16位工业级通用单片机应用笔记

1、V1.1Nov23, 2005中文版19, InnovationRoad Science Park Hsin-Chu 300 R.O.C.: 886-3-578-6005 Fax: 886-3-578-4418:.cn HYPERLINK http:/w/ http:/whttp保留对此文件修改之权利且不另行通知。可靠之信息，但并不保证本文件中绝无错误。请于向所提供之信息相信为正确且提出订单前，自行确定所使用之相关技术文件及规格为之版本。若因贵公司使用本公司之文件或产品，而涉及第三人之专利或著作权等智能权之应用及配合时，则应由贵公司负责取得同意及，本公司仅单纯贩售产品，上述关于同意及，非属本公

2、司应为保证之责任。又系统及飞航等相关设备。之正式，本公司之所有产品不得使用于医疗器材，维持生命 Sunplus Technology Co.,.PAGE 1V1.1 Nov 23, 2005页1系统概要11.1 过载保护.2控制和状态寄存器1采样计数的设置22程序范例42.12.2说明4程序设计.2程序范例4子函数分析52.3操作流程图62.3.1主程序流程62.4初始化流程63实验测试实验硬件7正常情况7过载输入84参考文献9 Sunplus Technology Co.,.PAGE 2V1.1 Nov 23, 2005目录 Sunpl

3、us Technology Co.,.PAGE 3V1.1 Nov 23, 2005日期版本编写及修订者编写及修订说明2004/12/031.0初始版本2005/11/231.1错误校正修订1 系统概要1.1过载保护SPMC75F2413A包含有过载保护电路。当引脚(OL)拉低时，该电路开始工作。信号通过FCK/4 时钟采样。采样个数可以从 0 到 15。有三种方法可以解除过载保护：由定时器比较匹配，延时或自动。当已经恢复使可以使用以上三种方法。在过载保护期间可以设置为不任何相位的输出，所有相位的输出，相位的输出或所有的高/低相位依据其有效性被输出。方式是由(P_OLx_Ctrl.OLMD,

4、x = 1, 2)选择的，电机驱动位置于无效的电平。输出在被之前是由他们的瞬时开启状态决定的。被的相位意味着将相1.1.1控制和状态寄存器P_OL1_Ctrl($7468):过载输入 1 控制和状态寄存器P_OL2_Ctrl($7469):过载输入 2 控制和状态寄存器第 15 位 OLEN: 过载保护使能。该位使能/0 1 使能第 14 位 CNTSP: 在过载保护期间停止 不停止 停止计数过载保护电路工作。计数器(T，x=3/4)工作第 13:12 位 OLMD:在过载保护期间输出相位000110无相位所有相位都相位（关闭状态） Sunplus Technology Co.,.PAGE 1

5、V1.1 Nov 23, 2005B7B6B5B4B3B2B1B0RRRRR/WR/WR/WR/W00000000OOLIF保留TB15B14B13B12B11B10B9B8R/WRWR/WR/WR/WR/WR/WR/W00000000OLENCNTSPOLMDOLSTRTTMBRTRTOL11 所有高低相位依照相位有效性被第 11 位 OLST: 过载保护状态。该标志指示了过载保护电路的状态不工作在保护状态下第 10 位RTTMB：P_TMRx_TGRB (x = 0, 1)寄存器比较匹配后，过载保护。01无动作P_TMRx_TGRB (x = 0, 1)寄存器比较匹配后，过载保护第 9 位

6、RT0 1 ：延迟个周期无动作当 OL 脚恢复到。时，再经过一个周期过载保护，当选择此种方式过载保护，请将 CNTSP 位设置为不停止计数第 8 位RTOL：自动过载保护。01O无动作 当 OL 脚恢复到: 过载中断使能位时，过载保护，输出信号第 7 位0 1 使能第 6 位OLIF:0 1 过载中断标志。该标志表明了过载情况是否已经发生。写“1”清除该标志没发生发生过第 5:4 位保留第 3 :0 位T: 采样计数选择。用于为外部错误输入信号选择采样计数。错误输入信号必须连续的采样计数中与设置的数值相匹配，这时才算作有效的错误输入信号。采样计数设置的有效值为从 1 到 15 次。注意 0 和

7、 1 都将被认为是一次。1.1.2采样计数的设置T 的设置是一种采样计数选择的设计，选择合适的参数可以抑制在过载发生有效T9，采样计数的工作原理示意图如图 1信号的输入中所出现的窄脉冲干扰信号。如果设置1 所示。0 0 12 3 4 5 60 00 00 0 0 1 2 3 4 56 78 9 00 0 0 0 OL1abc图 11图 12采样计数脉冲从图 11 可以分析采样计数的具体工作原理，在 OL1 管脚上 a 点采样时出现有效电平（低电平），接下来的连续采样过程中将有一个计数的动作，如果连续 9 次采样，即到 b 点，过载输入信号 Sunplus Technology Co.,.PAG

8、E 2V1.1 Nov 23, 2005d仍是低电平，那么认为错误输入信号是有效的。从图 11 不难看出这样对干扰信号的抑制的原理，如图 12 所示。在 OL1 管脚上 c 点采样时出现低电平，接下来的连续采样过程中将有一个计数的动作，连续计数的过程中在 d 点采样时发现 OL1 管脚又恢复了。那么计数器将复位，而认为这个低电平脉冲是个干扰信号，不做进一步的处理。可以看出采样计数就是这样达到对窄脉冲干扰的抑制。采样计数的时钟是FCK/4，如果系统时钟为 24MHz，则可以计算出在设置最大和最小的T值时在 OL1 管脚上可以有效抑制的窄脉冲频率：FCK/4 和 15*FCK/4，即 6MHz 和

9、 0.4MHz。可以T 的值，达到有效保护功率器件的作用。根据功率器件的性能合适的选择 Sunplus Technology Co.,.PAGE 3V1.1 Nov 23, 20052程序范例2.1说明SPMC75F2413A 在对电机的驱动过程中提供的保护本应用例涉及到过载保护的应用。过载保护是一种的保护功能，在电的运行过程中可以允许电的适当过载，但过载太多或长时间的过载对电机是十分不利的，所以在设计中要考虑到这方面的状况对其加以保护。范例程序实现 S的产生或 120 度上相信号的产生（可选其一），当出现过载有效低电平输入的时候可以通过逻辑分析仪、示波器等辅助设备观察输出管脚的变化。2.2程

10、序设计2.2.1程序范例程序以产生 S信号，自动返回模式为例：#include Spmc75 regs.h #include Spmc typedef.h #include unspmacro.hmain()Disable IRQ(); Timer3_Sinusoidal_Init(); /初始化产生 STimer3_Overload_Init();/初始化过载保护功能 Enable IRQ();while(1)NOP();/=/ Description: IRQ0errupt source is,used to/ Notes:/=void IRQ0(void)attribute(ISR);

11、void IRQ0(void)if(PSus-B.OLIF)if(P OL1 Ctrl-B.OLIF)P OL1 Ctrl-B.OLIF = 1; /清除过载状态标志 Sunplus Technology Co.,.PAGE 4V1.1 Nov 23, 20052.2.2子函数分析 Sunplus Technology Co.,.PAGE 5V1.1 Nov 23, 2005/=/过载保护初始化子函数/=/void Timer3 Overload Init(void)P OL1 Ctrl-W = 0;/*/ 四个方式选择一种/=/ Description: IRQ3errupt source

12、is,used to/ Notes:/=void IRQ3(void)attribute(ISR); void IRQ3(void)/*=*/*Timeriod Register outpompare match/*=*/ if(P TMR3 Sus-B.TPRIF & P TMR3-B.TPRIE)Timer3_Sinusoidal_ISR();/S产生中断服务P TMR3 Sus-W = P TMR3 Sus-W;2.3操作流程图2.3.1 主程序流程程序首先对 S产生输出用到的硬体和过载输入保护功能初始化，而后循环，可以处理其它的用户功能程序。流程图如图 21 所示。程序初始化产生S【A

13、PI:Timer3_Sinusoidal_Init()】图 2-1 主程序流程2.4初始化流程SPMC75F2413A 过载输入保护的初始化包括输出比较和过载输入保护的初始化。初始化流程如图 22 所示。程序对P_OLx_Ctrl(x=0/1)操作IOB_SPE/P_IOC_SPE操作过载输入管脚特殊功能使能程序出口图 2-2 初始化流程 Sunplus Technology Co.,.PAGE 6V1.1 Nov 23, 2005对P_设置方式、返回方式、采样计数、中断使能和功能使能其它功能程序初始化错误功能保护【API:Timer3_Overload_Init ()】P OL1 Ctrl-

14、T = 10;P OL1 Ctrl-B.O= 1;/中断使能P OL1 Ctrl-B.OLIF = 1;/清除中断标志P OL1 Ctrl-B.OLEN = CB TMR3 OPR OLEN;/过载保护功能使能P IOB SPE-W |= CW IOB OL1 SFR EN;/过载保护引脚特殊功能使能3实验测试实验测试主要是观测当过载产生时 S的输出样的变化。3.1实验硬件本应用例旨在学习和参考，所以可以脱离复杂的硬件，只需要简单给个模拟的位置信号就可以完成测试。当按键按下的时候出现低电平，低电平的出现将表示有效的过载信号的产生。硬件连接如图 31 所示。VCCR1 10KIOB0/W1N IOB1/V1N IOB2/U1V IOB3/W1 IOB4/V1IOB5/U1示波器或逻辑分析仪等OL1S1SPMC75F2413A图 31 硬件连接其中 S1 按键用来模拟错误信号的产生，低电平有效。3.2正常情况正常情况下 U1、V1、W1、U1N、V1N 和 W1N 六路信号是 S信号输出，如图 32 所示。图 32正常情况状态 Sunplus Technology Co.,.PAGE 7V1.1 Nov 23, 20053.3过载输入当 OL1 管脚有短暂低电平（有效电平）时，OLMD2 设置为信号如图 33 所示