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1、【硅局部氧化】硅局部氧化硅局部氧化技术的原理是:在特定的区域有选择地生成场氧化物,而不是在氧化物生成后有选择地刻蚀出有源区。通过在氧化过程中用氮化硅(一般为Si3N4)屏蔽有源区可以实现有选择地生长氧化物。这是因为(Si3N4)能有效抑制氧化物的形成。首先,在硅表层形成一层很薄的氧化物垫层(又叫应力释放的氧化层)。紧接着淀积氮化硅层并成型以确定有源区。氮化硅下面的薄氧化物垫层用来保护硅表面,使其在后面的工序中不受氮化物产生的应力的影响。在硅表层上用来产生隔离区的暴露区域中,通过p型掺杂形成环绕晶体管的沟道停止注入。硅局部氧化(LOCOS=LOCLOCal O Oxidation of S Si
2、licon)硅局部氧化技术的原理是:在特定的区域有选择地生成场氧化物,而不是在氧化物生成后有选择地刻蚀出有源区。通过在氧化过程中用氮化硅(一般为Si3N4)屏蔽有源区可以实现有选择地生长氧化物。这是因为(Si3N4)能有效抑制氧化物的形成。v 首先,在硅表层形成一层很薄的氧化物垫层(又叫应力释放的氧化层)。紧接着淀积氮化硅层并成型以确定有源区v 氮化硅下面的薄氧化物垫层用来保护硅表面,使其在后面的工序中不受氮化物产生的应力的影响。在硅表层上用来产生隔离区的暴露区域中,通过p型掺杂形成环绕晶体管的沟道停止注入在没有覆盖氮化硅的区域生成一层厚的场氧化物,由于热氧化作用要消耗掉一部分硅,所以场氧化物是部分凹进硅表层中的。此外,场氧化物在氮化硅层下面会形成侧向的延伸部分,称为鸟嘴区。这种侧向的侵蚀会导致有源区减小。通过刻蚀氮化硅层和氧化物垫层形成部分凹进的场氧化物包围的有源区。硅局部氧化v 在没有覆盖氮化硅的区域生成一层厚的场氧化物,由于热氧化作用要消耗掉一部分硅,所以场氧化物是部分凹进硅表层中的。此外,场氧化物在氮化硅层下面会形成侧向的延伸部分,称为鸟嘴区。这种侧向的侵蚀
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