《光网络测试培训》PPT课件.ppt

光网络测试培训,光时域反射仪篇,链路损耗测试,光源 光功率计 链路损耗测试：直接方法-光源、光功率计方法 链路损耗测试：间接方法-OTDR法,OLP6 键盘,开关键,波长选择键,dBm：绝对功率 dB：相对功率，应用于损耗测量 保持一段时间可归“0”，作为损耗测试起始点,OLP6测试接口,采用2.5mm通用接口，适合FC、SC、ST、DIN等2.5mm插芯接头,OLP6电源,开机或关机时，瞬间显示电池容量，如图，容量为30,电池电量低告警,电池装入,光功率计操作要点,选择与光源对应的波长 检查被测光纤：是否存在过度弯曲，缠绕等，会影响功率测试 微弯会造成光泄露，使光功率偏低甚至无信号 连接部位是否紧密 注意：长时间不用仪表应取出干电池，以免漏液造成腐蚀仪表。,OLS6键盘,开关键,波长选择键,调制方式,OLS6接口,1310nm,1550nm,采用双端口输出，每个输出口对应唯一的波长。接口标准配置为FC型。,OLS6输出波长选择,1310nm,输出1310nm,输出1550nm,1310nm/1550nm双波长轮发,OLS-6调制信号输出,输出“连续波”（损耗测试必须采用）,输出“270Hz”调制信号（主要用于对纤）,输出“1kHz”调制信号（主要用于对纤）,输出“2kHz”调制信号（主要用于对纤）,AutoTest模式（可使OLP6自动检测到光源输出波长）,OLS6电源,开机或关机时，瞬间显示电池容量，如图，容量为30,电池电量低告警,电池装入,光源操作要点,选择需要测试的波长 连接部位是否紧密 确定应用，选择发送波形式 连续波（CW）用于损耗测试 调制波（MOD）用于对纤 注意：长时间不用仪表应取出干电池，以免漏液造成腐蚀仪表。,光纤线路测量损耗,链路损耗测量 意义：链路的全程损耗，是否符合设计光程预算。 单位：dB 测试仪器： 直接方法：光源、光功率计 间接方法：光时域反射仪（OTDR）,光损耗测试-直接方法,原理性方法剪断法,测量损耗差值,1,2,校准,P1,P2,损耗=|P1-P2|,光损耗测试-替代方法1,测量损耗差值,光纤跳线,被测光纤,光功率计,1,2,校准,P1,P2,损耗=|P1-P2|,不切断光纤，将光纤跳线直接取下。 将被测光纤直接替换校准用光纤跳线。,光损耗测试-替代方法2,测量损耗差值,光纤跳线,被测光纤,光功率计,1,2,校准,P1,P2,损耗=|P1-P2|,将中间一段光纤跳线直接取下。 将被测光纤直接替换中间一段光纤跳线。,光源、光功率计方法测试光纤损耗注意事项,光源设置为连续波（CW）。 光源与光功率计波长一致。 两个步骤。校准和测量缺一不可。 两个步骤之间，光源不要关闭。 我们现有光源输出相对时间相对稳定。输出精度较差。每次、输出功率不一样。 典型错误方法： 省略校准步骤。用光功率计读数减去光源额定输出。,光损耗测试-间接方法,光时域反射仪（OTDR）测试方法,dB,km,* dB,起始反射结束端与测试结束点电平的高度差,避让首个反射峰,接入光纤辅助OTDR法测试链路损耗,测试方法-接入辅助光纤,连接点,辅助光纤,被测光纤,dB,km,xx dB,接入光纤辅助测量全段光纤损耗，无长度损失。,光纤线路测量纤长,链路长度（纤长） 测试仪器：光时域反射仪（OTDR） 获得光纤长度信息，作为最重要的档案信息。 辅助配盘。 辅助衰减测量。,dB,km,* km,光纤线路测量衰减系数,光纤衰减系数测量（平均损耗） 测试仪器：光时域反射仪（OTDR） 意义：评价链路质量。 衰减链路损耗/长度 dB/km 两种评价方法： 两点衰减：即为两点损耗/长度；（AB） 两点LSA衰减：为降低曲线波动性影响，而采取的数学分析方法。在两点间取一条近似逼近直线。（AB）,A,A,B,B,逼近线,光纤线路测量插入损耗,插入损耗测量 测试仪器：光时域反射仪（OTDR） 意义：连接点的损耗值，对应熔接点即为熔接损耗。,dB,km,事件前后轨迹的高度差即为插入损耗,光纤线路测量反射,连接器反射测量 测试仪器： 简单评价：光时域反射仪（OTDR） 精确测量：光回损测试仪 意义：评价连接器的连接质量。特别在有线网络和PON网络中，至关重要。,dB,km,反射事件前端与反射峰的高度差,光纤线路测量故障位置,故障位置查找 测试仪器：光时域反射仪OTDR 辅助手段：可见光故障定位仪（红光光源）,dB,km,故障的位置信息，* km处断裂或其他事件,光纤线路测量光功率,光功率测量 测试仪器：光功率计 单位：dBm、mw dBm10lg（P1/1mw） dB=10lg(P1/P2) 意义：最为常规的测量，光纤测量的基础内容。 应注意调整校准波长，在校准波长上测量才能获得准确的测试结果。,光接收机灵敏度测量,光接收机灵敏度测量 测试仪器： 误码率：光功率计、可变光衰减器、2M误码仪 光功率低告警：光功率计、可变光衰减器,可变光衰减器,光发射机,光接收机,2M,光功率计,RX,TX,灵敏度 测量点,DWDM测量 色度色散(CD) 意义：由于波长的不同引起的色散，造成收端脉冲展宽 极化模式色散或偏振模色散(PMD) 意义：由于光沿不同轴向传输，路径不同（沿快轴的路径短，沿慢轴的路径长），造成收端脉冲展宽。经常会变化的属性。 光谱分析 意义：分析光谱分布，确定波长中心频率、及偏移等参数,光纤线路测量DWDM,JDSU OTDR操作指南,通测科技,MTS6000 测试平台,SDH 10G OTN 10G 以太网 10G Fiber Channel,波谱衰减,OSA,CD/PMD,主界面,SYSTEM：系统设置,FILE：文件,SETUP：测试设置,RESULTS：结果页,SCRIPT：宏操作,START/STOP：测量键,游标,确认键,开关,键的操作与仪表提示对应即可,接口,电源接口,USB接口 U盘存储 鼠标 键盘 打印机,网络接口（RJ45） FTP下载测试文件 远程控制,SYSTEM,选择OTDR功能模块 选择后OTDR选项变成黄色 系统设置：仪表参数 背景光、对比度、屏保、语言、日期时间、接口、打印机设置等 帮助页：仪表信息，型号序列号/选件状态 专家工具：升级、远端显示、U盘格式化等 脱机结果：视频显微镜 桌面应用：文档读取,SYSTEM测量功能选择,选择对应的功能模块，按确认键(原点)，变为黄色即可。 ！告警：功能未选择或未装入所需模块,MTS6000-SYSTEM帮助页,选件信息,主机序列号、模块序列号,版本,退出,MTS6000：FILE浏览,复制 粘贴 删除,文件浏览 文件设置,存储,MTS6000：FILE设置,文件浏览 文件设置,如自动存储 选项选“是” 请打开配合选项，“光纤号递增”,FILE-文件操作流程,文件保存 FILE设置/文件浏览设置存储迹线 文件浏览 FILE设置/文件浏览文件浏览 文件载入 FILE设置/文件浏览文件浏览选择文件装入 文件名命名规则 FILE设置/文件浏览设置文件命名 迹线方向 FILE设置/文件浏览设置方向,SETUP-测量设置,SETUP采样,操作：上下项目移动；左右选项/数值变化 采样 模式：专家、自动、故障定位 专家：手动 自动：自动 故障定位：以获取长度信息等简单信息为目的。OTDR简化测试。 激光器：1310nm、1550nm、全部 全部：双波长测试 脉宽脉宽越大，测量距离越远，盲区也越大。3ns最小（近），20us最大（远） 范围超过被测光纤即可，建议1.52倍。过大的范围设置影响距离精度。 分辨率设置采样间隔，越小距离精度越高。 自动：折中策略 高动态：以获得更大的动态范围为目的，采样点少而稀。 高分辨率：以获得更好的距离精度为目的，采样点多而密。 采样时间即平均时间，时间越长动态范围越好（距离越远）。 建议最小30秒，最大3分钟,SETUP测量,测量 检测OTDR对事件的判别门限，建议不自己设定。 折射率：常数，影响距离精度（曲线横轴）。 散射系数：常数，影响损耗精度（曲线纵轴）。 导引 光缆：即接入辅助光纤时起点，可设定从事件位置开始或设定距离。将0km点偏移到被测光纤起点。,SETUP结果显示,结果显示 告警 说明 Section Loss Unit：段损耗单位（dB/km或dB） 迹线上显示结果不/全部/只显示图形 栅格 单位 Colors颜色,RESULTS-结果页,事件表,测试曲线,标识线数据栏,RESULTS-结果页-事件,非反射事件：熔接点、弯曲,反射事件：物理连接,结束点：带反射结束、不带反射结束,伪增益：双向测试，相加取平均,RESULTS-结果页-鬼影曲线,实际链路中不存在的反射 分析鬼影，判断真正结束点 辅助手动分析，获取链路参数,鬼影,RESULTS-事件表-关键信息,事件标识,距离信息,连接损耗,反射,衰减系数,段距离,累计损耗,非反射事件：熔接点、弯曲,反射事件：物理连接,结束点：带反射结束、不带反射结束,关键信息： 结束点位置：距离（长度） 累计损耗 衰减系数,RESULTS-标识线应用-手动分析,A、B标识线信息： 横轴 纵轴,A到B信息： A-B：距离 A-B：衰减系数,A-B：累计损耗,自动测试可以承担大部分测量任务，但不一定会获得最佳测试结果。 手动测试是自动测试缺陷的弥补。 在一些极限情况下，建议采用手动分析。如，短光纤、鬼影曲线等。尤其是自动分析未能准确判断出结束点曲线。,RESULTS-操作,事件/迹线： 事件：标识线跳到下一个事件 迹线：屏幕跳到下一条迹线 缩放/移动： 缩放：放大、缩小迹线；上下键纵轴，左右键横轴 移动：移动迹线 光标：A、B、AB 迹线/表格：迹线和事件表的切换 缩放自动：画面自动变换到有效迹线（非全范围） 设置事件：人为添加事件（事件修正） 高级：后续,RESULTS操作-高级,多迹线显示 手动测量 斜率（衰减） 回损 反射 五点法 锁定/解除锁定（事件） 删除/自动：原点键确认操作 删除测量结果 自动分析曲线,OTDR测试原则,测量方法 双波长测量：区分熔接点和弯曲。 双向测量：双向损耗结果和修正伪增益。 接入光纤：辅助链路损耗测量。 参数选择原则 波长：首选1550nm测试。 1550nm测试距离更远 1550nm测试时对弯曲更加敏感 脉宽：能够看到迹线全貌，尽量选小的脉宽。 平均时间（采样时间）：30180秒 分辨率：采样间隔的设置，采样间隔越小距离精度越高。对曲线采样密集后，也会引入更多噪声，影响动态范围。一般选自动即可。,双波长测试 意义：分辨弯曲和熔接点 原理：波长越大对微弯越敏感，也就是波长越大插入损耗值越大。 方法：比较在两个波长上的测试结果，如果插入损耗值相差过大，可以判断为弯曲。,常用测试方法,小知识 为什么微弯会有较大损耗？ 答：如果弯曲半径太小，会造成弯曲部位发生光泄露，造成光能量损失。所以会有较大损耗。可以使用“红光光源”验证。,双向测试 主要意义：修正伪增益带来的测试误差。 方法：双向测量损耗值相加取平均（注意：不是绝对值相加，而是带有正负号相加；或者说应该绝对值相减取平均） 其他意义： 盲区的弥补 双向曲线比较 帮助修正漏测事件,常用测试方法,典型操作选择OTDR,选择OTDR模块功能 进入SYSTEM，