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文档简介
DR的基础知识韩爽 1 一 什么叫DR DR是Digitalradiography的简称 即 数字放射成像系统 DR利用FPD平板进行影像获取 取代了传统的X线胶片或CR的IP板并以数字方式存储在计算机系统中 DR在曝光后几秒钟可显示图像 和传统图像相比 无须暗盒 无需耗材 较IP板 具有成像快 图像质量高 易于保存 检索 传输 运行成本低等诸多优势 2 二 DR系统组成 A 成像链 X线源 X线机 平板探测器 FPD 各支架组合方式 摄影平床 胸片架 悬吊式 地轨式 B 数字链 计算机处理单元 前登记工作站 后处理工作站 显示终端 3 FPD平板探测器 flatpaneldetectr 平的仪器板检测 是一种采用半导体技术 将X线能量转换为电信号 通过A D模拟转换进行数字化转换 产生X线图像的检测器 4 三 DR的工作原理 1 首先X线穿透人体照射平板材料2 按调整信号方式分两种直接转换式 非晶硒转换层将X线信号直接转换为电信号间接转换式 X线激发荧光体产生可见光信号 再由TFT光电二极管转换为电信号3 然后通过A D模拟转换单元实现数字化转换4 最后将数字信号以DICOM3 0标准传输至用户终端最终实现分析 处理 诊断 存储等功能 5 四 DR的分类 按探测器材料分类 常见1 非晶硒2 非晶硅3 CCD很少并淘汰4 CMOS5 线扫描 6 四 DR的分类的英文意思 DDR DirectDigitalRadiography 直接的数字显示的放射照相学 非晶硒 a se 层薄膜半导体阵列 ThinFilmTransistorArray简称TFT阵列 细小的电影胶片晶体管队伍 2 IDR IndirectDigitalRadiography 间接的数字显示的放射照相学 非晶硅 a si 3 CCD ChargeCouplingDevice 电荷联结器仪器 电荷耦合器 4 C MOS ComplementaryMetalOxideSemiconductor 互补的金属氧化物半导体 7 五 各类DR的成像原理 1 非晶硒成像原理硒作为一种光电导体 可由X射线引起电荷改变 产生电信号 再由薄膜晶体管阵列 TFT 将电信号读出并数字化 非晶硒层 TFT层 薄膜半导体阵列 ThinFilmTransistorArray简称TFT阵列 8 五 各类DR的成像原理 2 非晶硅成像原理X线先经荧光介质材料转换成可见光 再由光敏元件将可见光信号转换成电信号 最后将模拟电信号经A D转换成数字信号 荧光介质 非晶硅层 TFT层 9 五 各类DR的成像原理 3 CCD成像原理X射线图象被荧光屏转换为可见光 由光学系统传至直接与CCD连接的半导体阵列上检测并重建图象 CCD半导体阵列 光学系统 荧光介质 10 六 DR的成像过程 1 间接成像过程 IDR X 线信息闪烁体可见光信息光电二极管薄膜晶体管电信息A D转换数字信息计算机 2 直接成像过程 DDR X 线信息非晶硒电信息A D转换数字信息 计算机 11 特别关注 无论哪种类型的DR 其 直接 和 间接 是相对的 所谓 直接 如a se 也仅仅是因其本身是一种电导材料 而减少了一个光转换环节而已 最终都要通过TFT检测阵列 再经A D转换 处理才能获得数字图像 从严格意义上讲 DR只有转换方式不同之分 而无 直接 和 间接 之分 12 七 检测平板探测器性能的主要参数 一 量子检测效能DQE 二 动态范围 三 调制传递函数MTF 四 低X线对比小物体的可见度 对X线敏感度低的物体的检测能力 13 八 平板探测器的主要特点 1 工作流程的减化减少了信号丢失和噪声的增加 2 TFT像素极小确保了DR系统的信噪比高 3 图像灰阶范围大 使得所示图像细节更清晰 层次更丰富 4 放射剂量少 曝光宽容度大 曝光条件易掌握 提高了检查效率 也减少了一般损耗 14 八 平板探测器的主要特点 5 可以根据临床需要进行各种图像后处理 6 图像可直接以符合国际标准的数字化格式储存 传输 7 可即时成像 减短检查时间 减少重复检查 提高工作效率 15 九 平板探测器的拼接方式 目前平板探测器有拼接式和单片式两种 主要原因是生产大面积矩阵块工艺难度大 拼接板的缺点是 在拼接处像素之间的接缝 拼接处像素的对齐 结合面之间的应力等均为造成图像质量的不稳定因素 16 十 CR与DR的区别 一 成像原理CR是一种X线间接转换技术 利用IP板作为X光检测器 DR是一种X线直接转换技术 利用硒层或碘化铯 光电二极管直接把X线光子转换成模拟电压供数字化 所有过程全部在平板探测器内完成 17 十 CR与DR的区别 二 图像质量图像分辨率CR1 IP中的成像介质存在散射 引起潜影模糊 2 激光扫描仪的激发光束光点的直径与激光光线在IP荧光体内的散布 均使图像锐利度下降 降低了图像的分辨率 3 时间分辨率差 密度分辨率有时略显不足 DR1 转换过程中无附加设备 不存在光学模糊 2 空间分辨率及密度分辨力直接由转换介质和像素排中像素大小决定 18 十 CR与DR的区别 调制传递函数MTF参考平板探测器性能 曝光宽容度CR与DR均有很宽的曝光宽容度 DR可达20000 1 噪声 所有影响图象质量的因素 CRIP的结构噪声 转换和检测X线光子中引入的波动 激光功率漂移 激光束位置的漂移 激光束激发IP发出光的几率的波动以及电子链中噪声等 DR主要噪声源是结构噪声 电子链中噪声 以及把X线转换为电荷的几率波动引起的噪声 19 十 CR与DR的区别 三 曝光剂量CR常规剂量的1 4 DR常规剂量的1 7 1 20 四 工作效率CR与常规X线省略相比省略暗室操作环节 DR曝光 预览 存储 传输仅几秒钟 20 十 CR与DR的区别 五 工作环境CR工作环境要求略高 DR相比来说略低 六 日常耗材CR达一定曝光次数后必须更换IP板 D
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