几何公差的分类ppt课件

2-3-1几何公差的分类、几何公差、形状公差、位置公差、位置公差、位置公差、直线度)、(平面度)、(圆度度)、(圆柱度)、(直线轮廓度)、() (几何公差)、(面轮廓)、偏移公差、(位置公差)、(位置公差)、(位置公差)、(位置公差)、面轮廓、执行估算培训-几何公差篇、1，2-3-2.1的显示用法说明、计划设置基准时，应尽量将标准基准(如大理石平台、刀边等)和物理基准主体之间的间距设置为最小。实际上，基准形体是在自己稳定的情况下与实际基准接触(图a)，或调整基准形体，在稳定的条件下与实际基准接触图b。规划，轮廓，形位公差文章，单一基准，教育实施-形位公差文章，3，2。相对于轴线的预设圆柱轴线，您可以使用v形、l形和l形框架设定此轴线。请参阅下方影像，*基准形式的造型不同会影响v形图块和v形框架的角度，还会影响测量值。发现计划，几何公差文章，实施承认教育-几何公差文章，4，3。多基准基准由两个或多个基准形体组成时，其优先级变得重要。如果基准由两个以上的基本体组成，则基于第一基本体a，第二基本体b必须取两点(面基准)参考图a，第二基本体b必须取两点(线基准)参考图b，第三基本体c必须取一点(点基准)参考图c来支持。协议计划，几何公差文章，*重测基准1，2，执行承认教育-几何公差文章，5，a 3360第一基准B:第二基准C:第三基准，A:第一基准C:第二基准B:第三基准，图图14是图的示例。6，A基准平面是第一个基准的三点，b基准轴是第二个基准的中心点的一点，5，7，2-3-3.1真度计划，说明，形位公差文章，教育实施-几何公差篇，8，一个方向，两个相互垂直的方向，a，a，b，在任何方向上，公差带均放置直径为公差值的圆柱面内的面积，0.1，几何公差侧，进行认证训练-几何公差侧，圆柱内的任意方向，9，标识计划，测量板，以使上部母线与平台平行，并记录沿母线总长度的测量值。直线度对于需要根据总线头读取的最大值的多条总线，测量几何公差篇、通过拨号指示器测量、教育实施确认-几何公差篇、10、轴的真度、1轴线的真度(直径为0.05的缺勤管内，轴线的偏差必须在该范围内)、大理石板、专用仪表、13、多个轴的振幅与多个轴相关要求时，测量两个轴的实际直径，然后在相应的2轴下计算出的测量块、大理石平台、14、外部曲面(或总线的位置)必须表示为真线教育实施-几何公差篇，t，17，决策计划，公差区域是两个平面之间的面积，0.1，a，b，a，b，几何公差篇在所需的多个位置测量两个面之间的间隙距离。平整度是测量值的最大差异。测量将在尽可能高的3点支持。)，平面，几何公差文章，教育实施-几何公差文章，19，平面度1，整个平面为测量对象，整个零件表面的平面度为0.2，刀模板英尺，20，平面度2，词根表面的平面度为50，如果具有特定区域范围维持理想平面，计划，特征控制框侧，教育实作-几何控制框侧，t，24，0.2，a 圆形横断面上每个点的位置LX，LY是从次座标测量的。测量圆周所需多点的数据圆度用最小二乘中心法计算。反复测量所需的多个横截面。(使用内部、外部两个表面。使用装有计算机的坐标测量机或测量显微镜。)，用坐标测量进行圆度检查，公差带比较两个同心圆之间的面积、计划、几何公差篇、教育实施-几何公差篇、26、测量的轮廓和同心圆，其中半径差为公差值t。圆度从同心圆的半径中求。(使用此方法测量的大小受轮廓投影仪大小的限制。使用轮廓投影仪、光截止截面投影仪(光横移机)等。)，轮廓投影法的圆度检查，公差带设置在两个同心圆之间的面积，计划，几何公差侧，教育实施-几何公差侧，27，测量仪。使主体的轴心线与测量方向垂直，以固定轴方向。为了计算，记录1旋转圆，指示器读取的值。反复测量所需的几个截面。圆度考虑了夹角和横截面的齿数，通过读取指示器得到。(此测量是为了测量奇数锯齿错误。偶数齿形误差是用两点法测量=90和120或72和108的最常见角度，在这种方法中，无论使用旋转测量仪还是测量仪。适用于内部和外部)，通过两点和三点测量检查圆度。公差区域在等量截面上半径差为公差值t的两个同心圆之间的区域、识别计划、几何公差侧、认证教育实施-几何公差侧、28、测量仪中设置。将测量线的轴心线放置在与平台平行的旋转中心正上方的位置。旋转一圈后测量直径的变化反复测量需要的几个横截面。圆度是所读最大差异的一半。(此测量仅对偶数齿形偏差有效，奇数齿形偏差必须使用三点法测量。适用于内外两面，这种测量与旋转测量仪或旋转测量仪无关。通过两点和三点测量检查圆度。公差带是两个同心环之间的面积，相同截面半径差为公差值t，计划，几何公差侧，教育实施-几何公差侧，29，2-3-3.4圆柱度，几何公差与零件圆柱形轮廓上的每个点，轴保持等角，计划，几何公差侧，教育实施-几何公差圆柱度使用线图和计算机，或计算机进行评价。结果最小范围圆柱体的半径差。(这个方法，如果没有高级装置，会大大缩短时间。使用装有录音机和计算机的三维元素。)，公差带是半径差为公差值t的两个同轴圆柱面之间的面积，计划，几何公差篇，教育实施-几何公差篇，32，计划，几何公差篇，教育实施-几何公差篇，33，计划决策，几何公差篇，教育实施-几何公差篇，教育实施。 公差区域是环绕一系列直径为t的圆(根据指定方向和测量指定轮廓模板)的两个包络线之间的区域(注：当测量的轮廓具有位置要求时，理想轮廓确定基准理想位置的几何公差侧，教育实施-几何公差侧，36，轮廓模板对照指定光源确定主体和轮廓模板之间的间距)。 如果未观察到射线，则与模板相比，贡品的轮廓小于0.003mm(如果偏差较大，则模板的两端与测量距离相等，并以多种规格格式测量间距)。)，通过与精确形状元素的比较检查直线的轮廓，公差区域是环绕直径为公差值t的一系列圆的两个包络线之间的区域，每个圆的中心必须位于理想轮廓中(注：如果正在测量的轮廓线对相对基准有位置要求，则理想轮廓线是相对于基准的理想位置的理想轮廓、计划、几何公差侧、培训实施-几何公差侧，37将实测物体的轮廓形状与轮廓模板进行比较。使用上下形状的两个基准模板提高测量精度。仅使用一个模板，偏差量无法明确测量。，通过与精确形状元素的比较检查直线的轮廓，公差区域是环绕直径为公差值t的一系列圆的两条包络线之间的区域，每个圆必须位于理想轮廓中(注：当测量的轮廓具有基准的位置要求时，理想轮廓表示基于基准的理想位置的理想轮廓，计划，形位公差篇，教育实施-几何公差篇，38，将测量设置在正确的位置平面上确定轮廓所需点处的二次坐标。记录将记录值与边界轮廓进行比较的测量值。测量时使用坐标测量机，但要考虑头部形状(大小和形状)来检查轮廓程度，并且通过坐标测量(环绕直径为公差值t的一系列圆的两个包络线之间的区域)，该圆环必须位于理想轮廓上(注：如果测量的轮廓线对相对基准有位置要求，则该理想轮廓表示基准的理想位置，计划、形位公差文章、执行估算培训) 姿势公差表示零件相对于基准测试的实际元素保持相同距离的情况：确认计划、基准、基准、平行和基准、几何公差侧、执行估算训练-几何公差侧、t、40、a、0.2a、a给定两个互垂的方向时，正截面尺寸为公差值t1t2 T2， 培训实施-确定测量的位置，以使测量在几何公差侧、直线和直线之间(任意方向)、基准A，42、平行度(通过距离测量)、基准轴线和形状的轴大于图形中显示的两个方向。 和从位置测量轴。平行度Pd使用以下公式选取PD=(m1-m2) L1/L2(轴和孔之间没有间隙，使用延伸轴，或选取可与孔匹配的轴):如果上方向轴相对于孔不稳定，则调整较小的测量平行度。)，公差带是在指定方向流动时公差值t和平行于基准平面(或直线、轴)的两个平行平面之间的区域。当两个方向互垂时，正截面尺寸为公差值t1t2，平行于基准轴的四棱柱内的区域设置两个互垂方向、计划、与几何公差偏转一致的测量杆、实施教育-与几何公差偏转一致、43、基准轴线和测量形体轴、大于测量目标长度的测量杆、由塞规取代的下一个轴到测量位置。在轴的测量位置测量M1，M2。测量0到180之间所需数量的角度位置。平行度Pd可以使用以下公式选取PD=(m1-m2) L1/L2(轴与孔之间的更好匹配)延伸轴或与孔紧密结合的轴：如果上方向轴不稳定，则测量的平行独立必须进行较小的调整。)测量可以限制为测量两个直角方向。但是，两个方向上每个测量值偏差的二次平方根之和的结果值必须小于显示的公差值。通过测量距离检查并行度。公差区域由直径为公差值t、与基准轴平行的圆柱面内的面积、计划、与几何公差偏侧一致的测量杆、教育实施-几何公差偏侧、44、基准轴直线和大于测量目标长度的测量条替换为轴心线。调整数量，使带有公差的平面与平台平行。测量整个平面。平行度是指示器读数的最大差异。若要使轴与孔配合得更好，请使用延伸轴