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文档简介

一 透射电子显微镜简介二 FEIF20的基本结构及软件三 FEIF20的操作使用四 透射电子显微镜的样品制备 主要内容 一 透射电子显微镜简介 透射电子显微镜 TransmissionElectronMicroscopy 阿贝成像原理 TEM与光学显微镜比较 光学显微镜的分辨率 TEM与光学显微镜性能对比 电子激发样品可获得各种信号 质厚衬度 衍射衬度 相位衬度 HRTEM Z衬度 STEM像 两个基本模式 二 FEIF20的基本结构及软件 品牌 美国FEI型号 TecnaiG2F20用途 TEM 形貌观察SAD 晶体结构EDS 微区元素分析 技术指标 加速电压 200KV电子枪 FEG点分辨率 0 24nmFEG最小束斑 0 3nm放大倍数 25 1000k 样品最大倾角 S TWIN 40 Gatan832CCD相机 分辨率4K 2 7K TecnaiG2F20型TEM外观说明 软件说明 三 FEIF20的操作使用 TecnaiG2F20型TEM的操作使用 讲在上机自主操作前 1 实验前检查 2 装入样品杆 此操作限高级用户使用 样品杆清零 3 电镜合轴 2020 1 29 35 可编辑 4 电镜实验 5 拔出样品杆 小结 四 透射电子显微镜的样品制备 TEM送样的几点说明 1 粉末样品 2 块体
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