RST内存检测软件.doc

RST内存检测软件（RST只能检测SD和DDR内存，DDR2 DDR3可能不支持2010-01-24 11:18:04|分类： 技术教程 |标签： |字号大中小订阅 工厂检测内存条质量的软件Ram Stress Test，只要有一丁点问题，都能检查出来，推荐大家使用，各位一定都碰到过，提示内存不能为READ，或者WRITTEN的情况，很多时候都是软件问题，要解决他首先检查内存条的质量，然后再从软件去找问题。这个软件是最专业的，比那个MEMREST还好，只需要检查一边，好就是好，坏的就是坏的。这个软件确实很好，内存坏的话会显示红色，并且报警。但是只能检测一代内存，二代内存就需要微软的检测工具了。Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式，是专门给系统生产厂商出机前用的测试程式，他其实是从其他的产品独立出来的一项测试，该公司专作系统测试的软硬体，方便生产厂商将产品做详细测试，至于R.S.T.在目前记忆体生产业使用非常普遍，因为经过他的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题，所以是非常好用的一个测试工具！ 使用非常简易，只要设定为软碟开机就行了，他是一个独立开发的系统，没有依附任何作业系统，相容于x86系列，只要BIOS认的到的容量他都能测！ 发现 ATS 选项错误，在BIOS中，记忆体选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时，上述选项才能通过。附件IMZ需要用winImage展开到软盘上，然后用此软盘启动系统。附件NRG是用Nero烧录可启动光盘的软盘镜像文件。程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测试你CPU的L2 cache。可以测试SD及DDR内存。闪动数字0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF依次代表内存条的8颗颗粒。从左到右横着数：0-7代表第1颗粒区域、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗粒代、8-F代表第6颗粒、0-7代表第7颗粒、8-F代表第8颗粒点不亮内存的测试方法很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮，点不亮的可以用一根好的内存去带动它（可解决部分点不亮问题）。必须SD的带SD的，DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的去检测坏的那根。发现 ATS 选项错误，在BIOS中，记忆体选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时，上述选项才能通过。程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测试CPU的 L2 cache。RAM测试软件说明书 (R.S.T )UX版闪动的一排测试数字代表内存8颗粒的测试情况。从左至右，0-7代表第一区域，8-F代表第二区域;0-7代表第三区域,8-F代表第四区域;依次代表内存条的8颗颗粒。DDR8位与16位的单面测法:. 0-7(1 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第1颗粒已经损坏. 8-F(2 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏. 0-7(3 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏. 8-F(4 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏. 0-7(5 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏. 8-F(6 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏. 0-7(7 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏. 8-F(8 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第8颗粒已经损坏注意DR的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8如果你是128M的双面DDR内存,如以上显示界面图:1-16M -16-32M -32-48M -48-64M-从1M到64M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第一面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)64-80M -80-96M -96-112M-112-128M-从64M到128M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第二面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)注意:在内存的PCB板上的两边标着1与92的代表第一面，93与184的代表第二面。1-128M的8根虚线是用来区分两面区域的作用.SD的8位与16位的单面测法:. 0-7(1)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第8颗粒已经损坏. 8-F(2)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第4颗粒已经损坏. 0-7(3)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第7颗粒已经损坏. 8-F(4)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第3颗粒已经损坏. 0-7(5)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第6颗粒已经损坏. 8-F(6)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第2颗粒已经损坏. 0-7(7)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第5颗粒已经损坏. 8-F(8)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第1颗粒已经损坏（注： PCB板上从1到84为第一面，颗粒的排列顺序从1到84为8-7-6-5-4-3-2-1，切记注意）4.通过以上的介绍，说明SD的双面是跟DDR的是一样的。但是颗粒的好坏判断要按照它们的排列循序来判断。5.PCB板的短路或者虚焊的测法:如果在8根虚线上都出现乱码，说明这根内存的PCB板有问题6.点不亮的内存的测试方法: 很多内存短路或者颗粒