核医学应用中广泛使用的4高气压电离室等，属于（累积电离室/电流电离室） 。17. 、表面污染仪检定规程（JJG478-96 ）规定，采用物理量（表面活度响应）表征污染仪的灵敏度，曾经使用过（探测效率）表示仪器对或粒子的响应能力。18. 能量分辨率一般是用谱仪对单能粒子所测得的能量分布曲线中对应的全能峰的（半高宽）除以峰位所对应的（能量）来表示。19. 带电粒子与物质发生相互作用时，损失能量的主要方式是（碰撞能量损失）和（辐射能量损失） 。20. 锰的以下三种同位素中， 54Mn 为（电子俘获衰变）核素， 55Mn 为（稳定）核素， 56Mn 为-衰变核素。21. 带电粒子与物质发生相互作用时，会引起靶物质原子激发，当入射粒子能量足够时，还会使原子分离成（自由电子）和（正离子） ，即产生了电离。22. 符号 表示该核素的（原子序数）为 79， （质量数）为 198。Au198723. 能量的单位一般用焦耳来表示，但在电离辐射计量中往往用电子伏(eV)作为能量的单位，1eV= （6.0210 -19）焦耳，这个单位是我国采用的（非国际单位制）的法定计量单位。24. 原子核从（核外电子壳层中）俘获一个电子而变成另一种原子核的放射性转变的物理过程，称为（电子俘获）衰变。25. 放射性活度计检定规程 JJG377-98 中规定，用于检定活度计的标准源可以采用（安瓿瓶）和（青霉素瓶）两种规格的包装条件。26. 开展标准级放射性活度计检定时，JJG377-98 中规定的环境条件应满足温度在（1530）之间，相对湿度应小于（ 85%） 。27. 、和表面污染仪检定规程 JJG478-1996 规定，用于检定仪器表面活度响应的标准源应为 241Am，标准源应为（ 204Tl） ，标准源应为（ 125I）或129I。28. 常用的放射性活度标准物质主要有（放射性标准溶液） 、 （放射性标准源）和环境放射性标准物质。这些标准物质可以作为校准仪器标准，或作为比对的标准源，用于考核实验室之间测量结果的重复性等。29. 放射性标准溶液可用于放射性活度量值的传递和比对，也可用来校准测量装置，作为放射性标准溶液必须满足：溶液中放射性核素具有较高的核纯度，其放射性“杂质”含量不大于（0.1%） ，溶液必须稳定，在贮存的过程中不发生（化学和物理）变化。30. 放射性标准源应满足：源的活性区（均匀） 、牢固，源的活度值或表面发射率应由一种或一种以上的绝对测量方法或相对测量方法给出，并有相应的参考时间，源在有效期内（稳定可靠） 。31. 粒子在物质中的射程极短，通常适宜于探测粒子的探测器除半导体探测器、硫化锌闪烁探测器、核乳胶和固体径迹探测器之外，还有气体探测器如（屏栅电离室）和（正比计数器）等。32. 中子注量率的测量主要有反冲质子法、伴随粒子法和活化法等。其中，活化法主要是通过测量核反应如 197Au(n，) 198Au 生成的放射性核素 198Au 的（活度） ，即通过确定生成核的（数目）来确定中子注量率的。33. 4(PC)-符合法广泛用于活度绝对测量中，采用该方法对放射性标准溶液定值时必须制备薄膜源，薄膜源的衬托膜一般要求采用（低原子序数）的材料，以制成面密度小而均匀的膜，可以降低对粒子的（吸收） 。34. 放射性活度是电离辐射计量中的一个基本物理量，它表示处于特定能态的核素发射粒子或辐射进行（自发转变）的能力，用放射性核素在单位时间内的（衰变数）来表示。35. 较早使用的放射性活度单位为居里，其定义为：与 1g 镭处于平衡时氡的每秒衰变数，即 1g 镭的每秒衰变数，约为（3.710 10）s -1。活度单位在我国法定计量单位中为贝可(Bq)，即每秒一次衰变。居里与贝可的换算关系为：（1Ci=3.710 10Bq） 。36. 在制备薄膜源的过程中通常采用差重法制源，影响差重法定量的准确度的主要因素有：放射性溶液和砝码的密度不同而造成的（浮力效应）的校正、制源过程中溶液的（蒸发损失）的影响以及溶液飞溅造成的溶液量的损失等。37. 液闪测量工作中使用闪烁溶液的是一种或多种溶剂和一种或多种溶质所组成的体系。溶质作为一种闪烁体，其作用主要是把辐射能量变为（闪烁光） 。要求它应具备较高的（发光效率） ，光的波长要在光电倍增管响应函数的最大灵敏区等。38. 利用 4-符合测量标准装置，采用效率外推法测量复杂衰变核素活度时，可以通过加不同厚度的吸收膜、改变道的（甄别阈）或改变探测器的（工作电压）来改变效率进行效率外推测量。39. 能量分辨率的一般用谱仪测得的单能粒子的全能峰高一半的（全宽度）除以峰位对应的（能量）来表示。40. X 射线和射线都是电磁辐射，但其产生机制不同，X 射线是（核外电子）退激产生的，射线是（原子核 ）退激产生的。41. 对于用金属板做衬托的 或者 源，一般使用（ 2发射率）来描述源强，其单位是（s -1.(2sr)-1） 。42. 某核素的半衰期是 1s，则其衰变常量是（0.693s -1） ，某时刻 1000Bq 的此核素放射源，在 2s 后活度是（250Bq ） 。43. 目前广泛使用的液闪校准放射性活度的方法是 CIEMAT/NIST 方法，其一般使用（ 3H 标准源）和（ 54Mn 标准源）作为示踪源。44. 核退激除了发射 光子外，还可以发射电子，这个过程叫（内转换） ，发射的电子叫（内转换电子） 。45. 内转换系数是（内转换几率）与（ 跃迁几率）之比。46. 核外电子退激时除了发射 X 射线外，还可以发射电子，这个过程叫（ 俄歇过程） ，发射的电子叫（俄歇电子） 。47. 正电子与物质相互作用时，一般发射两个能量为（511keV ）的（湮灭）光子。48. 对于高分辨的高纯锗谱仪，除了用光电峰的（半高宽/FWHM）来描述分辨外，还常常用光电峰的（十分之一高宽/FWTM）来描述峰形状。49. 高分辨的高纯锗谱仪的光电峰一般是（高斯）形状，其 FWTM/FWHM 的值应该接近（1.82）50. 描述高分辨的高纯锗谱仪的光电峰形状参数的高斯比是（FWTM/FWHM）与 1.82 的比，其值应该接近（1） 。51. 通常用（直线）或者（二阶多项式）来拟合高纯锗谱仪能量校准曲线。52. 通常用（高纯锗谱仪）来进行放射性标准溶液的核纯分析，要求标准溶液的放射性“杂质”含量不大于（0.1%） ， 。53. 通常的高纯锗谱仪屏蔽铅室是由多层材料组成，应该按原子序数（高）的物质在外，原子序数（低）的物质在内的原则组装。54. 一个离高纯锗探头表面距离 10cm 的点源，当其距离变化 0.5mm 时，将引起探测效率百分变化大约是（1%） 。如果在距离 20cm 时，距离变化0.5mm 时，将引起探测效率百分变化大约是（0.5%） 。55. 用高纯锗谱仪检定点源活度时，检定规程 JJG（核工）010-91 规定，测量的峰面积计数应该不低于（2.510 5） ，其统计涨落应该低于（0.2%） 。56. 高纯锗测量 60Co 源，则 1332.5keV 射线的单逃逸峰的峰位是（821.5）keV，双逃逸峰的峰位是（ 310.5）keV57. 高纯锗测量 60Co 源，则 1173.2keV 射线的单逃逸峰的峰位是（662.2）keV，双逃逸峰的峰位是（ 151.2）keV58. 对于 60Co 源的 1332.5keV 峰，其康普顿坪在（1040 keV）到（1096keV）能区。59. 对于 137Cs 源 661keV 峰，其康普顿坪在（358 keV ）到（382keV ）能区。60. 峰康比定义为（光电峰中心最大计数）比（康普顿坪平均计数） 。61. 液闪测量液体射线源与正比计数器测量薄膜射线源的两大优点是（无自吸收）和（制源速度快） 。62. 常用的放射性核素活度测量用探测器有三种类型，是（气体探测器） 、 （闪烁探测器）和半导体探测器。63. 常用的放射性核素活度测量用探测器有三种类型，是气体探测器、 （闪烁探测器）和（半导体探测器） 。64. 当用液闪测量较高能量的射线时，为了得到较高的计数效率，闪烁液的体积（较大为好） ，以减少（壁）效应的影响。65. 液闪测量中的淬灭校正法常常使用的是（道比法） 、 （H #数法）和谱指数法三种方法。66. 液闪测量中的淬灭校正法常常使用的是道比法、 （H #数法）和（谱指数法）三种方法。67. 描述高纯锗探测器的技术指标主要是（能量分辨率） 、 （峰康比）和相对探测效率三个。68. 描述高纯锗探测器的技术指标主要是能量分辨率、 （峰康比）和（相对探测效率）三个。69. 一般使用（ 60Co 的 1332.5keV）峰和（ 57Co 的 122keV）峰的能量分辨率来描述高纯锗谱仪的能量分辨率。70. 一般使用 55Fe 源的（5.9keV）峰的能量分辨率来描述 Si（Li）X 射线谱仪的能量分辨率，此 X 射线实际时（ 55Mn）核素发射的 KX 射线。71. 天然放射性本底的两个来源是（地球上的天然放射性物质）和（外层空间的宇宙射线） 。72. 地球上的天然放射性物质最主要的是（铀系） 、 （钍系）和锕系三大天然放射性系列。73. 地球上的天然放射性物质最主要的是铀系、 （钍系）和（锕系）三大天然放射性系列。74. 高纯锗谱仪测量中需要考虑堆积修正和符合相加修正，其中（堆积）修正与计数率有关， （符合相加）修正与探测效率有关。75. 闪烁探测器是将入射粒子的能量转换为（光信号）的一种探测器，将闪烁探测器的光信号转换为电信号的设备一般为（光电倍增管） 。76. 把电脉冲信号的幅度转换为数字信号的设备是（ADC/模数变换器） ，保存此数字信号的设备是（MCA/多道分析器） 。77. 内转换电子和俄歇电子是电子，但其产生机制不同，俄歇电子是（核外电子）退激产生的，内转换电子是（原子核）退激产生的。78. 发射内转换电子的竞争过程是（ 跃迁） ，发射 X 射线的竞争过程是（发射俄歇电子） 。79. 跃迁的竞争过程是发射（内转换电子） ，发射俄歇电子的竞争过程是（发射 X 射线） 。80. 测量 射线的 HPGe 是一种（半导体）探测器、NaI（Tl ）是一种（闪烁）探测器。二、 选择题（将正确选项的编号填入括号内）1. 一种原子核经过放射性衰变后的子体，其质量数保持不变，原子序数减少1，这种过程是：（ c ）(a)衰变 (b)衰变 (c)EC 衰变 (d)自发裂变2. 一种原子核经过放射性衰变后的子体，其质量数发生变化，这种过程可能是：（ a ）(a)衰变 (b)衰变 (c)+衰变 (d) EC 衰变3. 原子核从核外电子壳层中俘获一个电子而变成另外一种原子核的放射性转变的过程，称为：（ c ）(a)衰变 (b)+衰变 (c)电子俘获 (d)衰变4. 54Mn 是一种电子俘获核素，可以采用（ b ）测量其活度。(a)4-符合方法 (b)4x-符合方法 (c)2测量方法 (d)4测量方法5. 59Fe 有两条射线，分别为 1.099MeV(发射几率为 0.561)和 1.292MeV（发射几率为 0.436）,而 60Co 的射线能量分别为 1.173MeV 和 1.332MeV，则活度相同的 59Fe 和 60Co 样品，在 4电离室内产生的电离电流的大小将：（ c ）(a)大致相等 (b)59Fe 是 60Co 的 2 倍 (c)60Co 是 59Fe 的 2 倍 (d)无法确定6. 放射性活度是指：（ c ）(a)放射性核素的原子数 (b)放射性衰变放出的粒子数(c)放射性核素在单位时间内的衰变数 (d)在单位时间内放出的粒子数7. 在检定标准级活度计时，主要的不确定度来源是：（ b ）(a)几何位置的影响 (b)标准源的不确定度(c)长期稳定性的影响 (d)测量的重复性8. 辐射能量的单位电子伏（eV）是：（ c ）(a)我国采用的 SI 单位制中的一种单位 (b)我国采用的国际单位制中的一种单位(c)我国的法定计量单位 (d)应当废除的非法定计量单位9. 一种原子核经过放射性衰变后的子体，其质量数保持不变，原子序数增加1，这种过程是：（ b ）(a)衰变 (b)衰变 (c)+衰变 (d)电子俘获10. 当光子与靶物质的原子发生碰撞将部分能量转移给电子，而自身的能量减小，运动方向发生变化的现象称为：（ d ）(a)韧致辐射 (c)光电效应 (b)电子对效应 (d)康普顿散射11. 效率为 40%的 HPGe 探测器，所指的效率是 60Co 点源到探测器的距离为25cm 时， （ b ）：(a)HPGe 探测器相对于 76mm76mm 的 NaI(Tl)闪烁探测器对 60Co 能量为1173keV 的射线的全吸收峰效率(b)HPGe 探测器相对于 76mm76mm 的 NaI(Tl)闪烁探测器对 60Co 能量为1332keV 的射线的全吸收峰效率(c)HPGe 探测器对 60Co 能量为 1173keV 的 射线的全吸收峰的效率(d)HPGe 探测器对 60Co 能量为 1332keV 的 射线的全吸收峰的效率12. 半导体探测器广泛应用于能谱分析工作中，与 NaI(Tl)闪烁探测器相比，主要优点是：（ b ）(a)响应时间快 (b)能量分辨率高 (c)探测效率高 (d)脉冲幅度大13. 放射性标准溶液是一种放射性标准物质，因此，要求放射性标准溶液具备的最主要的特性是：（ c ）(a)半衰期很长 (b)比活度很高 (c)化学性质非常稳定和核纯度很高 (d)核素能量单一14. 放射性核素衰变时放出的射线，其能谱是（）：(a)连续的 (b)分离的 (c)单能的 (d)不确定的15. 235U 表示该核素的（ b ）为 235。(a)原子序数 (b)质量数 (c)原子核内的质子数 (d)原子核内的中子数16. 属于同一种核素的原子核，其（ c ）(a)质子数相同，中子数不同 (b)中子数相同，质子数不同(c)质子数和中子数都相同 (d)质子数与中子数的和相同17. 光子与靶物质原子核外的一个电子发生相互作用，将自身的部分能量转移给核外电子而损失能量，且运动方向也随之发生变化。这种现象称为：（ c ） 。(a)光电效应 （b）电子对效应 （c）康普顿效应 （d ）韧致辐射效应18. 在放射性测量中，经常的测量对象是、X 、 和 n 等粒子，一般所说的粒子能量是指：（ c ） 。（a）粒子的总能量 （b）粒子与物质相互作用时交给靶物质原子的能量（c）粒子具有的动能 （ d）粒子与物质相互作用时靶物质所吸收的能量19. 已知 137Cs 的半衰期为 30.17 年，具有两个分支，其中分支比为 94.6%的分支衰变到其子体 137Ba 的激发态，5.4%的分支直接衰变到其子体的基态，其子体的激发态退激到基态时发射能量为 661.7keV 的 射线。则 137Cs 的衰变纲图应为：（ c ） 。137Cs 137Cs 137Cs94.6%5.4% 5.4%94.6% 94.6%137Cs5.4%661.7 661.7 661.7 661.7137Ba 137Ba 137Ba 137Ba30.17a(a) (b) (c) (d)20. -衰变的本质是原子核中的中子转变成为（ c ） ，同时放出一个反中微子的过程。（a）电子 （b ）光子 （c）质子 （d）正电子21. 下列测量装置中，用于测量 3H、 14C 等低能核素活度较为理想的物理方法是：（ b ） 。（a）4- 符合测量装置 （b）4（LS）测量装置（c）4（PC）测量装置 （d）4高气压电离室核素活度测量装置22. 3H 是一种具有一个质子和两个（ c ）的原子核。（a）电子 （b ）正电子 （c）中子 （d）介子23. 下面过程不是放射性衰变的是（c）(a)衰变 (b)+衰变 (c) 发射俄歇电子 (d)衰变24. 下面射线通过物质时，其强度按指数规律衰减的是（c）(a) (b)+ (c) (d)25. 对于一台 60Co 的 1332.5keV 峰分辨为 1.8keV 的高纯锗，其峰的高斯比最可能接近（a）的值(a)1 (b)2 (c)2.335 (d)0.126. 通常用（b ）来拟合高纯锗谱仪能量校准曲线。(a)指数衰减 (b)直线 (c)4 阶多项式曲线 (d)对数曲线27. 下面过程是放射性衰变的是（d）(a)发射内转换电子 (b)发射 光子 (c) 发射俄歇电子 (d) 发射 +粒子28. 核纯分析常用的仪器是（d）(a)液闪 (b)正比计数器 (c)表面沾污仪 (d)高纯锗谱仪29. 下面屏蔽材料中最适合作为高纯锗谱仪屏蔽铅室的最内壁材料是（a）(a)有机玻璃 (b)铜 (c)铁 (d)镉30. 一个离高纯锗探头表面距离 20cm 的点源，当其距离变化 1mm 时，将引起探测效率百分变化大约是（a） 。(a)1 (b)2 (c)0.5% (d)0.131. 高纯锗测量的某 射线的峰面积计数是一百万，则其统计涨落是（b ）(a)1 (b)0.1 (c)10% (d)0.3332. 作为放射性标准溶液，其放射性杂质含量应不大于（d） 。(a)1 (b)2 (c)0.5% (d)0.133. 下面电离辐射粒子不是带电粒子的是（c）(a) 粒子 (b) 俄歇电子 (c)康普顿散射光子 (d) 质子34. 下面电离辐射粒子是带电粒子的是（a）(a) 粒子 (b)中子 (c)康普顿散射光子 (d) 湮灭光子35. 母核是 的放射性核素经过 衰变后，子核是（c）XAZ(a) (b) (c) (d) 1AZXAZ1AZ136. 母核是 的放射性核素经过 衰变后，子核是（d）AZ(a) (b) (c) (d) X1AZAZ1AZ137. 母核是 的放射性核素经过电子俘获衰变后，子核是（d）AZ(a) (b) (c) (d) 1AZXAZ1AZ138. 母核是 的放射性核素经过衰变后，子核是（b ）XAZ(a) (b) (c) (d) 2AZ42AZ24XAZ439. 下面的射线探测器不需要在液氮温度下工作的是（d）(a) Si(Li)探测器 (b)Ge(Li)探测器 (c)高纯锗探测器 (d) 液闪探测器40. 1 微居里等于（ c ） Bq(a) 3.71010 (b) 3.7107 (c) 3.7104 (d) 3.710141. 4（PC）-符合测量中，下面（ d）不能改变效率(a)加不同厚度的吸收膜 (b) 改变道的甄别阈(c) 改变正比计数器电压 (d)改变符合分辨时间42. 4（PC）-符合测量中，可用（ d）改变效率(a) 改变道延迟时间 (b) 改变 道的甄别阈(c) 改变正比计数器电压 (d)改变符合分辨时间43. 中子注量率测量中的锰浴法，其实质是（c）(a) 反冲质子法 (b) 伴随粒子法 (c) 活化法 (d)裂变法44. 下面粒子在空气中射程最短的是（d）(a) (b)n (c)p (d)45. 一种原子核经过放射性衰变后的子体，其质量数保持不变，原子序数减少1，这种过程是：（ c ）(a)衰变 (b)衰变 (c)+衰变 (d)自发裂变46. 高纯锗测量 60Co 源，则 1332.5keV 射线的单逃逸峰的峰位是（c）keV(a)1332.5 (b)310.5 (c)821.5 (d)662.247. 高纯锗测量 60Co 源，则 1332.5keV 射线的双逃逸峰的峰位是（b）keV(a)1332.5 (b)310.5 (c)821.5 (d)662.248. 高纯锗测量 60Co 源，则 1173.2keV 射线的单逃逸峰的峰位是（d）keV(a)1332.5 (b)151.2 (c)821.5 (d)662.249. 高纯锗测量 60Co 源，则 1173.2keV 射线的双逃逸峰的峰位是（b）keV(a)1332.5 (b)151.2 (c)821.5 (d)662.250. 下面测量系统需要光电倍增管是（c）(a) 高纯锗谱仪 (b)裂变电离室 (c)液闪计数器 (d)正比计数器51. 下面的射线探测器中（ a ）是利用射线与物质相互作用产生电离，直接收集电离电荷的探测器。(a) 高纯锗探测器 (b)NaI 探测器 (c)液闪探测器 (d)固体径迹探测器52. 当用液闪测量较高能量的射线时，为了得到较高的计数效率，闪烁液的体积（a）(a) 较大为好 (b) 较小为好 (c) 较大较小均可 (d) 有一最佳值53. 在液闪测量中，经常要使用（ a ）计算谱形状。(a) 费米衰变理论 (b)Birks 电离淬灭理论(c) 淬灭修正曲线 (d) 效率曲线54. 以下各种方法不属于液闪测量中的淬灭校正法的是（d）(a) 道比法 (b) H#数法 (c) 谱指数法 (d) 内标法55. 下面的射线探测系统中长期稳定性最好的是（b）(a) 高纯锗谱仪 (b) 4电离室 (c)Si（Li）谱仪 (d) NaI 谱仪56. 在正比计数器、NaI（Tl）闪烁体，Si （Li）三种 X 射线探测器中，按能量分辨率从好到坏排序是（a）(a) Si（Li）正比计数器NaI（Tl）闪烁体(b) Si（Li）NaI（Tl）闪烁体正比计数器(c) 正比计数器Si （Li ）NaI（Tl）闪烁体(d) NaI（Tl）闪烁体正比计数器Si （Li）57. 高纯锗谱仪测量中与计数率无关的量是（ a ）(a) 分辨率 (b) 堆积修正系数 (c)死时间修正系数 (d) 符合相加修正系数58. 当光子与靶物质的原子发生作用将全部能量转移给靶物质的原子的电子，此现象称为：（ c ）(a)韧致辐射 (b)电子对效应 (c)光电效应 (d)康普顿散射59. HPGe 探测器测量 60Co 的 1332keV 光电峰是来源于（ d ）(a) 1332keV 光子与 HPGe 探测器发生光电效应(b) 1332keV 光子与 HPGe 探测器发生电子对效应(c) 1332keV 光子与 HPGe 探测器发生康普顿效应(d)包括前面三种效应60. 发射内转换电子的竞争过程是（c）(a)发射粒子 (b)发射 X 射线 (c) 跃迁 (d)发射粒子61. 发射俄歇电子的竞争过程是（b）(a)发射粒子 (b)发射 X 射线 (c) 跃迁 (d)发射粒子62. 发射 X 射线的竞争过程是（c）(a)发射粒子 (b)发射内转换电子 (c) 跃迁 (d)发射俄歇电子63. 发射 射线的竞争过程是（c ）(a)发射粒子 (b)发射内转换电子 (c) 发射 X 射线 (d)发射俄歇电子64. 放射性核素活度校准中， （a）装置需要微电流测量系统(a) 4电离室 (b)NaI 闪烁体 (c) 液闪 (d)HPGe65. HPGe 谱仪系统在同样测条件下测量两个不同的单能射线核素，如果峰净计数率相同，则下面（d ）的说法是对的。(a)两个源的活度相同(b)如果测量时间相同，则两个源的活度相同(c)如果两个源的射线能量相同，则两个源的活度相同(d)前面三种说法都不对66. HPGe 谱仪测量 60Co射线时，则下面（a）的说法是对的。(a)1332.5keV 光电峰的半高宽比 1173.2keV 峰的半高宽更大(b) 1173.2keV 光电峰的半高宽比 1332.5keV 峰的半高宽更大(c) 1173.2keV 光电峰的半高宽与 1332.5keV 峰的半高宽一样(d)前面三种说法都不对67. 康普顿抑制系数定义为同一核素不使用反康与使用反康的康普顿谱面积之比。一台反康普顿 HPGe 谱仪，在测量 137Cs 点源时，不使用反康的谱，峰康比是 120:1,使用反康的谱，峰康比是 600:1,则康普顿抑制系数是（b ）(a)0.2 (b)5 (c)600 (d)已知条件不足以计算出68. 标准级 HPGe 谱仪的检定周期是（c ）(a)1 年 (b) 2 年 (c) 3 年 (d)检定规程无规定69. 在放射性核素活度校准中，下面气体探测装置中（b）必需测量探测器的形状参数(a) 4电离室 (b) 内充气正比计数器(c) 4（PC）-装置中的 PC (d) 4X（PPC）-装置中的 PPC70. 下面使用液闪进行放射性核素活度校准的方法中， （b）不是绝对测量方法(a) 4e（LS）-方法 (b) CIEMAT/NIST 方法(c) 4（LS ）-方法 (d) TDCR 方法71. 一般采用（c ）准备校准 谱仪的大面积平面源(a)真空蒸发法 (b)电喷涂法 (c)电沉积法 (d) 直接滴源法72. 液闪测量中，有时需要加入第二种闪烁体。关于何时加入第二种闪烁体，下面说法准确的是（d ）(a)只有在样品中存在直接淬灭第一种闪烁体的成分时，才必需加入第二种闪烁体。(b)只有在第一种闪烁体的浓度太高，引起强烈自淬灭时，才必需加入第二种闪烁体。(c)只有在样品中存在明显吸收近紫外光的成分时，才必需加入第二种闪烁体。(d)前面三种情状之一时，就必需加入第二种闪烁体。73. 下面核探测器的标准图形符号中（c）可以表示 HPGe 探测器(a) (b) (c) (d) 74. 下面核探测器的标准图形符号中（b）可以表示屏栅电离室(a) (b) (c) (d) 75. 下面核探测器的标准图形符号中（d）可以表示 NaI(Tl)闪烁体(a) (b) (c) (d) 76. 下面核探测器的标准图形符号中（a）可以表示 4电离室(a) (b) (c) (d) 77. 下面核探测的标准图形符号中（b）可以表示屏栅电离室(a) (b) (c) (d) 78. 一台高纯锗谱仪测量 60Co 源，其 1332.5keV 峰半高宽是 1.80keV，高斯比是 1.03,则其十分之一高宽是（a）(a)3.37 keV (b) 3.28keV (c) 1.85keV (d)从已知条件无法计算出的79. 一台高纯锗谱仪使用三极管反馈前放，为了得到好的分辨率，则带有自动极零相消的主放的极零相消应该按（b）调节(a)使用自动极零相消 (b) 调节到最小(c) 调节到最大 (d)任意位置 80. 放射性核素活度测量设备中低电平甄别阈的缩写代号是（d）(a)LED (b) TLD (c)ULD (d)LLD 81. 现代高分辨的高纯锗谱仪系统对 60Co1332.5keV 峰的分辨一般是 2keV，为了充分利用其分辨率，则 ADC 的道数至少有（d）道(a)512 (b) 1024 (c)2048 (d) 4096 82. 光子在靶物质原子核库仑场的作用下，转化为一个正电子和一个负电子，入射光子的能量其中一部分转变为正负电子对的静止能量，其余部分作为二者的动能。这种现象称为：（ b ） 。(a)光电效应 （b）电子对效应 （c）康普顿效应 （d ）韧致辐射效应三、 简答题1 简述射线与物质相互作用的主要物理过程。要点：射线与物质主要有光电效应、康普顿散射、电子对效应等三种相互作用。当光子与靶物质原子的束缚电子作用时，将全部能量转移给束缚电子而自身消失，由于该电子获得足够的能量，可以狰脱原子核的束缚而被发射，这种过程称为光电效应。光电效应过程中发射出来的电子称为光电子。光电子的能量 ieBhE式中，h为入射光子的能量，B i 为第 i 壳层电子的结合能。当入射光子与原子核外电子发生非弹性碰撞时，将一部分能量转移给电子而自身被散射，其能量和运动方向发生变化，轨道电子获得足够的能量而脱离原子成为反冲电子，也称康普顿反冲电子。这种过程称为康普顿效应。康普顿反冲电子的能量 hEe式中，h为入射光子的能量，h 为散射光子的能量。入射光子在原子核的库仑场的作用下，转化为一个正电子和一个负电子，这种过程称为电子对效应。入射光子的能量其中一部分转变为正负电子对的静止能量，其余部分作为二者的动能，满足 20cmEhe式中，E e+、E e-分别为正负电子的动能，m 0c2 为电子的静止能量。因此，只有当入射光子的能量大于 1.02MeV 时，才可能发生电子对效应。2 在能谱分析中经常会遇到符合相加修正的问题。简述符合相加效应的物理过程，并回答尽量降低符合相加效应的影响的主要方法。要点：所谓符合相加效应是指两个级联 光子（例如 60Co 的 1.17 和1.33MeV）同时被探测器的晶体所吸收,或两个无关的 光子均在谱仪的分辨时间内到达探测器的晶体内,这时探测器不是输出两个分开的脉冲,而是输出一个幅度相应这两个光子能量之和的脉冲。这种脉冲的产生称为符合相加效应，也称为和峰效应。前者一般称为真和峰。若放射源的级联辐射中有一种 光子伴随内转换现象时，将有特征 X 射线产生。这时，将有两个和峰产生，一个是两个 光子的和峰，另一个是一个 和一个 X 射线的和峰。通过增加源到探测器之间的距离可以降低符合相加效应的影响。通常，源到探测器的距离大于 25cm 时，符合相加效应的影响可以忽略。3. 4电离室即放射性活度计广泛应用于同位素生产和医疗卫生部门，简述其测量原理及活度测量不确定度的主要来源。要点：4电离室具有高压电极和收集极，外加电压后，在两极之间形成电场。射线与电离室的室壁和电离室内的工作气体相互作用会产生次级带电粒子，这些次级带电粒子使工作气体电离从而形成正负离子对，在外加电场作用下，分别向两极漂移，从而在收集极上形成电离电流，电离电流的大小与样品的活度成正比，即A=IK，因此可以通过测量电离电流来确定样品的活度。活度测量不确定度的主要来源包括校准不确定度，电离电流的不确定度，重复性、稳定性引入的测量不确定度。4.核反应堆一回路常见核素有哪些？至少列出四种。 （10 分）要点:核反应堆一回路中常见的核素主要有110mAg， 60Co， 58Co， 124Sb， 54Mn， 58Co， 3H， 131I 等。5.简述在放射性气体活度测量工作中通常采用的长度补偿测量方法的原理。要点：在放射性气体活度测量工作重，采用长度补偿法的测量原理主要是为了消除计数管的端效应的影响。即采用长度不同而其它结构完全一样的两根计数管，而且较短的计数管的长度（约大于内径的五倍）要长到足以使它有一个均匀电场的中心区域，这样结构的两根计数管有完全相同的端效应，也就是说它们的计数率之差 N 是没有端效应影响的，因为在相减过程中，两根计数管的端效应影响相互抵消了。设 NL、Ns 分别表示长、短两个计数器的经本底及死时间修正后的计数率，以 NLS 表示长、短两个计数管的计数率之差。即 SLS根据上述讨论不难看出，N LS 正好是两根计数管体积之差V 内的计数率，而V 也正好是较长计数管的中心区域。则每根计数管单位体积内的计数率为NLS/V，如果设 V 为其中任意一根计数管的灵敏体积，则 N=NLS VV 就是该计数管灵敏体积内无端效应影响的实际计数率，这就是长度补偿法。6. 简述带电粒子与物质相互作用的主要物理过程。要点：带电粒子与靶物质原子主要有以下四种相互作用，即与核外电子发生非弹性碰撞、与核外电子发生弹性碰撞、与原子核发生非弹性碰撞和与原子核发生弹性碰撞。带电粒子与靶物质原子的核外电子发生非弹性碰撞，可以导致原子电离或激发，是带电粒子与物质相互作用损失动能的主要方式。带电粒子靠近靶物质原子核时，在原子核之间的库仑力作用下，使入射带电粒子的运动状态发生变化，因而以辐射光子的形式损失能量，称为辐射损失，对于轻带电粒子辐射损失更为显著。7. 利用 4-符合测量装置测量复杂 衰变核素活度时，一般需要采用效率外推法进行测量，试问可以采用哪些方法来改变效率？要点：造成探测器不能 100%地探测各个分支的粒子的主要因素主要包括源的自吸收、源的衬托膜吸收、探测器的几何条件即电场边缘效应引起的计数损失、探测器及电子学线路的死时间引起的计数损失、电子学系统的甄别阈引起的计数损失和源的导电膜导电不良引起的计数损失等六方面因素。在实际的物理测量中，可能这些因素都存在，或者是这些因素中的几个或其组合。因此，采用效率外推法测量复杂衰变核素活度时，可以通过加不同厚度的吸收膜、改变道的甄别阈或探测器的工作电压而改变效率进行效率外推测量。还可以通过在测量源中加不同量的非放射性载体来改变源的自吸收情况而改变效率进行效率外推测量。8. 采用 2、2 表面发射率标准装置检定大面积、平面源表面发射率时，主要需考虑哪些修正项？要点：利用 2、2 表面发射率标准装置检定大面积、平面源表面发射率时主要的校正包括死时间、小能量损失和本底等三种校正。（1）死时间校正公式为 ，式中：N 0 为经死时间校正后的计)1/(0dN数率；N 为测得的计效率； d 为系统的死时间。（2）小能量损失校正一般需作甄别阈曲线即计数率与甄别电压的关系曲线。在选定的工作条件下（如放大倍数、工作电压等） ，从较低的甄别阈值开始测量计数率，随着甄别阈值的升高、计数率逐渐降低。将这一甄别曲线外推到甄别电压为零处，就得到无小能量损失的计数率。其校正公式为 ，式中：N 0 为)1/(0外推到甄别电压为零处的计数率；N 为工作于一定甄别电压处测得的计数率； 为小能量损失校正系数。（3）本底校正：设本底计数率为 Nb，直接从测得的计数率 N 中减去 Nb，可得到经本底校正后的计数率。根据以上三部分校正，测量结果可按下式计算：)1(0dbN式中：N 0 为待测放射源的 2发射率； N 为包括本底的计数率； Nb 为本底的平均计数率；d 为测量装置的死时间；为小能量损失校正系数。9. 简述放射性测量中的本底的主要来源。要点：在放射性测量中本底的主要来源包括：宇宙射线产生的本底，周围环境放射性含天然放射性本底和人工放射性本底，屏蔽体材料以及探测器中的放射性本底，此外，电子学仪器的噪声及电磁干扰也是放射性测量中本底的来源之一。降低本底的主要方法有：采用屏蔽材料降低宇宙射线和环境电离辐射引起的本底，屏蔽材料的选取宜选择本底低的材料，在探测器的加工、生产过程中，尽可能选择低本底材料作为探测元件及附属材料。另外，在电子学线路中可以采用反符合技术降低本底，以及排除电磁干扰等方法。10. 简述放射性标准溶液在使用和保存过程中的稳定性检验方法。要点：放射性标准溶液一个很重要的性质就是在使用和保存过程中比活度值稳定，必须在贮存期间定期抽样测定溶液的比活度值，以评价其稳定性。检查溶液稳定性的方法通常是：定期检查容器器壁对放射性核素的吸附情况；贮存过程中有无蒸发和泄漏；定期测量比活度值,并做出稳定性检验评价。如果标准溶液的稳定性良好，在规定期限内，任一次测量所得的比活度值 i，与溶液的 n 次测量的标准值 (s 为 标准偏差) ，应满足t，(n-1) 为 t 分布的临界值；否则认为溶液发生了显著变化。11. 简述放射性标准溶液均匀性检验方法。要点：放射性标准溶液均匀性检验方法主要采用方差分析法、平均值的一致性nstX)1(,i 检验法等。方差分析法：通过组间方差和组内方差的比较来判断各组测量值之间有无系统误差，如果二者之比小于统计检验的临界值则认为样品是均匀的。平均值的一致性检验法：如果样本都是由同一总体中抽出的，由有限次测定得到各次的平均值，其差异在约定的置信概率下应该是不显著的。反之，如果差异显著，就认为两个平均值不属于同一总体，引起平均值之间的差异除偶然误差外必定还有某个固定因素在起作用，因为两组测量条件一致，所以这个固定因素就是由样品不均匀造成的。12. 一个标准实验室拟准备建立 HPGe谱仪标准装置，向某生产厂家订购了一台效率为 60%的 HPGe 探测器。试问如何验证所订购 HPGe 探测器效率这项技术指标是否满足要求？要点：HPGe 探测器的效率一般是相对于 3“3“NaI(Tl)探测器对60Co1332.5keV射线的全能峰效率而定义的。当源距探测器的距离为 25cm 时，3“3“NaI(Tl)探测器对 60Co1332.5keV射线的全能峰效率为 1.210-3。为验证HPGe 的相对效率，可将 60Co 标准源置于距 HPGe 探测器 25cm 的几何位置，用该 HPGe谱仪测量 60Co 标准源的 谱，得到 1332.5keV射线全能峰的计数率 n，则该探测器对 60Co1332.5keV射线的全能峰绝对效率为： AnpAnHPGe98.0)(对式中，p 为能量为 1332.5keV 的射线发射几率，A 为标准源的活度。然后根据 HPGe 探测器相对效率的定义可得：100%3102.)()(PeHGe对对 如果计算得到结果大于或等于 60%，则该探测器的效率这项技术指标满足订货要求。13. 简述采用双脉冲法测量系统的死时间的原理及测量不确定度分析方法。要点：设有两路信号分别满足：信号 1： ；信号 2：dn10dn201信号 1+信号 2： d210,1由 得：0,2110n+ =d1d2d21 )1)()()( 221211 dddnnnnn 21221 dd当忽略高次项时，被测系统的死时间测量公式如下： 21nd 21221 nd 2111nn2122d2121nd 21221 nndddd 14. 为什么 4电离室在同位素生产部门和核医学领域得到广泛应用？要点：随着放射性核素在同位素生产部门、核医学等领域日益广泛的应用，要求常规的核素活度测量应快速、准确。4电离室能很好地满足这一要求，它具有如下优点：操作简便，定值快速、准确；长期稳定性好（0.1% 年） ；对制源要求简单，允许直接测量火封在安新瓶中的放射性溶液；具有较宽的活度测量范围（10 410 10 Bq） ，且线性好；源几何位置变化的影响小；经准确校准后，由电离室引入的误差较小，能较好地复现绝对测量的量值。因而，4电离室在同位素生产部门和核医学等领域应用非常广泛。15. 简述用小立体角法测量核素样品活度的原理。要点：小立体角法实际上是在一个较长的圆柱筒的两端分别放置探测器和待测放射源，在靠近源的一端加阻挡环，其材料为低原子序数的物质，主要是减少粒子的壁散射的影响。在靠近探测器的一端加准直光阑，准直器的孔径是直接确定立体角的。通过测量确定立体角内的计数率即可确定待测样品的活度。假设待测源的活度为 A，每次衰变放射出一个 粒子，且探测器的物理效率为 100%，测量的计数率为 N，本底计数率为 Nb，则可由公式b40得到待测样品的活度。16. 简述活度测量中绝对测量方法和相对测量方法的概念要点：绝对测量方法是直接测量放射性核素的衰变率，不必依赖其它测量标准的比较。相对测量方法是需要借助其它测量标准来校准测量装置，再利用校准后的测