实验教学课件李.ppt

实验1卵裂和多色观察，实验的目的和要求：1 .掌握偏光显微镜的结构和构造。学习如何使用和维护它。了解解理等级，了解同一晶体不同方向解理接头的不同特征。学习如何测量乳沟角度。4.理解多色现象及其明显程度。了解同一个晶体在不同方向上多色性的不同特征。5.学会使用黑云母来确定偏振镜的振动方向。实验内容：1。了解偏光显微镜的结构和构造。学习偏光显微镜的使用和维护方法。观察并描述黑云母的极性完全解理特征及其极其明显的多色现象。用黑云母测量下偏振片的振动方向。4.观察角闪石的解理特征，确定其解理角度。5.观察角闪石和黑云母的多色特性。实验原理和程序，1。调节照明(瞄准)(1)安装低或中放大率物镜，打开锁定光圈，轻轻推出上偏光镜、博纳镜和聚光器(2)，直到观察区域最亮。2。调整焦距(准焦距)(1)将一张薄片放在台上(注意盖玻片必须朝上)，并用弹簧夹住。(2)从侧面观察物镜，转动粗螺钉，将镜筒降低到物镜的最低位置(注意不要挤压薄透镜)。(3)从目镜观察，同时转动粗螺钉，以升高和降低载物台。当目标图像刚刚出现在视野中时，使用微型螺钉使目标图像清晰。(4)切换到高倍率物镜，用同样的方法调整焦距。当调整焦距时，不要看目镜降低镜筒，因为它很容易压碎薄片和损坏物镜。调整高倍率物镜时应特别注意。因为高倍率物镜的焦虑非常短暂，所以透镜几乎与薄片接触。如果薄片盖玻璃面朝下，不仅焦点不能精确聚焦，而且薄片经常被压碎并切割透镜。3。MIE系统的使用，1)在电脑桌面上打开MIE系统，2)观察系统的窗口设置和项目类别，3)用鼠标点击每个项目打开，确认每个窗口的功能，并按照说明操作，4)分析操作各种设置对系统测量结果的影响。 4)解理和确定解理的存在和特征取决于两个方面：一是晶体的晶体学特征，二是晶体截面的方向和晶体与光阑介质的折射率之差。 确定步骤：1)切割角度的确定(1)正确截面的选择：1)同时选择两组切割截面。判断：两组乳沟最薄、最清晰；(2)当解理缝平行于目镜十字准线纵向线时，载物台升起，解理缝不左右移动(两组解理都应检查)。(2)测定方法1选择切片中有两组解理的晶体颗粒，将准焦点移至视野中心；2转动载物台，使一组晶体解理平行于一根十字线，并记录载物台的刻度盘读数；3旋转载物台，使晶体的另一个解理平行于同一十字丝，并记录载物台的刻度盘读数；4两个读数之间的差异是两组之间的解理夹角。当解理角用于鉴定晶体时，必须在两组解理颗粒上进行，其切面垂直于晶体，否则测得的解理角不是晶体的真实解理角。MIE法测定解理角，1。选择符合要求的部分(见上文)。2.在MIE系统中启动测量系统。3.选择角度按钮，在两组切割线上操作鼠标，根据规定确定切割线。解理角度数据将自动显示在待确定的晶体解理区域。4.在不同区域重复操作，获得一系列解理角度数据。5.多色性和吸收率在单偏振器下，晶体的颜色(3)切片越厚，多色性越明显。多色性的测定1选择具有明显多色性的角闪石或黑云母晶体切片，旋转载物台观察晶体颜色的变化2在观察过程中做好记录，显示晶体不同方向的颜色，并指示上层偏振的位置。3)偏振振动方向的确定用黑云母确定低偏振振动方向：黑云母的晶体学特征证明发育良好的部分有解理，解理裂纹向Ng或Nm方向延伸，折射率较大，吸收最强，颜色最深；在旋转载物台的过程中，只有当解理裂纹方向平行于较低偏振的振动方向时，通过较低偏振观察到的晶体的ng或Nm颜色才能表示为此时最深的晶体颜色，从而可以确定较低偏振的振动方向。3)测定低偏振光的振动方向1)选择解理发育良好的黑云母切片，检查切片情况2)转动动物台观察晶体颜色的变化3)找出颜色最深的方向并标记。实验二：观察和应用粗糙表面、突起和贝克线。实验目的：了解晶体的突起和粗糙表面特征，观察方解石的闪光突起现象，学会用贝克线判断相邻晶体折射率的相对大小和突起的正负。实验内容：1。观察应时、长石、云母、角闪石的特征和等级，如边缘轮廓、粗糙表面、突起等。2.观察方解石3的闪光现象。利用贝克线运动定律确定应时与长石、黑云母和角闪石的相对折射率；为了确定黑云母突起的正负，实验原理是晶体突起是由晶体和介质之间折射率的差异引起的，并且差异越大，突起越高。突起的正负分割取决于晶体的折射率比介质的折射率高(正)或低(负)。贝克线源于光线穿过晶体边缘时产生的折射。因此，在两个相邻晶体或介质之间的接触边界处，贝克线总是出现在折射率相对较高的介质一侧。此时，如果焦距缩短，贝克线会移动到折射率相对较低的介质上，反之亦然。由于晶体部分和介质或环境中的晶体在不同方向上的折射率有很大差异，所以会出现闪光突起。实验步骤，(1)观察粗糙表面和突起从薄片中选择应时、长石、黑云母和角闪石等晶体，比较观察并记录和描述单个偏光片下突起的特征，以确定突起的等级和正负(如有必要，找到晶体与水泥之间的接触边界进行测定)，(2)贝克线的观察和移动规则选择晶体晶体，当观察光变暗时，贝克线明显且易于观察；这时，如果你稍微调整焦距，你就可以找到贝克线的运动规律。(3)闪光突起的观察选择一块含方解石晶体的矿石，放在载物台上，调整显微镜，转动动物台，观察方解石上的闪光突起(即方解石突起在不同位置变化明显)。实验步骤，实验三中干涉色的观察和光学指标半轴名称的确定。实验目的：了解交叉偏光片下的消光和干涉现象，观察和比较不同层次的干涉颜色特征，学会运用补色原理判断晶体切面上釉体半轴的名称。实验内容、原理和步骤，检查上下偏振镜的振动方向是否垂直装有中或低倍率物镜，调整照度以将最亮的观察区域推入上偏振镜，并观察观察观察区域有多暗。如果不够暗，这意味着上下偏振器的振动方向不正交。转动上下偏光镜，直到观察区域最暗。检查目镜的十字丝是否与上下偏振镜的振动方向一致。因为下偏振器的振动方向平行于东西交叉线，并且上偏振器和下偏振器的振动方向正交，所以南北交叉线应该平行于上偏振器的振动方向。否则，交叉线不是正交的，应该修理。在薄片中找到一个有清晰解理的黑云母。将旋转物台设置在观察区域的中心，使解理裂纹平行于南北交叉丝(黑云母解理裂纹平行于东西交叉丝时吸收最强，不易观察)。这时，最亮的B被推入上偏振器。如果黑云母变得最暗，这意味着上偏振器和下偏振器的振动方向已经被推入正交的上偏振器。如果黑云母没有达到最暗，这意味着交叉线不平行于上偏振器和下偏振器的振动方向。此时，应旋转载物台，使黑云母最暗。然后转动目镜使十字准线平行于黑云母解理，观察消光和干涉现象，观察异质晶体任何方向切片(垂直光轴除外)的四消光和四亮度现象。任何方向的异质晶体切片都放置在观察区域的中心，载物台旋转360度，四倍黑暗，四倍明亮。但是每次黑暗不是突然变暗，而是从亮到灭逐渐变暗，这就是灭的位置。当消光等级移至45度时，可以看到最亮、最亮、最亮的干涉色，消光等级的准确确定，以及消光过程中异质晶体任何方向切片的位置即为消光等级。此时，没有光穿过上偏振器，视线变暗。如何准确判断是否达到了灭绝的程度是非常重要的。方法如下：A .将晶体切片放在视场的中心。旋转桌子使其变暗，即达到最暗的位置。c .插入石膏板，如果矿石块显示石膏1级红色干涉色，也就是说，达到消光位置，否则，必须稍微转动载物台，直到矿石块为1级红色。(1)分别观察云母试板(r=1/4)和石膏试板(r=1)的干涉色。(2)观察石英楔的干涉色序。安装交叉偏振器。从测试板孔(从薄到厚)慢慢插入石英楔，从镜子上可以看到一至三级干涉色连续出现在视野中。其顺序与干涉色谱的顺序相同，有些甚至可以看到四种干涉色。观察时注意多层次干涉色的特点。(3)观察方解石的高级白色干涉色。高级白色干涉色通常是灰白色和珍珠色的混合色，但是应该执行以下操作来确定高级白色干涉色。将白云石放在视图的中心，然后推入上偏光镜。旋转载物台，使其熄灭，然后将载物台旋转45度，观察干涉色特性。插入云母板或石膏板，干涉色无明显变化，此为高级白色，否则为高级白色。(1)视觉法和色环法可以根据各层次的特点，通过多次观察比较和积累经验，直接观察和判断干涉色的顺序。对于干涉色超过一个级别的矿石块，通常可以在边缘看到干涉色圆的细圆。如果红圈的圈数增加1，则得到矿石块的干涉色序。用目视法判断应时和白云石的最高干涉色；用色环法判断橄榄石的最高干涉色。(2)用测试板判断干涉色级顺序，(1)用石膏板和云母板判断，步骤如下：a、将切片转到消光位置。b从45度到b6、判断干扰色的升降顺序，干扰色的升降，是以色谱表的顺序为标准确定的，干扰色对色谱表的右移增加，左移减少。(1)用石膏板判断干涉色的升降。石膏板R=575毫米，呈现一阶红色干涉色，通常用来判断一阶干涉色的升降。它上升和下降一个等级。将应时切片放在观察区域的中心，旋转物体表使其消失，然后旋转45度以形成一级灰色干涉色。b .插入石膏板，观察干涉色的变化(注意此时判断干涉色的升降以石膏板的干涉色为准)。如果原色红变为次蓝，干涉色将增加。如果它从原色红变为原色灰或原色黄(晶体增加)，干涉色会减少。(2)用云母板判断透辉石干涉色的升降。云母板r=147 nm，显示出一种灰度级的干涉色，使用它可以使干涉色按一种颜色顺序上升和下降，其使用方法与石膏板相同，通常用来判断干涉色上升和下降的级别。(3)利用石英楔判断透辉石干涉色的升降，将干涉色较高的透辉石切片(带干涉色圈)放在视野中心。旋转载物台使其变暗，然后旋转45度观察干涉色。将石英楔慢慢插入测试板孔，观察干涉色的连续变化。c根据色谱表顺序确定干扰色的升降。d一般应根据干涉色环的运动来判断。当插入石英楔时，色环的向外移动增加，向内移动减少。7光学指标轴名称的确定，根据补色规则确定晶体截面上的玻璃体积半轴名称，操作方法和步骤见上文相关部分，实验5，消光类型、伸长符号和等分线的观察，实验的目的和要求：了解不同类型晶体的消光类型和消光特性，学习确定消光角2。观察圆柱晶体的延展性特征，理解延展性符号3的确定方法。观察交叉偏振器下二等分线的特性和性能，了解几种常见的晶体双晶类型，实验原理：消光：指在正交偏振显微镜下，当晶体截面上发光体的长半轴和短半轴沿上下偏振振动的平行方向分布时，晶体的暗现象。根据晶体消光时晶体特性与偏振振动特性的关系，可分为三种类型：平行消光、对称消光和倾斜消光(特性见教材)。测量斜消光晶体截面上的消光角(光学指标主轴与晶轴之间的夹角)具有区分晶体类型的功能。具体来说，如何确定每种晶体应根据光性晶体学中满足要求的部分的规定来确定。延展性是指晶体延伸方向与横截面显微镜下抛光体主轴之间的夹角。规定延伸方向和Ng之间的夹角小于45度为正延性，否则为负延性。双压电晶片：双压电晶片的存在和类型可以通过观察晶体聚集体的消光现象来确定，因为在正交偏振显微镜下，由晶体个体按一定规则组合而成的双压电晶片会表现出不同的消光现象。实验内容：1观察角闪石、黑云母、应时石和长石在不同方向的消光类型和消光特性。2黑云母或斜长石或角闪石伸长符号的测量。3.观察长石晶体的简单双晶、多片晶和晶格双晶的特征。实验步骤：1扩展符号的确定：a将待测的水晶片放在观察区域的中心，转动动物台使其灭绝。B1写出消光角(注意消光角必须有三个元素，一个是晶体的晶向，如晶轴、双晶面、解理裂纹等。第二个是光学指标轴的名称；第三是两者之间的角度)。实验6:锥形光学显微镜下干涉图的特征和应用。实验的目的和要求：1。观察并理解干涉图的特征。2.学会使用干涉图来测量晶体的光学符号，并确定晶体切片的类型。实验内容和步骤：1。单轴晶体干涉图和光学测量(1)在锥形光显微镜下观察的操作程序：A .使用中或低功率物镜在切片中找到要研究的晶体切片，移动到视图的中心(如果是单晶定向切片，可以省略该步骤)。将冷凝器提升至最高位置。切换到一个高倍率的物镜，并注意聚焦(注意：特别注意不要挤压或切割镜头！).仔细校准中心。推入上偏光镜和博纳镜，查看干涉图案。请注意，在锥镜下观察时，视场中只能有一个粒子。由于粒子的相互影响，要研究的干涉图案是混乱的。此时，镜筒中的光锁可以减少(一些偏振器没有这种装置)。如果中心没有正确校准，待研究的晶体颗粒也可以转移到视野之外，这不能达到研究的目的。因此，应仔细校准中心。2.使用应时或方解石的垂直(倾斜)光轴干涉图来测量正负光学特性。2、双轴晶体干涉图和光度测定观察白云母垂直急性等分干涉图的特征并测定其光度正负。实验原理：利用单轴晶体的垂直光轴截面确定光学符号的依据是：互补色法则及其波向图(详见教科书)。利用双轴晶体的垂直BXa截面确定光学符号是基于干涉图为45度时BXO在光轴平面方向上的投影，因此可以用补