GBT 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法_第1页
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16864一1997前健r1本标准根据 1. 1标准化工作导则，表述了在低温下测试晶体的透射率的试验方法。本方法的特点是在低温下采用分光光度计测透过率的方法，获得晶体在30020 长为紫外至近红外范围内的透射率。本标准由中国科学院提出。本标准由中国科学院物理研究所归口。本标准起草单位：中国科学院物理研究所。本标准主要起草人：周棠、张道范、杨华光。中华人民共和国国家标准低温下晶体透射率的试验方法 16864一1997of 00 ),波长在紫外一近红外的晶体透射率的试验方法。本标准适用于晶体透射率的测试。束的能量一部分被反射，一部分被吸收，另一部分透射过去，在略去晶体对光散射时，有式（1)和式（2）关系： I,介，曲（1）（2） ，月占 一T 十 A 十 R 一寿式 十几一几 十几10式中：几入射光强度，W/m;射光强度，W/A吸收光强度，W/T透射光强度，W /m；R反射率；A吸收率；T透射率。假设KZ+n,dA。条件下，有式（3)关系：(）式中；K晶体的消光系数；凡真空中光的波长，nm;d晶体样品的厚度，cm;n晶体的折射率；a晶体的吸收系数，以推算出晶体的吸收系数。当zd+ 1时，式（(3）简化为：7(1一尺) ，（4）(n1)2。oo（5）透射率是波长的函数，通常测量透射率随波长变化的关系曲线。国家技术监份局1997一06一16批准1997一12一01实施 16864一1997对于光学上各向异性晶体，其此，根据实际需要和晶体的对称性，决定被测样品的取向和个数，采用单色线偏振光入射，其偏振方向平行或垂直于位于晶体表面上的折射率主轴方向。据需要加偏光镜，使入射光为线偏振光。温精度为士。过控温仪可使被测晶体样品恒温在某一温度或以一定速率升、降温。品的厚度根据其品面积尺寸不小于仪器的通光孔径。同时要考虑低温恒温器的制冷能力。小于少量低温胶将样品紧紧固定在专门设计的低温恒温器的样品架通光孔上。仪器各项参数达到要求。温器的通光窗口与样品表面成一小角度，约20,测量分为两次，先不放样品，扫一条基线；再放入样品，使光线垂直通过样品。始降温。温度控制器使温度恒定在某一值，恒温约30 后操作分光光度计，测量所需波长范围的晶体的透射率。6可固定某一波长，测透射率随温度的变化。线的横坐标为波长A，纵坐标为透射率T,射
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