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-,1,IC常用术语,园片:硅片芯片(Chip,Die):6、8:硅(园)片直径:125.4mm6150mm;8200mm;12300mm;亚微米1m的设计规范深亚微米=0.5m的设计规范0.5m、0.35m设计规范(最小特征尺寸)布线层数:金属(掺杂多晶硅)连线的层数。集成度:每个芯片上集成的晶体管数,-,2,IC工艺常用术语,净化级别:Class1,Class10,Class10,000每立方米空气中含灰尘的个数去离子水氧化扩散注入光刻.,-,3,集成电路(IntegratedCircuit,IC):半导体IC,膜IC,混合IC半导体IC:指用半导体工艺把电路中的有源器件、无源元件及互联布线等以相互不可分离的状态制作在半导体上,最后封装在一个管壳内,构成一个完整的、具有特定功能的电路。,半导体IC,双极IC,MOSIC,BiCMOS,PMOSIC,CMOSIC,NMOSIC,-,4,MOSIC及工艺,MOSFETMetalOxideSemiconductorFieldEffectTransistor.金属氧化物半导体场效应晶体管,Si,金属,氧化物(绝缘层、SiO2),半导体,MOS(MIS)结构,-,5,栅氧化层厚度:50埃1000埃(5nm100nm)VT阈值电压电压控制,N沟MOS(NMOS),P型衬底,受主杂质;栅上加正电压,表面吸引电子,反型,电子通道;漏加正电压,电子从源区经N沟道到达漏区,器件开通。,-,6,N衬底,p+,p+,漏,源,栅,栅氧化层,场氧化层,沟道,P沟MOS(PMOS),VT,VGS,ID,+,-,VDS0,N型衬底,施主杂质,电子导电;栅上加负电压,表面吸引空穴,反型,空穴通道;漏加负电压,空穴从源区经P沟道到达漏区,器件开通。,-,7,CMOS,CMOS:ComplementarySymmetryMetalOxideSemiconductor互补对称金属氧化物半导体特点:低功耗,VSS,VDD,Vo,Vi,CMOS倒相器,PMOS,NMOS,I/O,I/O,VDD,VSS,C,C,CMOS传输门,-,8,N-Si,P+,P+,n+,n+,P-阱,D,D,Vo,VG,VSS,S,S,VDD,CMOS倒相器截面图,CMOS倒相器版图,-,9,ANMOSExample,-,10,pwell,PwellActivePolyN+implantP+implantOmicontactMetal,-,11,NtypeSi,SiO2,光刻胶,MASKPwell,-,12,NtypeSi,SiO2,光刻胶,光刻胶,MASKPwell,-,13,NtypeSi,SiO2,光刻胶,光刻胶,SiO2,-,14,NtypeSi,SiO2,SiO2,Pwell,-,15,pwell,PwellActivePolyN+implantP+implantOmicontactMetal,-,16,NtypeSi,SiO2,Pwell,SiO2,光刻胶,MASKactive,MASKActive,Si3N4,-,17,NtypeSi,SiO2,Pwell,SiO2,光刻胶,光刻胶,MASKactive,MASKActive,Si3N4,-,18,NtypeSi,SiO2,Pwell,SiO2,光刻胶,光刻胶,Si3N4,-,19,NtypeSi,SiO2,Pwell,SiO2,场氧,场氧,场氧,Pwell,Si3N4,-,20,NtypeSi,SiO2,Pwell,场氧,场氧,场氧,Pwell,-,21,NtypeSi,SiO2,Pwell,SiO2,场氧,场氧,场氧,Pwell,poly,-,22,active,pwell,PwellActivePolyN+implantP+implantOmicontactMetal,-,23,NtypeSi,SiO2,Pwell,SiO2,MASKpoly,场氧,场氧,场氧,Pwell,poly,光刻胶,-,24,NtypeSi,SiO2,Pwell,SiO2,MASKpoly,场氧,场氧,场氧,Pwell,光刻胶,poly,-,25,NtypeSi,SiO2,Pwell,SiO2,场氧,场氧,场氧,Pwell,poly,-,26,NtypeSi,SiO2,Pwell,SiO2,场氧,场氧,场氧,Pwell,poly,-,27,active,pwell,poly,PwellActivePolyN+implantP+implantOmicontactMetal,-,28,NtypeSi,SiO2,Pwell,SiO2,MASKN+,场氧,场氧,场氧,Pwell,poly,光刻胶,-,29,NtypeSi,SiO2,Pwell,SiO2,场氧,场氧,场氧,Pwell,光刻胶,poly,N+implant,-,30,active,pwell,poly,P+implant,Pwel
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