晶体的电光效应.doc

1、晶体的电光效应基础物理实验研究性报告晶体的电光效应第一作者：周坤学号： 141511442016年5月12日基础物理实验研究性报告摘要本文以“晶体电光效应”实验为研究内容，先介绍了实验目的，实验仪器，实验的基本原理与实验步骤，进行了数据处理与结果分析，并做了相对误差分析，最后得出几点自己对实验的感想。关键词：晶体的电光效应激光调制 半波电压目录摘要 .1一 实验目的 .2二 实验仪器 .2三 实验原理 .31. .LN晶体的线性电光效应 32电光调制原理.4四 实验步骤 .61. 调整光路系统.62. 依据 3 LiNbo 晶体的透过率曲线 ( 即 T-V 曲线) ，选择工作点。测半波电压。

2、. . 71） 极值法72） 调制法73）改变直流偏压，选择不同的工作点，观察正弦波电压的调制特性。.74） 用 1/4 波片来改变工作点， 观察输出特性。81基础物理实验研究性报告五 实验数据处理与分析81. 电光调制82. 动态法观察调制器性能.103. 测量半波电压10六 误差讨论与分析111. 输出波形畸变产生原因 . .112. 实验数据误差产生的原因 . .11七 实验总结与感想11一 实验目的1. 掌握晶体电光调制的原理和实验方法；2. 了解电光效应引起的晶体光学性质的变化，观察汇聚偏振光的干涉现象；3. 学习晶体半波电压和光电常数的实验方法。二 实验仪器偏振片、扩束镜、铌酸锂电

3、光晶体、光电二极管、光电池、晶体驱动电源、光功率计、 1/4 玻片、双踪示波器2基础物理实验研究性报告三 实验原理1. LN 晶体的线性电光效应当晶体处在一个外加电场中时。晶体的折射率会发生变化，改变量的表达式为：1112(n2)n2n02E pE L L（1）其中 n 是受外场作用时晶体的折射率，n0 是自然状态下晶体的折射率， E 是外加电场强度，和 p 是与物质有关的常数。（ 1）式右边第一项表示的是线性电光效应，又称为普克尔效应，因此 叫做线性电光系数；第二项表示的是二次电光效应，又称为克尔效应，因此 p 也叫做二次电光系数。本实验只涉及到线性电光效应。LN 晶体通常采用横向加压，z

4、向通光的运用方式，即在主轴y 方向加电场 Ey 而 Ex= Ez = 0 ，有外电场时折射率椭球的主轴一般不再与原坐标轴重合。将坐标系经过适当的旋转后得到一个新的坐标系（x， y， z），使折射率椭球变为：x 2y 2z 21nx2ny2nz2（2）这里 nx 、ny 、nz 是有电场时的三个主折射率。 叫感应主折射率， 坐标系（ x，y，z）叫感应主轴坐标系。在（ xyz ）坐标系中，折射率椭球的方程为 :121212（ 3）no 222 Ey x no222 Ey y ne2z1将（ 3）式同（ 2）式比较，就可得出：1111,nx2no222 Ey2222 Eynenynonz，一般情况

5、下有22 E y 0时，当光强最大时， 测一组最大值，然后改变极性，最大时再测一组数据，两个极大之间对应的电压之和就是半波电压的两倍，多次测量取平均值，可以减少误差。2） 调制法晶体上直流电压和交流正弦信号同时加上，当直流电压调到输出光强出现极小值或极大值对应时，输出的交流信号出现倍频失真，通过示波器可看出。出现相邻倍频失真对应的直流电压之差就是半波电压。具体做法是：把电源前面板上的调制信号“输出”接到双踪示波器的 y1上，经放大后的调制器的输出信号接到示波器的 y2上，把 y1,y2 上的信号做比较，将检偏器旋转 90 度，当晶体上加的直流电压缓慢增加到半波电压时，输出出现倍频失真；改变晶体

6、上电压的极性后，电压加到半波电压时，又出现倍频失真，相继两次出现倍频失真时对应的直流电压值之差就是半波电压。 这种方法比极值法更精确， 因为用极值法测半波电压时，视觉很难准确的定位极大和极小值，因而误差较大。3）改变直流偏压，选择不同的工作点，观察正弦波电压的调制特性。电源面板上的信号选择琴键开关可以提供三种不同的调制信号，按下“正弦”键，机内单一频率的正弦波振荡器工作，此信号经放大后，加到晶体上。同时，通过面板上的“输出”孔，输出此信号，把它接到双踪示波器的y1上，作为参考信号。改变直流偏压，使调制器工作在不同的状态，把被调制信号经光电转换，放大后接到双踪示波器 y2 上，和 y1上的参考信

7、号比较。工作点选定在曲线的直线部分，即附近时线性调制；工作点选在曲线的极小值（或极大值）附近时，输出信号“倍频”失真；工作点选定在极小7基础物理实验研究性报告值（或极大值）附近时输出信号失真，观察时调制信号幅度不能太大，否则调制信号本身失真，输出信号的失真无法判断有什么原因引起，把观察到的波形描下来，并和前面的理论分析做比较。做这步实验时把电源上的调制幅度、调制器上的输入光强、放大器的输出、示波器的增益 ( 或衰减 ) 这四部分调好，才能观察到很好的输出波形。4） 用 1/4 波片来改变工作点，观察输出特性。在上述实验中，去掉晶体上加的直流偏压，把1 4波片置入晶体和偏振片之间，绕光轴缓慢旋转

8、时， 可以看到输出波形随着发生变化。当波片的快慢轴平行于晶体的感应轴方向时，输出光线性调制；当波片的快慢轴分别平行于晶体的x,y 轴时，输出光失真，出现 “倍频 ”失真。因此，把波片旋转一周时，出现四次线性调制和四次“倍频 ”失真。实验证明，通过晶体上加直流偏压可以改变调制器的工作点，也可以用1 4波片选择工作点，其效果是一样的，但两种方法的机理是不同的。五 实验数据处理与分析1. 电光调制项目最大功率对应电压 /V最小功率对应电压 /V数值取值690-7231347-1352706.51349.5最大功率对应的倍频失真波形图8基础物理实验研究性报告最小功率对应的倍频失真波形图由极值法可得半波

9、电压=1349.5-706.5=643 V晶体基本物理量：dl5mm30mm632.8nm2.286649.2V由此计算得出晶体的电光系数为:=6.86m/V9基础物理实验研究性报告2. 动态法观察调制器性能原始数据第一次722V21312835303最大振幅时714V25716882335由上表可知：去掉直流偏压后把 1/4 波片放上后，绕光轴缓慢旋转，可以看到输出信号随着发生变化， 其现象与改变直流偏压效果相同。 每次实验中相邻两次倍频失真的角度差大约为90 ，可知 1/4 波片的= ，与理论值比较接近，可以验证。当第二次取下波片，调到最大振幅后再放上波片后，相邻的角度差依然很接近90 ，

10、而且与第一次对应的度数差很接近45 。这与计算结果符合的很好，验证了推导。3. 测量半波电压原始数据164281361428513/V9041020111011861286/V740739749758773/V用线性回归处理数据：令y= ,x=, 经 SPSS分析得到线性回归方程为：a=717.957b=1.097y=1.097x+717.957由此可知：=717.957 V(b)=s(b)=b=0.02004=s(a)=* (b)=7.404因此 ( )= (a)= 7.404最终结果表示为：( )=(717) V10基础物理实验研究性报告相对误差：10.4六 误差讨论与分析1. 输出波形畸

11、变产生原因根据理论计算，当 V=0时， T应当为极小值（ T=0），然而从实验测量出的 T-V图中可以发现，当 V=o时， T不为零，且极小值也不出现在 V=0处，对此我们可以归纳出以下几种可能原因：1）光路调节存在缺陷，没有严格的与导轨平行，使光严格没有垂直入射。所以，有一部分光线透过，使曲线右移。2）由于在调试前后两个偏振片过程中，难以保证其起偏方向完全垂直，这就导致了极小值点偏离 V=0点。3）由于工艺上的原因，前后两个偏振片即使在完全垂直的情况下，也不可能完全消光，总会有光线透过，因此，极小值点之值大于零。4）晶体自身生长不均匀，入射光通过时光路改变造成零值点右移。2. 实验数据误差产

12、生的原因1）光路调节不好，偏振片偏正方向在正交时消光不完全，使实验结果产生误差；2）仪器引起的误差。如电压源输出电压不稳定，在实验过程中（个人，不知道是不是普遍现象），在不受控制的情况下，有不断退回的情况（有一次从620v 一直退回到100v，并且还有退回的趋势） 。在电压退回后，调节电压到原电压值，所测得的功率值较退回前明显偏低，造成实验误差。3）测量误差。在动态法观测调制器调制特性试验中，最小失真点、振幅最大点、倍频失真点的测量存在一个波动范围，造成测量误差。七 实验总结与感想通过本实验，我基本掌握了晶体电光效应的实验方法。刚开始做实验的时候，因为上学期做过有关示波器的实验和这学期的电气实验也熟悉过示波器，所以对基本的示波器原理还有一些经验， 但对于光路调节没只有在书上看到过示意图，所以还不是很熟悉，11基础物理实验研究性报告对各种光路仪器的用处都不了解， 但后来在老师的讲解下才懂得了其使用方法。 我觉得这是因为预习不够充分引起的， 一方面对仪器的原理了解不够， 一方面没有考虑到仪器的具体使用。做物理实验首先要理解其原理， 再者怎么样利用实验仪器测出自己所需要的数据，如果不知道测什么，那么做实验也是白做的。相对于仪器的使用方法，我认为运用电光效应的思想方法更加重要。 刚开始按照讲义上的方法去消光， 发现很难完全消光，通过李朝荣老师的讲解，