电子电气产品中限制使用物质水平的测定方法DOC80(1).doc

电子电气产品中限制使用物质水平的测定方法(内部资料仅供参考)IEC ACEA ad hoc工作组ad hoc工作组的使命：制定标准文本，定义检验程序，以允许电子电气行业在全球协调一致的基础上测定电子电气产品中铅、汞、镉、六价铬、聚溴联苯和聚溴二苯醚这些限制使用物质的浓度（欧盟RoHS指令，中国，美国，日本等）ad hoc工作组的目标：为电子电气行业制定标准文本供实验室使用，并提供给全球范围内的OEM厂商，供应商，非政府组织，政府部门等。该标准文本将作为IEC标准进行提交发布。目录1 前言 . 72 范围. 73 参考文献. 74 术语和定义 . 85 检验程序简介 . 85.1 检验程序范围 . 85.2 检验程序流程 . 85.3 材料调节（基质） . 105.4 定性和定量筛选检验程序. 105.5 验证检验程序. 106 机械样品制备过程. . 116.1制备方法的范围、应用和概要. . 116.2参考资料，参考标准，参考方法和参考材料. 116.3 术语和定义. . 116.4 仪器/设备和材料. 116.5 检验程序. . .126.5.1 样品. 126.5.2 切割. . 126.5.3 粗磨 . . 126.5.4 均质化. . 126.5.5 细磨. 127 X射线荧光光谱仪（XRF）的定性筛选. 137.1 范围 . 137.2 引用标准.137.3 术语和定义.147.4 仪器/设备和材料. .157.4.1 标准样品. 167.5 检验程序. 177.5.1 分光计的准备. 177.5.2 检准. 177.5.3 分光计性能验证. 177.5.4 测量样品介绍. 187.5.5 测量. .187.5.6 试验报告 . 197.6 方法评价. .197.7 附件.197.7.1 根据RoHS指令对试验结果的解释. . 197.7.2 基质影响. 207.7.3 样品的尺寸和厚度考虑. 208 X射线荧光光谱仪的定量筛选（XRF）. . . . . 218.1 范围 . . 218.2 引用标准 . 218.3 术语和定义 . 218.4 仪器/设备和材料 . 228.4.1 标准样品 . 238.5 测试程序 248.5.1 分光计调整 . 248.5.2 校准 . 248.5.3 定量筛选测试 . 248.5.4 测试报告 . 248.6 附件 258.6.1 按RoHS指令解释测试结果 . . 258.6.2 基质影响 . 258.6.3 样品大小和厚度考虑 . 259 用GC/MS 测量聚合物中的多溴联苯PBB 和多溴联苯醚 PBDE . 279.1 范围，应用和方法概要 . 279.2 参考资料，引用标准，标准方法和标准材料 . . 279.3 术语和定义 . 279.4 仪器/设备和材料 . 289.4.1 仪器 . 289.4.2 设备 . 289.5 试剂 . . 289.6 样品制备 . 299.6.1 样品辩认 . 299.6.2 提取（萃取） . . 299.6.3 样品清洗和纯化 . 299.7 测试步骤. 299.7.1 校准 . 299.7.2 仪器性能 . 299.7.3 样品分析 . 309.7.4 分析结果的计算 . 309.7.5 测试报告 . 309.7.6 质量控制 . 319.8 方法评估 . 319.9 附件. . 3110 用HPLC/UV 测定聚合物中的PBB 和 PBDE . 3210.1 范围，应用和方法概要 . 3210.2 参考资料，引用标准，标准方法和材料 . 3210.3 术语和定义 . 3210.4 仪器/ 设备和材料 . 3210.4.1 仪器/ 设备 . 3210.4.2 材料 . 3210.5 试剂 . . 3210.5.1 标准制备 / 储存溶液制备 . 3310.6 样品制备 . . 3310.7 测试程序 3310.7.1 校准 . 3310.7.2 仪器性能 . 3310.7.3 样品分析 . 3310.7.4 分析结果的计算 . . . 3410.7.5 测试报告 . . 3410.7.6 质量控制 . . 3410.8 方法评估 . . 3411 在无色和有色铬涂层中对六价铬的点滴试验 3611.1 范围，应用和方法概要 . . . 3611.2 参考资料，引用标准，标准方法和材料 . . 3611.3 术语和定义 . . 3611.4 仪器 / 设备和材料 . . 3611.5 试剂 . 3611.6 样品制备 . . 3611.7 测试程序 3611.8 方法评估 . . 3712 用比色法检测六价铬. . . 3812.1 范围，运用及方法总结. . . 3812.2 引用标准，标准样品，标准方法和标准材料. . . . 3812.3 术语和定义 . . . 3912.4 仪器/设备和材料. . . 3912.4.1 仪器/设备 . . . . 3912.4.2 材料 . . . . .4012.4.3 试剂 . . . . . 4012.5样品制备 . . . . 4012.6 测试步骤 . . . . 4112.6.1提取 . . . . 4112.6.2 显色和测试 . . 4112.6.3 校准曲线的准备. . 4212.6.4 分析结果的计算 . . 4212.6.5 质量控制 . 4312.7 方法评估 . 4313 用CVAAS，AFS和ICP-AES/MS测量聚合材料、金属物质和电子产品中的汞. 4413.1 范围、应用和方法概要 . 4413.2 参考资料、引用标准、标准方法和标准材料 . . 4413.3 术语和定义 . 4513.4 仪器/设备和材料 . 4613.5 试剂 . 4613.5.1 污染 .4613.6 样品制备 . . 4713.6.1 测试部分 . 4713.6.2 湿法消解（金属材料和电子产品的消解）. . 4713.6.3 用硝酸/氟硼酸/过氧化氢进行微波消解. . 4813.7 检测步骤. . . 4813.7.1 标准制备 / 存储溶液制备 . . 4813.7.2 校准 . 4813.7.3 仪器性能 . 4913.7.4 仪器参数 . . 4913.7.5 样品分析 . 5013.7.6 分析结果的计算 . . 5013.7.7 测试报告 . 5113.7.8 质量控制 .5113.8 方法评估 . 5113.9 附件 . . . 5114 用ICP-AES，ICP-MS和AAS测量聚合材料中的铅和镉. . . 5214.1 范围，应用和方法概述. . 5214.2 参考资料，引用标准，标准方法和材料 . . 5214.3 术语和定义 . 5214.4 仪器/设备和材料. . . 5314.4.1 仪器/设备 . 5314.5 试剂 . . 5414.6 样品制备 . 5514.6.1 测试部分 . . . 5514.6.2 测试溶液的制备 . 5514.6.3 实验室空白试剂的制备 . 5714.7 测试步骤 . . 5714.7.1 校准溶液的制备 . 5714.7.2 校准曲线的制定 . . 5714.7.3 测量样品 . 5814.7.4 计算. 5814.7.5 测试报告 . 5814.7.6 质量控制 . 5814.8 方法评估 . 5914.9 附件 . . . 5914.9.1