工序能力分析

第三单元、工程能力分析、编者：赵慎平、单元目标、工程能力分析知道如何进行合理抽样判定多变异分析数据的正规类型的简单方法是Cp、Cpk知道数值数据的工程能力分析方法，编者：赵慎平、工程能力是什么？ 影响工程质量的6个基本因素(6M )人(Manpower )机械(Machinery )材料(Material )方法(Method )测量(Measurement )环境(mother-nated )，编辑：赵慎平，什么是工程能力？ (接下来)随机性变异-系统性变异(非随机性变异) 2，工序仅受随机性因素影响时，质量特征值一般遵循正态分布(中心极限定理)，如下图所示：编辑者：赵慎平，工序能力是什么？ (续)，编辑：赵慎平，什么是工程能力？ (接下来)工序能力=B=3=3S，编者：赵慎平，分析工序能力的步骤1，确定样本含量(n)2，确定合理的取样方案3、取样4、记录数据5，制作直方图6，检查数据的正规性7，检查系统要素8是否存在，检查工序能力9 编者：赵慎平，样品含量和工艺能力，1，进行工艺能力分析时，一般随机抽样样品含量在100200之间。 2 .样品含量过小，难以判定数据分布的正态性，同时计算出的工程能力与实际工程能力之间的差异较大。 一般情况下，破坏检查和采样费用高，仅在采样时间长的情况下使用小样本。 3、不论样品含量大小，样品必须是随机的。 4、样品可捕获主要随机性变异。 编者：赵慎平，合理抽样方案，1，合理抽样可捕获工程过程中的随机性变异2，合理抽样无系统变异抽样时，应注意以下几点： 1，谁测定的数据？ 2 .测量仪器是否经过校准？ 3、数据收集后的工程有变化吗？ 4、是否记录了影响工序输出的重要影响因素的变化？ 5、数据收集的时间、工序、目的、抽样方式。 编者：赵慎平、多变异分析、三种变异产品内变异产品间变异时间变异多变异分析是确定合理抽样方案的分析工具，通过多变异分析发现主要变异源，保证抽样能捕获主要随机变异。 编者：赵慎平，多变异图的制作按照以下顺序进行，1，描绘x轴和y轴。 y轴为质量特性值：x的x轴表示按时间提取的样本编号。 在不同的时间点划分区域，并在每个区域的x轴上标记样本编号。 2 .从第一个时间点提取的第一个样本开始，在x轴上找到相应的点，从一个样本上的一些测量值的最大值和最小值创建垂直线图，求出其平均值，直到绘制了所有样本的线为止。 编者：赵慎平，多变异图的制作按以下步骤进行(续)，3、连接相邻两个样本的平均值各一个，样本间的平均值变动表示产品间的变异，各样本的线高表示产品内的变异。 4 .单独计算每个时刻的样本观测值的平均值，找出对应于y轴的数值并画出水平线，指示该时刻的平均值、各时刻的平均值之差，即时间变动。 5、显示多变异图的数据源、描绘目的、时间、采样人、描绘人等信息。编者：赵慎平，多变异分析例，某轴承车削工序加工的轴径为被动，为分析波动源，进行多变异分析，质量工程师们选择了3个时点，分别为8:00AM、l0:00AM、12:00AM，在各时点连续抽取3根轴，分别从各轴抽取选择该测定结果，根据下一页的表：编辑者：赵慎平、多变异分析例(续)、编辑者：赵慎平、编辑者：赵慎平、多变异分析确定合理的取样方案，如果产品内的测定点个数(a):存在产品内变异，则按产品至少测定2点： 一次提取的产品个数(b):至少提取3个以上，产品间的变异较大时，一般为1020，进一步提取较多。 编者：赵慎平，通过多变异分析确定合理的采样方案(续)，采样时间点(k):一般为3个以上，如果采样的目的是研究变异源，则可以采取多少时间：一般时间点不多，时间宽度不太长此外，多变异分析结果表明时间变异较大时，说明工序不稳定，分析是否有系统原因，排除系统原因后重新取样。 样品含量=abk，编者：赵慎平，练习1制作多变异图，某锡桨印刷工序控制PCB板上锡桨高度，为研究锡桨高度的变异情况，从各PCB板中选取以下多变异分析：个测点，测定其锡桨高度。 选择8:00AM、10:00AM、12:00AM这3个时刻，在各时刻连续提取3张PCB基板。 测量结果如下表所示。 请制作多变异分析图。 编者：赵慎平，多变异图(续)，编者：赵慎平，根据直方图判断是否正态分布，编者：赵慎平，一些非正态分布直方图，编者：赵慎平，一些非正态分布直方图(续)，编者：赵慎平，一些非正态分布直方图(续)，编者若干非正态分布直方图(续)、编者：赵慎平若干非正态分布直方图(续)、编者：赵慎平、若干非正态分布直方图(续)、编者：赵慎平、非正态数据处理能力、如果数据是非正态分布，应首先检查工序是否有系统原因如果发现系统原因，应采取措施删除系统原因发生的数据，或排除系统原因后，重新收集数据。 非正规性起因于过程中特殊过程的特征，因此必须考虑将非正规数据进行正规变换。 在这种情况下，公差也必须同等转换。 一些非正规数据的正规转换方法：编者：赵慎平，非正规数据处理能力(续)，1，倒数转换： 2，平方根转换： 3，立方根转换： 4，对数转换： logx或lnx5，BOXCOX转换*，编者：赵慎平， 非正态分布-右偏置可分布的原因：在某些可能的原因：由于公差下限的限制丢弃了左侧的数据工序分布右偏置(例如由于刀具、夹具等的磨损)工序过程的特性，如果右偏置状态是由于过程本身的特性，则可以尝试进行以下转换： (1) logx或lnx，编者：赵慎平，非正态分布- -控制左偏置状态分布的某些可能原因：控制公差的上限右侧的某些数据被丢弃(或有意丢弃)工序分布的左偏移(例如由于刀具、夹具等的磨损)工序过程的特性、 如果右偏移状态取决于过程本身的特殊性，则可以尝试以下转换： (3)、logx或lnx、编者：赵慎平、非正态分布-双峰型分布、双峰型分布的一些可能原因采样方案不合理：采样时有两条不同的生产线采样间隔长，流程不稳定如果是来自供应商的采样数据，供应商事先检查的可能性高。 正常的生产过程一般不是双模态分布，如果数据有双模态分布，必须立即调查原因。 编者：赵慎平，非正态分布-扁平型，若干可能原因：工序参数调整误差大，且频繁调整工序变动大机械(或工具、夹具)严重磨损，影响精度特殊工艺编者：赵慎平，非正态分布-尾部被切除， 样品数据中超公差部分被丢弃了仅从合格产品中抽样不合理的样品含量过小发现该分布后，必须立即调查原因。 编辑者：赵慎平，工程能力指数Cp和Cpk，编辑者：赵慎平，单测公差工程能力指数Cpu和Cpl，编辑者：赵慎平，单测公差工程能力指数Cpu和Cpl (续)，编辑者：赵慎平，Cpk计算，1，仅右单侧公差USL:Cpk=Cpu。 2、左侧公差LSL:Cpk=Cpl3，双侧公差：编者：赵慎平，计算Cpk (续)，公差中心，LSL，USL， 编者：赵慎平，Cpk计算(续)，编者：赵慎平，练习3计算Cp和Cpk，编者：赵慎平，摩托车Cp和Cpk的目标Cp2.0 cpk1.5，公差范围为6或6以外，dpmo3.44， 编者：赵慎平，摩托罗拉Cp和Cpk的目标(续)，编者：赵慎平，计数数值数据的工序能力分析，一部分工序过程，其输出不能用计量值数据测定，工序质量的判定用有无缺陷来测定。 例如：在某个PCB板的插入工序中抽出200张PCB板，发现了50个缺陷，因此DPU=50/200=0.25，编者：赵慎平，计数值数据工序能力的分析(续)DPU能够反映工序质量的高低，但不能表示工序的相对质量的高低。 在向同一PCB基板插入部件的工序的情况下，a工序插入100个部件，与此相对，b工序只插入10个部件。 在DPUA=0.1、DPUB=0.05的情况下，不能简单地说b工序的质量水平高于a工序。 定义、编辑：赵慎平，数值资料作业能力分析(续)，应根据其具体程序，确定单位产品发生瑕疵的机会，一般而言，瑕疵机会包括零件