RA实验项目中英文对照表_第1页
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Reliability Test Item 英文缩写 英文中文备注说明 Environmental test THBSTemperature Humidity Bias Storage恒温恒湿储存(高温高湿存储) 产品的各个部材的物理、温湿度环境特性验证 THBOTemperature Humidity Bias Operation恒温恒湿工作(高温高湿工作) HTOHigh Temperature Operation高温工作 HTSHigh Temperature Storage高温存储 LTOLow Temperature Operation低温工作 LTSLow Temperature Storage低温存储 TSTThermal shock Test冷热冲击 PCTPressure Cook Test高压蒸煮试验 TCTTemperature Cycling Test高低温循环试验 Mechanical Test Vibration Vibration振动 单体振动：验证产品机构设计（通常整机产品测试较多） 包装振动：主要针对整箱产品进行包装振动测试，模拟产品运输过程的颠簸，验证对象：包材、机构设计 DropDrop跌落 单体跌落：验证产品机构设计（通常整机产品测试较多） 包装跌落：模拟搬运过程中掉落，验证包材、机构设计；一般跌落测试一角、三棱、六面 ShockShock机械冲击验证产品机构设计 3PB3 Point Bending3点弯曲试验 主要验证面板强度、切割工艺 4PB4 Point Bending4点弯曲试验 Life Test MTBFMean Time Between Failures平均故障间隔时间 加速寿命试验是指采用加大应力的方法促使样品在短期内失效,以预测在正常工作条件或储存条件下的可靠性 MTTFMean Time To Failures平均无故障时间 CLTCyclic Life Test循环寿命测试 ALTAccelerated Life Test加速寿命试验 HASSHighly Accelerated Stress Screening高加速应力筛选 Others I/SImage Sticking影像残留 在同一画面下，液晶由于长时间的驱动被极化，造成液晶偏转不受信号电压控制，使屏幕上一段时间内显示同 一画面，随时间推移会减弱，最终消失。 影响因素：液晶、PI液、前段制程、驱动程序、电压等 C/B Cold bubble Test低温气泡测试低温、高温或者常温下，液晶面板受到外力冲击，形成液晶气泡。 影响因素：液晶量、盒厚、PS密度、PS柱高、CF等LC bubble Liquid Crystal液晶气泡 ESDElectro-Static Discharge静电放电主要模拟人体、机械等带电体放电，主要验证产品的抗静电能力。 ORTongoing
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