不良分析手册.doc

此文档收集于网络，如有侵权，请联系网站删除不良分析手冊Audio jack第一章 材料介紹研究問題點:版本A 材料的認識 AC97 series schematic Azalia series schematic(P18 P19) (P21 P22 P23 P24)第二章 不良分析研究問題點:版本A Open Short NG IR NG 外觀不良 青蛙腳尺寸不良類型不良影響手冊應用說明產品類別Open Short NG影響音頻信號正常傳輸和轉換.分析各項不良之前,請確認儀器檔案及測試架接法均OK後,再行分析.AC97 seriesIR NG影響兩pin之間安全距離外觀不良影響成品外觀及客戶端成品外觀青蛙腳尺寸 NG無法扣合住客戶PCBAzalia series材料在鐵殼中晃動影響客戶上板,材料PIN腳可能在過SMT時焊接不到PCB上1.Open Short不良分析不良現象:AC97代碼不良類型原因分析APlug outPin1&Pin2 openA1: 用鑷子預埋U型端子時,用力過大,將U端子壓變形,至使無法與F型端子接觸.BPin2&Pin3&Co shortB1: 端子預斷處殘留的鐵削,將Pin3&Pin4&Co短路.B2: 端子預斷處殘留的鐵削,將Pin3&Pin4短路.CPlug inPin2&Pin3&Co shortC1: 同B1&B2DPlug1&Pin1 openD1: 用鑷子預埋U型端子時,用力過大,將U端子壓變形,至使無法與plug1接觸.D2: U型端子未預埋到位,定位時將其定變形, 至使無法與plug1接觸.EPlug2&Pin4 openE1&E2: 同D1&D2E3: plug的長度小於規格長度.FPlug3&Co openF1: 預埋不到位,至使定位後Co無法與plug3接觸.說明:無A1-1 圖示說明:U型彈片端子變形與F型端子open.如圖A1-1圖A1-1正常狀態Pin1&Pin2 openA1-2 測試說明:如圖A1-2此燈亮,其餘燈不亮圖A1-2A1-3維修方法:此種不良目前拆解端子,拆解下來的良品端子繼續使用,U型端子與塑膠報廢.AC97A1-4注意事項:1.從料帶上折下U型端子時,不可將端子折變形.2.預埋U型端子時,鑷子不可將端子壓變形.A1-5歷史事件:暫無.B1-1 圖示說明:端子從料帶上折下時,會殘留一些鐵削,由於pin3&pin4&Co間距較近,鐵削會將其短路.如圖B1-1端子預斷處鐵削圖B1-1B1-2 測試說明: 此項不良目前測試架無法測出,只能在IR測試時測出此不良.無B1-3維修方法:用毛刷來刷,然後再進行測試.B1-4注意事項:無B1-5歷史事件:在半成品導通測試站後增加一站別:用氣槍吹鐵削.B2:不良情況與B1一樣,分析請參考B1C1:不良情況與B1一樣,分析請參考B1AC97D1-1 圖示說明:如圖D1-1U型彈片未與plug接觸 圖D1-1D1-2 測試說明: 與E3-2一樣,請參考圖E3-2 無D1-3維修方法: 拆解報廢.D1-4注意事項: 預埋端子時,不可將端子壓變形.D1-5歷史事件: 目前端子變形不良較高且一直未解決,現還在尋找更好的作業方法或修改端子.D2-1 圖示說明:如圖D2-1 不良材料 正常材料D2-2 測試說明: 此不良可從第一定位站後目檢出.,故無測試說明 無AC97D2-3維修方法:拆解報廢.D2-4注意事項:預埋端子時,不可將端子壓變形,定位一站後要目檢此不良項目.D2-5歷史事件: 暫無.E1&E2:不良情況與D1&D2一樣,分析請參考D1&D2.E3-1 圖示說明: 由於plug的尺寸小於規格,plug插入後U 型彈片只能接觸到plug的絕緣部分如圖E3-1U型彈片接觸到plug的絕緣部分圖E3-1E3-2 測試說明:如圖E3-2此燈亮,其餘燈不亮圖E3-2E3-3維修方法:此種不良,不屬于材料問題,所以更換plug及可.E3-4注意事項:測試治具上線前,IPQC校驗時需校驗此部份尺寸.E3-5歷史事件:暫無.AC97F1-1 圖示說明: 此不良與D1相似,可參考D1之不良分析 無F1-2 測試說明:如圖F1-1此燈亮,其餘燈不亮 圖F1-1F1-3維修方法: 拆解報廢.F1-4注意事項: 預埋Co要到位,Co端子定位後須目檢,但如在測試中測出此不良項目,首先先檢查plug是否磨損,以免誤判.F1-5歷史事件: 暫無.Azalia代碼不良類型原因分析APlug outPin1&Pin2 shortA1:U型端子變形,定位時將其定到塑膠格欄內.BPin1&Pin3 shortB1:預埋端子時,廢料帶殘留在材料中.CPin1&Pin4 shortC1:同B1.DPin3&Pin4 shortD1:同B1.EPin2&Pin3 shortE1:端子變形,兩彈片端子接觸.FPlug inPin1&Pin2 shortF1:U型端子未定到位,由於PIN2與U 型端子間距很近,插入plug時,U型彈片被擠壓與pin2接觸.(C port)GPin2&Pin3 openG1:端子變形G2:設計與材質不良,現已更改設計.AzaliaHPlug inPlug1&Pin1 openH1: U型端子未預埋到位,定位時將其定變形, 至使無法與plug1接觸.H2: 用鑷子預埋U型端子時,用力過大,將U端子壓變形,至使無法與plug1接觸.IPlug2&Pin4 openI1&I2: 同H1&H2I3: plug的長度小於規格長度.JPlug3&Co openJ1: 預埋不到位,至使定位後Co無法與plug3接觸.說明:由於在Plug in狀態, Pin1&Pin2 short現有測試架無法測到,所以對此不良,採用另一種測試架,目前用于測試半成品導通,後續會改新測試架.A1-1 圖示說明:如圖F1-1端子定到格欄內A1-2 測試說明:此項不良很少且目檢可將其檢出,所以在第一站定位後,作業人員可將此不良檢出,至今此不良未流至導通測試站.A1-3維修方法:由於此不良可在第一站定位後檢出,所以此不良材料做報廢處理.A1-4注意事項:預埋端子時不可將端子變形,目檢人員要了解此不良項目.A1-5歷史事件:暫無.B1-1:不良說明: 此項不良為端子料帶掉入材料中,目檢不易目檢出,但在插入plug時,由於料帶阻塞了插孔,plug無法插入,所以導通測試站可檢出此不良材料.B1-3維修方法:廢料帶如能從材料中敲打粗來可繼續使用,如不能則報廢.B1-4注意事項:預埋端子時切不可將廢料帶掉入材料中.B1-5歷史事件: 暫無.AzaliaC1:不良情況與B1一樣,分析請參考B1D1:不良情況與B1一樣,分析請參考B1E1-1 圖示說明:此種彈片端子易變形,正常狀態兩端子open.如圖E1-1彈片接觸 圖E1-1E1-2 測試說明:Azalia 材料在plug in的狀態,原本open的端子short時,測試架均顯四個燈都不亮.如圖E1-2四個燈都不亮 圖E1-2E1-3維修方法:把彈片端子(與塑膠無干涉)從塑膠中敲打出來報廢,其餘部分經目檢後可使用.E1-4注意事項:裝彈片端子時(尤其插入端子後折料帶時),不可將端子變形.E1-5歷史事件: 由於客訴,此端子曾變更過兩次(參考不良分析G),目前使用的端子易發生此不良,所以在IR測試項目中增加pin2&pin3.F1-1 圖示說明:Pin1與pin2的距離很近,如U型端子(pin1)未定到位,則容易與pin2接觸.如圖F1-1PIN2PIN1圖F1-1AzaliaF1-2 測試說明:現有測試架無法測出此種不良,須用另一種測試架,良品測試會亮四個燈,現只亮三個燈.如圖F1-2此燈未亮 圖F1-2F1-3維修方法:拆解後重新定位.F1-4注意事項:由於此結構pin1&pin2間距太小,作業時U型彈片未定到位,導致此不良產生: 定位不良材料 定位良品材料由於現有測試架無法將此不良檢出,所以導致不良流到客戶端,採取對策:第一站定位後目檢須檢此不良項目,如上圖所示;更換新的測試架,如圖F1-2.F1-5歷史事件: Gigabyte(7/1804)曾客訴此不良項目,見QCA04121-P21-110-0007.doc,自0431周後材料都已加測此不良項目.G1-1&G2-1 圖示說明: 產線所使用過的材料的狀態(如圖G1-1)及D/C切換紀錄:塑膠 ( P21-201 , P21-211 , P23-201 , P23-202 ) :H1 第一代 : 塑膠凸台較高 , 使用次料H2 第二代 : 塑膠凸台較低 , 使用全新料端子( SWITCH , P21-301 ) :C1 第一代 (B版) : 會產生 GAP 尺寸不良C2 第二代 (B1版) : 因強度太大使塑膠容易斷裂C3 第三代 (B2 or C版) : 最新端子成品 ( P21, P22, P23, P24 ) :P1 : H1 + C1 = SWITCH 接觸不良 ; 塑膠斷裂 ;(0424之前包括0424)P2 : H1 + C2 = 塑膠斷裂 ; 塑膠不易組裝;(0425-0426)AzaliaP3 : H2 + C2 = 塑膠斷裂改善 ;(0427)P4 : H2 + C3 = 改善完畢;(0428以後)圖G1-1 C1 C2 C3 不良分析P1之成品SWITCH 接觸不良:P1之成品對應C1之端子:1.彈片一端懸空,凸點高度不易控制,當端子彈片下陷太大時,plug插入HSG後, SWITCH不能接觸在一起,即OPEN;2.彈片只有一個支點, plug插入HSG,在端子彈片位移偏小時,即彈片下陷不大時,兩端子間的正向力偏小,導致接觸阻抗太大,在OPEN/SHORT測試時表現為第一次測試OK,再次測試NG,極不穩定,如圖G1-2.圖G1-2 P1之成品的製程:壓端子站用鑷子組裝端子時錯誤的操作導致鑷子擠壓到彈片,使其無法完全回彈到位,如圖G1-3&G1-4&G1-5,之後更改為機器定位作業, 如附圖G1-6&G1-7. Azalia鑷子組裝時擠壓彈片導致其變形正常狀況彈片變形 圖G1-3 圖G1-4圖G1-5 圖G1-6 圖G1-7 P2之成品塑膠彈片斷裂:P1之成品SWITCH 接觸不良後,R&D更改其設計將SWITCH從C1改為C2,來解決SWITCH接觸不良,C2端子兩端有支點,凸點高度穩定,且插入plug後,在同等位移下,是P1之成品正向力的3倍,基本上解決了接觸不良的問題,但因SWITCH彈片不易變形,所以plug插入HSG後SWITCH對塑膠彈片的干涉力急聚增大,且HSG有PBT次料製成,塑膠彈片韌性不夠,所以在插拔plug時易把塑膠彈片弄斷,如圖G1-8. 塑膠斷裂處圖G1-8Azalia P3之成品改善塑膠彈片斷裂: 為了改善塑膠彈片斷裂狀況, 將HSG採用PBT次料改為全新料,如圖G1-9& G1-10,增強其韌性,並降低其凸台,方便定位機作業,產線斷塑膠不良率由0.5%降至0.05%. 圖G1-9 圖G1-10 P4之成品最終改善塑膠彈片斷裂: P4之成品採用C3端子,端子變窄,易變形,plug插拔時,塑膠彈片受到的干涉力變小,塑膠採用PBT全新料,基本上改善了塑膠易斷的問題,針對此端子出現的易變形的問題,在IR測試項目中增加pin2&pin3.公差分析,如圖G1-11圖G1-11plug規格見附圖AzaliaG1-2&G2-2 測試說明: 如pin2&pin3 open,測試架會顯四個 LED都亮,如兩彈片接觸不好,即兩彈片間接觸阻抗過大,則會表現為兩個LED微亮,如圖G1-12四個 LED都亮. 圖G1-12G1-3&G2-3維修方法:拆解報廢G1-4&G2-4注意事項: 此材料在測試時,由於材料不良或plug插頭磨損和測試治具的問題,測到此不良時,有可能出現四個LED亮,轉動plug時有兩個LED灭的不穩定現象,須將此材料挑出.G1-5&G2-5歷史事件: ASUS(5/3004)客訴此項目,見QCA04078-FOR-P24.pdf Rolly(6/2404)客訴此項目,見QCA04099-FOR-P21-1L0-0007OPEN issue.doc ASUS(6/2804)客訴此項目,見QCA04101-FOR-P24-11A-0007.doc 友通(7/0604)客訴此項目,見QCA04107-P21series open issue.doc GIGABYTE(7/0704)客訴此項目,見QCA04108-FOR-P21-110-0007.doc 鑫茂(7/1604)客訴此項目,見QCA04116-P22-11A-0007-No sound.doc IR測試項目中增加pin2&pin3H&I&J不良狀況與AC97 中D&E&F一樣,請參考不良分析D&E&F2.IR不良分析:不良現象:代碼不良類型原因分析AAx,Bx,Cx to CoA1:端子預斷處殘留的鐵削,將Ax,Bx,Cx to Co短路.BAx,Bx,Cx,Co to shellB1:U型彈片未定到位或定變形導致與shell接觸.A1:不良狀況與AC97中B項一樣,請參考不良分析B.B1-1 圖示說明: 定位之良品材料 定位之不良材料 定位不良材料,端子裸露部分組裝鐵殼後會與鐵殼接觸,導致IR不良.B1-2 測試說明: 使用儀器為DU-332B1-3維修方法: 拆解後報廢.B1-4注意事項: 第一站定位後目檢須檢此不良項目.B1-5歷史事件:取消部分項目測試,Ax to Bx, Bx TO Cx,由於此兩項測試可在導通測試中測出,故爾省測.3.外觀不良分析不良現象:代碼不良類型原因分析A鐵殼黃斑及電鍍不良此不良針對黃銅鍍鎳鐵殼(P19-401&P24-401),由於電鍍問題,用助焊劑預焊時導致大面積黃斑,倉庫放置過久又會產生新黃斑.B青蛙腳預焊短客戶標準與廠內不一致.C青蛙腳沾有擦銀水產線在擦焊腳黃斑時,擦銀水沾到青蛙腳內側.說明 :無A1-1 圖示說明: 現已改為不鏽鋼鐵殼,基本上解決了此問題,之前鐵殼每一批都特採,且很難清洗,只是暫定了一個特採標準.A1-2維修方法: 拆解後鐵殼報廢.A1-3注意事項: 原材料上線前挑選使用.A1-4歷史事件: 曾試做過用膠帶粘住鐵殼,再進行預焊,預焊完後再撕膠布,擦去膠痕,此不良由之前的60%以上降到6%,後又將鐵殼改為不鏽鋼預焊,從0429開始切換,現已基本解決此問題.B1-1 圖示說明:客戶要求焊腳吃錫標準達到75%廠內之標準B1-2維修方法: 拆解後鐵殼後鐵殼報廢.B1-3注意事項: 原材料上線前挑選使用.B1-5歷史事件:GIGABYTE(3/1504)客訴此項目,見QCA04029-P21-110-0007.doc,已更改規格,從0