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文档简介

实验二:时域采样与频域采样一、 实验目的掌握模拟信号采样前后的频谱变化,以及如何选择采样频率才能使采样后信号不丢失信息;掌握频域采样会引起时域周期化概念,已经频域采样定理及其对频域采样点数选择的指导作用。二、 实验原理与方法时域采样定理:(1) 时域采样:对模拟信号Xa(t)以T进行时域等间隔理想采样,形成的采样信号频谱会以采样角频率s=2/T为周期进行周期延拓,且采用频率s要大于等于模拟信号最高频率两倍以上,才能使采样信号不会频谱失真。理想采样信号进行傅里叶变换后,有,在数值上,再将代入,得到:上式说明采样信号的傅里叶变换可用相应序列的傅里叶变换得到,只要将自变量用代替即可。(2) 频域采样:对信号的频谱函数在0,2上等间隔采样N点,得到 即N点得到的序列就是原序列以N为周期进行周期延拓后的主值序列,公式为: 频率域采样要使时域不发生混叠,则频域采样点数N必须大于等于时域离散信号的长度M(即)。在满足频率域采样定理的条件下,就是原序列。总之为“时域采样频谱周期性延拓,频域采样时域信号周期延拓”。三、 实验内容及实验结果1 时域采样定理的验证(1)给定模拟信号,式中,A=444.128,用DFT(FFT)求该模拟信号的幅频特性。(2)选用采样频率分别为,300Hz,200Hz,观测时间,为使用DFT,使用产生时域离散信号,得到序列x1(n),x2(n),x3(n)。长度(点数)用公式N=TpFs计算,选FFT的变换点数为M=64,X(k)=FFTx(n),k=0,1,2,3,M-1,k=2k/M(3)实验程序%时域采样 Tp=64/1000; Fs=1000;T=1/Fs; M=Tp*Fs;n=0:M-1;t=n*T; A=444.128;a=pi*50*20.5;m=pi*50*20.5; xat=A*exp(-a*t).*sin(m*t); Xk=T*fft(xat,M); subplot(3,2,1); stem(n,xat,.); xlabel(n);ylabel(x1(n); title(a-1)x1(n)采样序列); k=0:M-1;fk=k/Tp; subplot(3,2,2);plot(fk,abs(Xk);title(a-2)x1(n)幅频特性); xlabel(f/hz);ylabel(H1(jf);axis(0,Fs,0,1.2*max(abs(Xk); Fs=300;T=1/Fs; M=Tp*Fs;n=0:M-1;t=n*T; A=444.128;a=pi*50*20.5;m=pi*50*20.5; xat=A*exp(-a*t).*sin(m*t); Xk=T*fft(xat,M); subplot(3,2,3); stem(n,xat,.); xlabel(n);ylabel(x2(n); title(b-1)x2(n)采样序列); k=0:M-1;fk=k/Tp; subplot(3,2,4);plot(fk,abs(Xk);title(b-2)x2(n)幅频特性); xlabel(f/hz);ylabel(H2(jf);axis(0,Fs,0,1.2*max(abs(Xk); Fs=200;T=1/Fs; M=Tp*Fs;n=0:M-1;t=n*T; A=444.128;a=pi*50*20.5;m=pi*50*20.5; xat=A*exp(-a*t).*sin(m*t); Xk=T*fft(xat,M); subplot(3,2,5); stem(n,xat,.); xlabel(n);ylabel(x3(n); title(c-1)x3(n)采样序列); k=0:M-1;fk=k/Tp; subplot(3,2,6);plot(fk,abs(Xk);title(c-2)x3(n)幅频特性); xlabel(f/hz);ylabel(H3(jf);axis(0,Fs,0,1.2*max(abs(Xk)(4)实验结果2 频域采样定理的验证(1)给定信号:,对的频谱函数在0,2上分别等间隔采样16点和32点,得到和,再分别对和进行IDFT,得到和。(2)实验程序%频域采样 M=27;N=32;n=0:M; xa=0:(M/2); xb= ceil(M/2)-1:-1:0; xn=xa,xb; Xk=fft(xn,1024); %对x(n)进行1024点的fft,相当于它的ft X32k=fft(xn,32) ;%32点fft(x(n)x32n=ifft(X32k); %32点ifft(x32k)可得x32(n) X16k=fft(xn,16); x16n=ifft(X16k,16); k=0:1023;wk=2*k/1024; subplot(3,2,1);plot(wk,abs(Xk);title(a)x(n)幅频特性); xlabel(f/pi);ylabel(|X(e*exp(jw)|);axis(0,1,0,200) subplot(3,2,2);stem(n,xn,.); title(b)x(n)波形);xlabel(n);ylabel(x(n);axis(0,32,0,20) k=0:N/2-1; subplot(3,2,3);stem(k,abs(X16k),.);title(c)X16(k)幅频特性);xlabel(k);ylabel(|X_1_6(k)|);axis(0,8,0,200) n1=0:N/2-1;subplot(3,2,4);stem(n1,x16n,.); title(d)16点IIFFTX16(k) );xlabel(n);ylabel(x_1_6(n);axis(0,32,0,20);k=0:N-1; subplot(3,2,5);stem(k,abs(X32k),.); title(e)X32(k)幅频特性);xlabel(k);ylabel(|X_3_2(k)|);axis(0,16,0,200); n1=0:N-1;subplot(3,2,6);stem(n1,x32n,.);box ontitle(f) 32点IDFTX(32k);xlabel(n);ylabel(x_3_2(n);axis(0,32,0,20) (3) 实验结果四、 实验思考题1.如果序列x(n)的长度为M,希望得到其频谱Xe*exp(jw)在上的N点等间隔采样,当NM时, 如何用一次最少点数的DFT得到该频谱采样?答:先对原序列x(n)以N为周期进行周期延拓后取主值区序列,再计算N点DFT则

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