TR-518FE训练教材(Windows版).doc

tr-518fe 訓練教材(windows 版)1-1 tr-518fe 訓練教材(windows 版) 1.硬體介紹硬體介紹 1-4 1.1.tr-518fe 系統規格 1-4 1.1.1.開關電路板元件：cmos relay.1-4 1.1.2.測試點數 1-4 1.1.3.測試步驟 1-4 1.1.4.測試時間 1-4 1.1.5.量測範圍 1-4 1.1.6.隔離點電路 1-4 1.1.7.ic 開路測試 .1-4 1.1.8.可測電路板尺寸 1-4 1.2.tr-518fe 設備安裝 1-4 1.2.1.機械部分組裝 1-4 1.2.2.細部連接 1-6 1.2.3.tr-518fe 系統組裝圖 1-7 2.ict 治具介紹與安裝治具介紹與安裝 2-8 2.1.治具種類 2-8 2.1.1.單面治具&hp 天板(一般天板).2-8 2.1.2.雙面治具 2-9 2.1.3.真空治具 2-10 2.1.4.in-line 治具 .2-10 2.2.治具安裝 2-11 2.2.1.單面治具+hp 天板(一般天板) .2-11 2.2.2.雙面治具 2-11 2.2.3.程式安裝 2-11 2.3.治具相關配件及測試針種類介紹 2-12 2.3.1.一體成型針 2-12 2.3.2.兩段針(套筒針)2-12 2.3.3.治具保護板 2-13 2.3.4.testjet 天板2-13 2.3.5.自動蓋章 2-14 2.3.6.計數器 2-15 2.3.7.counter board.2-15 2.3.8.diodecheck 繞線注意事項 .2-24 3.ict 程式發展程式發展 3-26 3.1.基本測試原理 3-26 3.1.1.開路及短路(open/short)的量測原理 .3-26 3.1.2.隔離效果(guarding)測試原理.3-26 3.1.3.電阻測試原理 3-27 tr-518fe 訓練教材(windows 版)1-2 3.1.4.電容測試原理 3-30 3.1.5.電感測試原理 3-32 3.1.6.jump 測試原理.3-34 3.1.7.二極體(diode)測試原理3-35 3.1.8.齊納二極體(zener diode)測試原理3-35 3.1.9.電晶體(transistor)測試原理3-36 3.1.10.fet 測試原理 3-37 3.1.11.二端電容極性(capacitor polarization)測試原理3-37 3.1.12.三端電容極性測試原理 3-38 3.1.13.光耦合元件(photo-coupler)測試原理3-40 3.1.14.ic 保護二極體測試原理 .3-40 3.1.15.diode check 測試原理 3-41 3.1.16.agilent testjet 測試原理(lead frame 的電容效應)3-42 3.2.治具程式撰寫與偵錯 3-44 3.2.1.治具程式撰寫與偵錯程序 3-44 3.2.2.治具安裝 3-45 3.2.3.測試參數設定 3-45 3.2.4.open/short 學習設定.3-45 3.2.5.編輯欄位定義說明 3-45 3.2.6.常用編輯功能說明 3-48 3.2.7.電阻 debug 要領3-54 3.2.8.電容 debug 要領3-56 3.2.9.電感 debug 要領3-57 3.2.10.二極體 debug 要領3-57 3.2.11.電晶體 debug 要領3-58 3.2.12.場效電晶體(fet)debug 要領.3-60 3.2.13.閘流體(scr，triac)debug 要領.3-61 3.2.14.跳線，保險絲，開關 debug 要領3-62 3.2.15.光耦合元件 debug 要領3-62 3.2.16.編輯零件穩定度測試 3-63 3.2.17.ic 保護二極體設定與學習 .3-63 3.2.18.ic 空焊設定與學習 .3-65 3.2.19.開始測試 3-69 3.2.20.多聯片測試要領 3-70 4.系統定期保養系統定期保養 4-73 4.1.主機保養 4-73 4.2.壓床保養 4-73 4.3.治具保養 4-73 4.4.電腦程式保養 4-73 5.ict 主機定期校驗程序主機定期校驗程序 5-74 tr-518fe 訓練教材(windows 版)1-3 5.1.ict 校驗程序與追朔.5-74 5.2.ict 校驗步驟.5-75 6.ict 故障排除故障排除 6-76 6.1.開機系統檢查錯誤流程圖 6-76 6.2.開關電路板檢測不良流程圖 6-77 6.3.壓床動作異常流程圖 6-78 6.4.治具測試不良排除流程圖 6-79 7.提昇治具可測率之提昇治具可測率之 pcb 設計佈線建議設計佈線建議 7-80 7.1.pcb 設計佈線規則建議7-80 7.2.fabmaster 轉換所需的 cad file 檔案7-81 tr-518fe 訓練教材(windows 版)1-4 1 . 硬硬 體體 介介 紹紹 1 . 1 . t r - 5 1 8 f e 系 統 規 格 1.1.1.開關電路板元件： cmos relay 1.1.2.測試點數 標準配備： 256 點 開關電路板種類： 128 點， 256 點 5u 主機最大擴充點數：1792 點 8u 主機最大擴充點數：3584 點 1.1.3.測試步驟 標準配備： 12288 步驟 1.1.4.測試時間 開路 /短路測試：每1000 點約 1.5sec 零件測試：每一零件約1msec 至 40msec 1.1.5.量測範圍 電阻： 1.0 至 40m，精密度： 0.1 電容： 1.0pf 至 40mf，精密度： 0.1pf 電感： 1.0h 至 60h，精密度： 0.1h 電晶體 /二極體： 0.1v 至 9.99v zener 二極體：標準配備0.1v 至 9.99v 選購配備 0.1v 至 48.0v* 1.1.6.隔離點電路 隔離點自動選取，每測試步驟5 點 1.1.7.ic 開路測試 ic 測試數量：標準配件64 顆，最大擴充960 顆。 * 測試時間： 2.5msec/pin 1.1.8.可測電路板尺寸 標準壓床： 380mm(l)*280mm(w)*130mm(h) 特大壓床： 500mm(l)*350mm(w)*130mm(h) 1 . 2 . t r - 5 1 8 f e 設 備 安 裝 1.2.1.機械部分組裝 1. 將防靜電桌墊平攤在測試桌面上。 2. 將壓床置於測試桌上。 3. 打開測試桌旁邊的門，將電腦主機置入。 4. 將旋轉臂裝在測試桌的右上角。 5. 將彩色監視器及鍵盤置於旋轉臂上。 6. 將印表機置於桌面右前方。 tr-518fe 訓練教材(windows 版)1-5 機械部分組裝完成之後，系統應如下圖所示。 彩色監視器 壓床 蜂巢板 鍵盤 旋轉臂 印表機 測試桌 tr-518fe 測試主機 電腦主機 tr-518fe 訓練教材(windows 版)1-6 1.2.2.細部連接 1. 將 ict 測試主機、電腦主機、彩色監視器及印表機電 源供應器的電源線分別接到測試桌內部後方下面的插 座上。 2. 檢查主電源之電壓規格是否正確(110v/220v)，以 免造成設備損壞。將主電源線插入位於測試桌左側方 的主電源供應插座上。 3. 將彩色監視器的訊號線接到電腦主機後方的監視器插 座上。 4. 將鍵盤連接到位於電腦主機後方的鍵盤插座上。 5. 將 34-pin 排線由位於電腦主機擴充槽上的digital i/o 卡接到 tr-518fe 測試主機上的控制電路板。 34-pin 排線的方向要注意。 6.將印表機訊號線由印表機接到電腦主機上的印表機埠 （lpt 1）。 7. 利用 15-pin 訊號線將壓床後方的15-pin 信號埠連 接到 tr-518fe 測試主機上的直流量測電路板上。 8. 將 10-pin 的控制線從 tr-518fe 測試主機上的ic 空焊控制板連接至蜂巢板上的ic 空焊狀態板 (若 有選購 ic 空焊測試設備 )。 9. 測試桌後面有一條接地線，應確實接地，避免因靜電 或放電不確實造成主機損壞或待測板故障。 tr-518fe 訓練教材(windows 版)2-7 1.2.3.tr-518fe 系統組裝圖 j1 j14 鍵盤 印表機 彩色監視器 鍵盤 滑 鼠 34-pin 排線 64-pin 排線 切 換 電 路 板 交 流 量 測 電 路 板 壓 床 控 制 / 直 流 量 測 電 路 板 控 制 電 路 板 電腦 印 表 機 監 視 器 d-type 15-pin 信號線 切 換 電 路 板 ic 空 焊 控 制 板 高 壓 量 測 電 路 板 底板治具 j14,j13, ,j2,j1 壓床 digital i/o card 1 2 3 4 15 16 17 天板治具 10-pin 排線 蜂巢板 ic空焊狀態板 s1 s2 s3 test retest em/ sw reject abort accept down tr-518fe 訓練教材(windows 版)2-8 2 . i c t 治治 具具 介介 紹紹 與與 安安 裝裝 2 . 1 . 治 具 種 類 2.1.1.單面治具 &hp 天板 (一般天板 ) 治具製作時，測試針之選擇以集中於pcb 之單面頂 針為最優先，如此不僅可以降低治具成本，方便治具檢 修，提高測試穩定性。若要提高smd ic 之空焊可測 率，可以配合testjet 天板架設。 (參考圖 2.1, 2.2) (圖 2.1 單面治具&一般天板) (圖 2.2 單面治具&testjet 天板) tr-518fe 訓練教材(windows 版)2-9 2.1.2.雙面治具 治具製作時，待測板因為pcb 兩面皆有零件 pcb 兩面皆有預留測試點，造成測試針須pcb 兩面皆植 針才能得到最佳測試效果。為提高雙面治具之水平穩定 度，通常會在壓床上加裝雙面定位架一併使用。(參 考圖 2.3, 2.4) (圖 2.4 雙面定位架) (圖 2.3 雙面治具) tr-518fe 訓練教材(windows 版)2-10 2.1.3.真空治具 真空治具利用真空幫浦將治具抽成真空再進行測試，目 前 tr-8001 便以真空治具為主，ict 仍以壓床式為主。 2.1.4.in-line 治具 in-line ict 著重於 ict 自動化測試，從pcb 進入測 試到測試結束離開，都不需人員協助，治具機構之精密 度要求較高，治具安裝也儘量配合自動化設計，根據正 確的安裝程序，從控制面板操作。若要在壓床上使用須 加裝轉接座。 (圖 2.5：真空治具) (圖 2.6：in-line 治具) tr-518fe 訓練教材(windows 版)2-11 2 . 2 . 治 具 安 裝 2.2.1.單面治具 +hp 天板 (一般天板 ) 將總電源打開，電腦進入ict windows 版主程式， 首先進行系統自我檢測，關閉自我測試，進入 ict 主畫面。 將治具對稱置於壓床之平台上，用螺絲固定(不要 轉緊 )，利用 test+down 鍵使壓床下降，壓床下 降快接觸到 hp 天板時，便停止壓床下降動作，調整 治具左右位置，利用蝴蝶螺絲將hp 天板與蜂巢板 固定轉緊。 按 abort 鍵使壓床上升，反覆使壓床上下動作幾次， 確定 hp 天板與治具完全密合，再讓壓床下降使 hp 天板與治具密合，將治具之固定螺絲轉緊，主機 上之 cable 按順序插入治具之cable 座。 將壓床上升，進入測試畫面，選擇正確電路板名稱， 開始 ict 測試。 2.2.2.雙面治具 將總電源打開 (同 2.2.1 第一段 ) 將下治具放入雙面定位架中，若無法平放，可將雙面 定位架之擋塊用六角板手轉鬆調整。 將上治具順著滑軌推到底，壓床慢慢下降使上治具與 下治具完全密合，再將上治具滑軌4 顆蝴蝶螺絲轉 緊，主機上之cable 按順序插入治具cable 座，須 注意上治具之cable 長度，避免因壓床上升使 cable 毀損。 將壓床上升，進入測試畫面，選擇正確電路板名稱開 始 ict 測試。 2.2.3.程式安裝 若治具在 ict 曾經使用過，在主畫面完成治具 程式安裝。 若治具在 ict 為第一次使用，在主畫面進入、，於 選擇 ，利用 選擇適當的治具程式路 徑(注意要進入到有file 為止 )，輸入正確的電路板名稱(不得超過 15 個字元 )， 選擇 完成治具程式安裝。 tr-518fe 訓練教材(windows 版)2-12 2 . 3 . 治 具 相 關 配 件 及 測 試 針 種 類 介 紹 2.3.1.一體成型針 一體成型針規格以3、2 為主，當大部份測試 點為 dip 零件腳，它的行程有15-18mm，較不易因 為行程太短造成測試針損壞。 一體成型針外型以3 叉針為主 (如附圖所示 )，因為 pcb 上零件密度與漸漸以smd 零件為主的設計概 念，目前一體成型針較不為治具廠商使用，僅 power supply、ups 產品仍有使用。 圖面說明： 一體成型針之3、2 是指套筒外徑。 2.3.2.兩段針 (套筒針 ) 兩段針規格以100mil、75mil、50mil 為主，行程 為 8mm，因為 smd 零件大量使用，測試點間距愈 來愈小，使兩段針漸漸成為測試針主流。 兩段針之規格100mil 是指測試點中心與最近之測試 點中心距離須大於100mil，可以選用 100mil 針。 兩段針外型種類眾多，有尖針、爪針、t 型針 等，配合測試點不同可以選用正確的測試針，提高測 試的穩定度。 常用的測試針型號與使用時機如下： 皇冠針 ：常用於 dip 零件腳的測試點，依零件腳粗 細、長短，可以選用皇冠針、四爪針、九爪針。 探針套筒 x 測試針 x100mil100mil 100milx75mil 75mil 75milx50mil 50mil x 2. 3.選擇開 /短路區 間。 開路測試 (open test)時，在任一短路群 (short group)中任何兩點之阻抗不得大於55，否則即是 開路測試不良 (open fail)。 短路測試 (short test)時分成三種情況，若有以下其 中之一的情況發生，則判定短路測試不良(short fail)： 1. 在短路群中任何一點與非短路群中任一點之阻抗小 於 5。 2. 不同短路群中任兩點之阻抗小於5。 3. 非短路群中任兩點之阻抗小於5。 3.1.2.隔離效果 (guarding)測試原理 在 ict 內部電路中，利用一顆op 放大器當做一個 隔離點（最多可有五個隔離點），若是： 1.以電流源當信號源輸入時，則在相接元件一之另一 tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-27 腳加上一等高電位能(guarding point)，以防止電流 流入與被測元件相接之旁路元件，確保量測的精準性。 此時隔離點的選擇必須以和被測元件高電位能腳 (hi-pin)相接之旁路元件為參考範圍(如附圖 3.1)。 2.以電壓源當信號源輸入時，則在相接元件二之另一 腳加上一等低電位能(guarding point)，以防止與被 測元件相接之元件所產生的電流流入，而增加量測的 電流，影響量測的精準性。此時隔離點的選擇必須以 和被測元件低電位能腳(low-pin)相接之旁路元件為 參考範圍 (如附圖 3.2) 。 被 測 元 件 相 接 元 件 一 相 接 元 件 二 v a v a op guarding point 被 測 元 件 相 接 元 件 一 相 接 元 件 二 隔 離 點 v b op guarding point v b hi-pin low-pin hi-pin low-pin v i v a v b 電 壓 源 隔 離 點 電 流 源 3.1.3.電阻測試原理 3.1.3.1. 固定電流源 (constant current)模式 (mode0) 對於不同的電阻值，ict 本身會自動限制一個適當 的固定電流源做為測試的訊號源使用，如此才不會因 使用者的選擇不當，因而產生過高的電壓而燒壞被測 試元件，故其測試方式為：提供一個適當的固定電流 源 i，流經被測電阻r，再於被測電阻r 兩端，測 量出 vr，由於 vr 及 i 已知，利用 vr=ir 公式，即 可得知被測電阻r 值(如圖 3.3)。 rangecurrent 1- - 299.995ma 300- - 2.99k500a 3k- - 29.99k50a 30k- - 299.9k5a 300k- - 2.99m0.5a 3m- - 40m0.1a (圖 3.1：電流源測試圖)(圖 3.2：電壓源測試圖) tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-28 3.1.3.2. 低固定電流源 (low constant current)模式 (mode1) 該測試方法和上述固定電流源模式一樣，只是在被測 電阻於電路上若有並聯(parallel)著二極體 (diode) 或是 ic 保護二極體 (ic clamping diode)時，對於 該電阻兩端測量電壓值若超過0.5v 至 0.7v 左右 時，因為二極體導電的關係，該電阻兩端電壓將被維 持在 0.5v 至 0.7v 左右，固無法量測出真正的vr 值，為解決此問題，只要將原先的電流源降低一級即 可(如附圖 3.4)。 rangecurrent 1- - 299.99500a 300- - 2.99k50a 3k- - 29.99k5a 30k- - 299.9k0.5a 300k- - 2.99m0.1a (圖 3.3：固定電流源方法) i r vr vr=ir (圖 3.4：低固定電流源方法) d vr i r vr=ir tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-29 (圖 3.5：快速測試方法) v=ir*r r 0.2v ir c 3.1.3.3. 快速 (high-speed)測試模式 (mode2) 假如被測電阻並聯一顆0.3f 以上的電容時，若使 用上述固定電流源測試時，需要花費很長的時間，讓 電容充飽電荷，再去測量出vr 值，而得知 r 值， 如此測試方法將增加ict 測試時間，為解決此問題， 可以將固定 dc 電流源改為 0.2v dc 固定電壓源， 直接接於被測電阻兩端，如此電容將會在短暫時間內 使其 ic=0，故電路上所有電流將流經電阻r。其 測量方式為：提供一個0.2v dc 電壓源，當 ic=0 時，再測試流經電阻端的ir，因為 v=irr，而 v 及 ir 已知，即可得知電阻r 值(如附圖 3.5)。 3.1.3.4. 交流相位 (ac phase)測試模式 (mode3、mode4、mode5 ) 由於電路設計關係，被測試電阻，將會並聯著電感等 元件，對於此電阻值測量，若使用固定電流源方式測 試，電阻值將會偏低而無法測量出真正的電阻值，故 使用 ac 電壓源，利用相位角度的領先，及落後方式 而得知被測電阻值。故其測試方式為：提供一個適當 頻率的 ac 電壓源 v，同時在被測電阻兩端測量出 iz，由於 v=iz*zr1，因為 v 及 iz 已知，故可得知 zr1，又因為 r=zr1*cos，而 zr1 及 cos 已知， 故即可得知被測電阻r 值(如附圖 3.6)。 tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-30 modesignalrange(l)range(r) 31khz600h - - 60h5- - 300k 410khz60h - - 600mh5- - 40k 5100khz6h - - 6mh5- - 4k 3.1.4.電容測試原理 3.1.4.1.固定 ac 電壓源 (constant ac voltage)測試模式 (mode0、mode1、 mode2 、 mode3) 對於不同阻抗的電容，ict 本身會自動選擇一個適 當頻率 (frequency)的 ac 電壓源，作為測試使用， 其頻率計有： 1khz，10khz，100khz，1mhz， 對於極小阻抗值的電容將需要較高頻率的ac 電 壓源，再測量被測元件兩端的電壓源，由於 v=ic*zc，而 v 及 ic 已知，故得知 zc=1/2*f*c，又因 f 已知，故即可得知電容 c(如附圖 3.7)。 debug modesignal source capacitor range 01khz1pf - - 39.99f 110khz1pf - - 2.99f 2100khz1pf - - 29.99nf 31mhz1pf - - 299.99pf (圖 3.6：交流相位測試方法) v=iz*zr1 r=zr1*cos r l v tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-31 3.1.4.2. 向位 (ac phase)測量模式 (mode5、mode6、mode7 ) 對於電容的測試，若並聯電阻時，則利用相位角度的 落後方式來測量出阻抗值，故其測量方式為：提供一 個適當頻率的ac 電壓源並在被測元件兩端測量出 iz，由於 v=iz*zrc，而 v 及 iz 已知，故可得知 zrc，又因 zc=zrc*sin，而 zrc 及 sin 已知，故 可得知 zc，又因 zc=1/2*f*c，而 zc 及 f 已知， 故即可得知電容c 值(如附圖 3.8)。 debug modesignal source capacitor range 51khz1pf - - 39.99f 610khz1pf - - 2.99f 7100khz1pf - - 29.99nf v=ic*zc zc=1/2*f*c (圖 3.7：固定 ac 電壓源測試方法) ic zc v v=iz*zrc zc=zrc*sin zc=1/2*f*c (圖 3.8：ac 相位測試方法) c v iz tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-32 3.1.4.3. dc 固定電流 (dc constant current)測試模式 (mode4, mode8) 對於 3f 以上電容值的電容，若使用上述ac 電 壓源模式測試時，將需要較低頻率來測試，而增加 ict 測試時間，故可利用電容充電曲線的斜率方式得 知電容值，故其測試方式為：提供一個固定的 dc 電流源，並在t1 時間測量電容兩端的v1 值， 及 t2 時間測量電容兩端的v2 值，由於 slope=(v2-v1)/(t2-t1)=v/t，而 v1、v2 及 t1、t2 已知，故得知slope，又因 slope*c=constant，而 slope 及 constant 已知，故 即可得電容 c 值(如附圖 3.9)。 3.1.5.電感測試原理 3.1.5.1. 固定 ac 電壓源 (constant ac voltage)測試模式 (mode0、mode1、mode2、mode3 ) 對於不同阻抗的電感，ict 本身會自動選擇一個適 當頻率 (frequency)的 ac 電壓源，作為測試使用， 其頻率計有： 1khz，10khz，100khz，1mhz， 對於極小阻抗值的電感將需要較高頻率的ac 電 v t v2 v1 t1 t2 vc c i slope=(v2-v1)/(t2-t1)=v/t slope*c=constant (圖 3.9：dc 固定電流測試方法) tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-33 壓源，再測量被測元件兩端的電壓源，由於 v=il*zl，而 v 及 il 已知，故得知z1=2fl，又 因 f 已知，故即可得知電感l 值(如附圖 3.10)。 debug modesignal sourceinductor range 01khz800h 60h 110khz1h 799.99mh 2100khz1h 79.99mh 31mhz1h 799.9h 3.1.5.2. ac 向位 (ac phase)測量模式 (mode5、mode6、mode7 ) 對於電感的測試，若並聯電阻時，則利用相位角度的 領先方式來測量出阻抗值，故其測量方式為：提供一 個適當頻率的ac 電壓源並在被測元件兩端測量出 iz，由於 v=iz*zr1，而 v 及 iz 已知，故可得知 zr1 值，又因 z1=zr1*sin，而 zr1 及 sin 已知， 故可得知 z1，又因 z1=2*f*l，而 z1 及 f 已知， 故即可得知電感l 值(如附圖 3.11)。 debug modesignal sourceinductor range 51khz80h 60h 610khz1h 799mh 7100khz1h 79.9mh ic v zl v=i1*z1 z1=2*f*l =2*f*l (圖 3.10：固定 ac 電壓源測試方法) tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-34 i vx vx=ir (圖 3.12：固定電流源方法) r(x) 3.1.6.jump 測試原理 ict 提供一個 0.1ma 的直流電流源量測兩測試點之間 的阻抗值，測量出vx，由於 vx 及 i 已知，利用 vx=ir 公式，即可得知被測兩端之量測電阻值(簡稱 x)，系統把兩測試點間之阻抗值，於不同mode， 分別顯示如下： 量測值(x) mode x55 (mode0) 255 (mode1) x10 (mode2) x正常情況下，測試值140200ff 開路不良時，測試值4.5ff a 檢測器 ac 電壓源 0.3v, 10khz cframe cframe 等效電路 a 檢測器 ac 電壓源 0.3v, 10khz cframe cframe 等效電路 cfault cfault tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-44 3 . 2 . 治 具 程 式 撰 寫 與 偵 錯 3.2.1.治具程式撰寫與偵錯程序 tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-45 3.2.2.治具安裝 治具安裝請參考2.2.ict 治具安裝，將治具正確安裝 於壓床平台上，進入、選擇 ，利用 選擇適當的治具程式路徑(注意要進入到有file 為止 )， 輸入正確的電路板名稱(不得超 過 15 個字元 )，選擇 完成治具安裝與治具程式 設定。 3.2.3.測試參數設定 進入 選擇 設定 測試順序 不良的重測次數 測試有不良時顯示方式等功能。 選擇 設定治具上 第 1 支測試針編 號最後 1 支測試針編號 (若 open/short 測試時間太久， 可調整短 /開路範圍設定 )。 選擇 設定印表機列印方式與範圍，包括自 動或手動 開路 /短路測試不良列印模式等。 選擇 設定不良零件位置圖範圍(可 參考治具點圖 )，若客戶有使用自動蓋章功能，可以 選擇良品蓋章。 選擇 將測試參數設定資料save，選擇 離開測試參數設定。 3.2.4.open/short 學習設定 進入 將待測板放在治具上，壓床下 降至定位，檢查開始與結束測試針編號是否正確，若有 問題可以至測試參數修改，選擇開始待測板 之開 /短路學習，視窗中顯示學習到的短路點資料，再 進行單獨 正常，完成 open/short 學習設定。 3.2.5.編輯欄位定義說明 選擇編輯 icon 進入編輯畫面，編輯欄位說明如下： 1. 步驟：步驟是零件測試時的執行順序，每一個步驟 代表一個零件的量測，零件測試時是從設定的 第一個步驟逐一測試到最後一個步驟。 2. 零件名稱：基本上零件的名稱並無限制，但建議使 用如下表中的代號。系統根據第一個字母自動 產生零件的類別。零件名稱最多不能超過 13 個字元。 第一個字母零件單位 tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-46 r, pr, vr 電阻、排阻、可變電阻 ，k，m c 電容、可變電容pf，nf，f l 電感（線圈） 、變壓器h，mh，h d 二極體 v q,t 電晶體 v i,u, m ic 保護二極體 v z 齊鈉二極體 v pc 光耦合二極體 v j, f, w 跳線、保險絲 dc 電容極性 ma px 電容極性三端測試 v 3. 實際值： 實際值就是零件表上的零件值。各類零件 的單位如上表所列。 4. 標準值： 在零件測試時判斷零件好壞的數值，通常 零件標準值與實際值一樣。如果量測值因為無 法找到合適的隔離點而不能與實際值接近時， 方才修改標準值。 5. 補償值： 在判斷零件好壞前以 (量測值 -補償值 ) 取代量測值再和標準值比較。當無法找到合適 的隔離點而標準值與量測值不能接近時，可修 改標準值或補償值。 6. 上限 %：零件量測值誤差的上限百分比。量測值誤 差百分比 = (量測值 -標準值 )/ 標準值 *100。零件量測值誤差百分比如果超過此上限 百分比即為不良零件。上限的範圍是從1 到 999。在此欄鍵入 -1，可忽略上限。 7. 下限 %：零件量測值誤差的下限百分比。零件量測 值誤差百分比如果低於此下限百分比即為不良 零件。下限的範圍是從1 到 99。在此欄鍵 入-1，可忽略下限。 8. 模式： 選擇零件量測的信號模式。 9. 型態： 表示零件的類別，若零件名稱符合規定，本 欄位的初始值為零件名稱第一個字元。 類別測試零件種類單位 r 電阻、排阻、可變電阻 ，k，m c 電容、可變電容pf，nf，f， mfl 電感（線圈） 、變壓器h，mh，h tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-47 d 二極體、齊鈉二極體、電容極性 v q 電晶體 v u 保護二極體、並聯測試 v pc 光偶二極體 v px 電容極性三端量測 v j 跳線、保險絲 qh 電晶體hfe qfmosfet,fetma qsscr,triacma o crystal頻率khz，mhz v 電壓測試 v i 電流測試 a 10. 高點： 高點即高電壓點，零件測試時，量測電流由 此測試點流入待測零件。 11. 低點： 低點是低電壓點，零件測試時，量測電流由 此測試點流出待測零件。 12. 位置： 位置是零件在電路板的對應位置。電路板的 橫向最多可分為 a b c d e f g h 共 8 區， 縱向最多可分為 1 2 3 4 5 6 7 8 共 8 區。 每個零件有各自對應的位置，以2 個字母表 示，如 a3，d1。 13. 延遲： 零件測試的延遲時間。將信號源流入待測零 件時，有些零件因為線路的特性，必需較長的 延遲時間，量測值才會穩定。一般延遲時間最 大是 150msec。 14. 隔離點 (1-5)：零件量測時加隔離點可使該零件的 量測不受周圍零件的影響。每個零件量測最多 可加 5 個隔離點。部分零件量測的隔離點限 制如下： 1. 小於 10 之電阻，不允許有隔離點。 2. 跳線及保險絲，不允許有隔離點。 3. 小於 150f 之電容使用模式4，只允許 有二個隔離點。 4. 大於 150f 之電容使用模式4，不允許 有隔離點。 5. 二極體測試非使用模式5 或模式 6 者， 只允許有一個隔離點。 6. 二極體測試使用模式5 或模式 6，不允 許有隔離點。 15. 刪略： 若刪略設定為1，在零件測試時這個步驟 tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-48 將不會被測試。實際要測試的步驟其刪略應設 定為 0。被刪略的步驟以綠色顯示。 16. 平均： 平均是將多次量測的平均值做為零件量測值。 17. 重測： 重測是設定該步驟重測的次數。每次量測後， 如果測試不良，該步驟會重新量測。一但量測 值是在上限百分比與下限百分比之間時，則不 再重新量測。此欄位最多不能設定超過5 次。若在此欄輸入 “d” ，表示測試前先進行 放電，並且重測次數內定為 5 次。當該測 試步驟測試前需先放電才能得到穩定的量測值 時可使用此功能。一般單獨測試步驟(f8)時 正常，連續測試 (f5)發生零件測試不穩 fail，可以使用此功能。 18. 中停： 中停用於需即時調整的零件測試。若中停設 定為 1，測試該步驟時會先暫停，並顯示該量 測值，目前部份客戶利用此設定量測 on/off 開關。 19. 量測值： 在編輯模式可執行每一個步驟的量測。零 件量測值顯示在此欄位。若測試不良，此步驟 以紅色表示。若測試正常，此步驟以藍色表示。 此欄位只能顯示，不可編輯。 20. 偏移： 偏移是零件量測值與標準值的誤差比率。此 欄位只能顯示，不可編輯。 3.2.6.常用編輯功能說明 在編輯主畫面中有一個下拉式功能表，包含許多編輯器 可使用的功能，方便測試資料之編寫與偵錯。在以下的 說明中，每個功能後的鍵盤碼是該功能的快速鍵。 1. 檔案 1.a 開啟全部測試資料 (shift+f1) 將全部 (不含高壓及 fun) 測試資料納入編 輯器。 1.b 存檔 (f2) 將正在編輯中的測試資料存檔，但不離開編輯 器。 1.c 存檔後結束 (f3) 將正在編輯中的測試資料存檔，並離開編輯器 回到主畫面。 1.d 結束測試資料編輯 (f4) tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-49 離開編輯器回到主畫面。若測試資料已修改， 系統會詢問使用者是否儲存測試資料。 2. 編輯 2.a 區塊步驟修改 (ctrl.+b) 當使用者欲同時修改多個測試步驟時，可輸入 開始步驟、結束步驟及欲修改的內容即可。選 擇此功能後顯示以下視窗並依以下步驟操作： 1. 輸入開始步驟、結束步驟。 2. 設定欲修改的內容。系統設計七個欄位可執 行區塊步驟修改，實際值、標準值、補償值、 延遲時間、上限 %、下限 %和刪略。實際值 和標準值需再設定單位，補償值的單位和標 準值一致。欲設定某欄位時需在該欄位對應 的小方塊內以滑鼠左鍵點選。 3. 選擇 確定 。 以 38 上圖為例。修改步驟1-165，下限皆設為 10%，不刪略。 2.b 刪除測試步驟 (ctrl.+d) 同時刪除多個測試步驟，設定開始步驟及結束 步驟，將目標區內之測試步驟全部刪除。 2.c 插入測試步驟 (ctrl.+i) 同時插入多個測試步驟，設定開始步驟及結束 步驟，在目標區內插入空白的測試步驟。 2.d 高低腳位交換 (ctrl.+c) tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-50 高點的測試針編號與低點的測試針編號互換。 有些零件，高點與低點互換後，所得到的量測 值可以更接近標準值。 2.e 多聯片測試資料複製 當待測電路板是多聯片時，只要準備好第一片 電路板的測試資料，其他的測試資料可使用多 聯片測試資料複製功能取得。選擇此功能後顯 示以下視窗並依以下步驟操作： 1. 測試針 offset 值：第一片電路板的第一 個測試點和第二片電路板的第一個測試點其 測試針編號的補償值。 2. 每一列電路板個數：在一橫排上，共有幾片 電路板。 3. 每一行電路板個數：在一縱排上，共有幾片 電路板。 4. 每一電路板在位置圖所佔行數：不良零件位 置圖在橫排上可以分成a 到 h (8 行)。如 果第一片電路板的位置是a 到 b，則設 定所佔行數為2。 5. 每一電路板在位置圖所佔列數：不良零件位 置圖在縱排上可以分成1 到 8 (8 行)。如 果第一片電路板的位置是 1 到 2，則設 tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-51 定所佔列數為2。 6. 電路板排列順序：設定多聯片電路板的排列 順序，有兩種排列順序：一種是多聯片先由 左到右排列，再由上而下排列。另一 種 是多聯片先由上到下排列，再由左而右排列。 7. 高壓電路板測試針 offset 值：第一片電 路板的第一個高壓測試點和第二片電路板的 第一個高壓測試點其測試針編號的補償值。 若沒有裝設高壓量測電路板，則設定為 0。 8. 刪略電路板編號：測試多聯片時，如果只想 測試其中的幾片電路板，可以設定不要測試 的電路板編號。此時測試資料並無任何改變， 只是在測試電路板時，刪略標明不要測試的 電路板。 多聯片複製時，短路點資料、零件測試程式及ic 保護二極體測試程式會一併複製，所以在執行多聯片 複製前，需先確定已學習短路點資料及ic 保護二 極體測試程式，零件測試程式已除錯完成。製作多聯 片的治具時，必須注意到每一聯片上每個零件的測試 針號碼均是有固定的offset 值。 2.f 多聯片測試資料刪除 將已經複製的多聯片測試資料刪除，只留下第 一片電路板的測試資料。 3. 尋找 3.a 測試步驟： (ctrl.+j) 將游標移到特定尋找的測試步驟上且該特定的 測試步驟會移到編輯器的最上一行。 3.b 測試不良步驟： (ctrl.+f) 將游標移動到下一個測試不良步驟上。 3.c 測試刪略步驟： (ctrl.+s) 將游標移動到下一個測試刪略步驟上。 3.d 零件： (ctrl.+n) 將游標移到特定的零件名稱上。輸入零件名稱 時，若並不清楚零件名稱的全名，可以僅輸入 前幾個字元。例如欲尋找前二字元為“rp“的 零件，可鍵入 “rp“，則系統會從目前步驟往下 tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-52 尋找第一個符合零件名稱前二字母是“rp“的 測試步驟。 會再往下尋找下一 個符合零件名稱前二字母是“rp“的測試步驟。 3.e 測試針步驟： 將游標移到特定尋找的高點或低點上。例如欲 尋找測試針高點或低點為30 的測試步驟，可 輸入 “30“，則系統會從目前步驟往下尋找第一 個符合高點或低點為30 的測試步驟。 會再往下尋找下一個符合高點或低點為 30 的測試步驟。 3.f 測試針編號 (ctrl.+p)： 在編輯器內可使用探棒接觸治具上的測試針， 而偵測其測試針點號碼。將未裝零件的空板放 在治具上，使用探棒去接觸銅泊上每個零件的 兩端，即可知道每個零件的高點與低點。使用 探棒做零件的測試針點尋找時，必須用空板； 如果使用實板，則實板上的電容會影響到測試 針點的尋找。 4. 隔離 4.a 單一步驟隔離點 (f7) 單一步驟隔離點自動選擇。當執行隔離點自動 選擇時，系統會自動選擇隔離點 適當的 高點、低點 適當的模式，使得量測值與標準 值最接近且穩定。 4.b 單一步驟隔離點 (不自動選高低點 )(ctrl.+f7) 同上，當執行隔離點自動選擇時，系統會依據 目前設定的高點與低點來選擇隔離點，不自動 選高低點，也不會自動選擇模式。 5. 測試 5.a 單一步驟 (f8) 執行游標所在步驟的測試。量測值及偏移會顯 示在對應的欄位上。如果是測試正常，則以藍 色顯示該步驟。如果是測試不良，則以紅色顯 示該步驟。 5.b 單頁步驟 (ctrl.+f8) 執行游標所在的整頁所有步驟的測試。在零件 測試時，有時候前幾步驟零件的測試，會影響 到該零件的量測值。執行整頁測試時，可以看 tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-53 出每個零件的量測值，是否受到前幾步驟零件 量測的影響。 5.c 全部測試： (f5) 執行從第一步驟到最後步驟的測試。 5.d 重複測試： (ctrl.+f5) 重複多次執行全部測試。重複多次測試同一片 電路板再查看測試統計分佈圖表可以看出有那 一個零件的測試值不穩定而必須修改該零件的 測試資料。 6. 檢視 6.a 測試失效步驟 (ctrl.+o) 顯示所有測試不良的步驟。 6.b 刪略步驟 顯示所有刪略的步驟。 6.c 測試值分布圖 (f9) 顯示游標所在步驟的測試值分佈圖。將同一片 待測板重覆多次測試後，由測試值分佈圖可以 看出該零件的測試值是否穩定，延遲時間是否 須加長，標準值是否須修改，上下限是否須修 正，重測的次數是否需增加等。 6.d 測試值分布表 (f10) 顯示所有測試步驟的測試值分佈表。將同一片 待測板重覆多次測試後，由測試值分佈表可以 看出每個零件的測試值是否穩定，延遲時間是 否須加長，標準值是否須修改，上下限是否須 修正，重測的次數是否需增加等。 6.e 清除測試值： 清除儲存於記憶體內的測試值統計資料。當重 複多次測試所有零件時可以先清除測試值統計 資料，以便看到測試資料編修後每個零件的測 試統計分佈。 6.f 並聯 /聯接零件： (ctrl.+x) 檢視並聯 /聯接零件的功能在於編輯測試程式時 提供與待測零件相連接的零件資訊。這些資料 可以初步的顯示待測零件的線路環境，節省查 閱線路圖的時間，方便使用者編輯測試程式及 隔離點的選擇。 tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-54 例如以下狀況，我們可以適當的修改測試程式。 1. 測試電阻時，隔離點是選擇與高點相連接的 零件的另一個測試針點。 2. 測試電容與電感時，隔離點是選擇與低點相 連接的零件的另一個測試針點。 3. 當大電容並聯小電容時，小電容將無法測試。 4. 當電阻與電感並聯時，電阻將無法測試。 5. 當大電阻與大電容並聯時，大電阻的量測值 將不準確。 6. 當電阻與電阻並聯、電容與電容並聯、電感 與電感並聯時，需修改標準值。 7. 自動選擇隔離點時若量測值不穩定且偏移過 大，無法找到合適的隔離點時，可以參考並 聯/聯接零件資料使用人工的方式選擇隔離點。 8. 如為無法測試的零件，刪略的欄位可以設定 為 1。 3.2.7.電阻 debug 要領 3.2.7.1.電阻並聯電容：使用模式2 快速充電。因為電容之充放電效應， 電阻之測量值較標準值為低，此時可 加延遲時間或以重複測試加以解決。 如果測量值依舊偏低，可以更改標準 值與放寬上、下限之限制。延遲時間 不可超過 150msec。重 覆測試設定不可 超過 5 次。 a b r c i tr-518fe 訓練教材(windows 版)3-55 3.2.7.2.電阻並聯二極體：若使用模式 0 v=ir=1v 造成二 極體導通，使跨在 電阻之電壓只有0.7v 測量值，量測值 為 r=0.7v/0.5ma=1400。此時可選擇 模式 1，使用低一檔電 流源，則 v=ir=50a2k=0.1v 無法 使二極體 導通，量測量值為 r=0.1v/50a=2k。 3.2.7.3.電阻並聯電阻：測量值 rx=r1r2/(r1+r2)=500。標準值需 改為 500 做為測量之 基準。可查看電 阻串、並聯的情況再修改標準值。 3.2.7.4.電阻並聯電感：電感在直流信號 源下是近似於短路，所以電阻無法被準 確測出。此時必須用交流電信號以相位 分離法檢測，因此可以選用模式 3：1k 相位 (r/l)、模式 4：10k 相位 (r/l)、或模式 5：100k 相位 (r/l)測 量。 3.2.7.5.可變電阻：實際電路