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文档简介

(三)晶粒大小,微应变及其它微结构测定 利用峰宽函数 H g = u tan2 q + v tanq + w H l = r secq u与微应变相关,r和晶粒大小相关,v、w和仪器 因素相关 用无结构宽化样品,拟合得u1, v1, w1, r1 有结构宽化样品,固定v1, w1,精修u1, r1 均方根应变: erms = p u2 - u1 720· 2 ln a 180 l D = ( 平均晶粒大小: p r2 - r1 例: (1五元掺杂ZnO压敏陶瓷的表征 程序RIETQUAN(Luca Lutterrott 结果: (2KAlF4中反相畴的研究 TlAlF4及KAlF4结构见下图 KAlF4的结构是用粉末测定.Al-F八面体绕 四次轴转了一个j角 R因子不好,因舍弃部分宽化严重的峰 同时使用XPD和NPD进一步研究,宽化峰 不舍弃 用八面体正反两向转动可以很好解释,存在 着反相畴

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