IC芯片检验标准与规范

1、XXXX股份有限公司文件编号版次原材料检验标准与规范修订码生效日期2016原材料名称：IC芯片页码1/4修订记录修订页修订码修订内容修订确认修订日期全部0新发行文件盖红色“受控文件”印章，随时保持最新版本；未经总经理批准，不得外借、复印或用于其他目的。文件正式审批编制部门编制审核批准XXXX股份有限公司文件编号版次原材料检验标准与规范修订码生效日期2016原材料名称：IC芯片页码2/4品质部品质咅B第6页1. 引用标准GB2828.1-2003逐批检验计数抽样程序及抽样表（适用于连续批的检验）2. 合格质量充收水准1.抽样方案：根据GB2828.1-2003 般检验H级水平（LEVEL及正常检

2、验一次抽样方案2 .合格质量水平（AQL :A类不合格:严重缺点（CRI)AQL:0B类不合格:主要缺点（MAJAQL:0.65C类不合格:次要缺点（MIN)AQL:1.03. 常规项目检验标准及检验方法检验项目抽样水平检验方法检验标准不良描述不良判定检验工具CRMAMI外 观外包装全数包装目视全数外包装圭寸装形式正确，无混料，包装 型号生产批号标识明确封装与资料不符，有混料， 包装型号与生产批号无明 确标识V1.0以上视力外包装完好无破损，内包装为 密封式包装，标识与实物相符外包装有破损，内包装与 要求包装方式不符，包装 标识与实物不符V摆放整齐无散乱现象摆放零乱V本体表面一般抽验正常光线下

3、检查本体表面光滑、无破损、毛刺、裂纹、 压伤或刮伤等不良本体表面粗糙，有破损、 毛刺、裂纹、压伤或刮伤等不良V1.0以上 视力静电环印字清晰明确印字模糊不清晰VXXXX股份有限公司文件编号版次原材料检验标准与规范修订码生效日期2016原材料名称：IC芯片页码3/4检验项目抽样水平检验方法检验标准不良描述不良判定检验工具CRMAMI外观本体表面一般抽样正常光线下检查本体表面品牌、规格一致，无混装且与 资料相符品牌、规格不一致，有混 装现象，与资料不符V1.0以上 视力静电环背部平须平滑，不应有凹凸不 平现象背部粗糙有凹凸不平现象V引脚一般抽样正常光线下检查引脚表面引脚光亮，不应有氧化现象且 排列

4、整齐，成直线无弯曲现象引脚灰暗，有氧化现象且 排列不整齐，有弯曲现象V1.0以上 视力静电环尺 寸本体一般抽样用卡尺测得主体长宽高或与 样品对比主体长宽高应符合装配或样 品要求主体长宽咼应不符合装配 或样品要求V卡尺 静电环引脚一般抽样用卡尺测得引脚长宽高及间 距或样品对比引脚长宽高及间距符合装配 或样品要求弓1脚长宽咼及间距不符合 装配或样品要求V卡尺 静电环匹配试验1-2PCS将IC芯片试装于所使用的PCB板 中与PCB板完全匹配与PCB不匹配或很难装入VPCB板静电环XXXX股份有限公司文件编号版次原材料检验标准与规范修订码生效日期2016原材料名称：IC芯片页码4/44. 特殊项目检验

5、标准及检验方法4.1IC材质保证：冋一材质物料，供应商须向我司提供原胶料出厂材质证明书；每年核查一次，无材质证明书按MA判定处理。4.2IC例仃检验，供应商母半年提供 次检测报告于我司；4.3环境管理物质检验：4.3.1环境管理物质管控项目：环境管理物质管控项目：RoHS、PAHS PHTS SVHC无卤素等（客户有要求时管控）4.3.2 ROHS六项检验：每批来料抽取足量样品送 XRF检测,XRF检测结果判定依亿邦公司XRF限值标准进行判定.4.3.3环境管理物质管控：供应商向我司签定环保协议书，提供权威性第二方检测机构出具之检测报告，亿邦公司要求检测 报告有效期为 年，并通过我司综合评估，符合我司环保合格供应商标准要求，列入亿邦公司合格环保供应商名录；来料检验时，供应商右不属于环保合格供商名录则CRI判疋处理。5. 检验环境5.1在本标准中，除气候环境试验和可靠性试验外，其他试验均在下述正常大气条件下进行：温度：1035C相对湿度：35%75